本技术涉及显示，尤其涉及一种显示单元的缺陷检测方法及装置。
背景技术：
1、显示屏在现代电子设备中被广泛应用，而显示屏的质量问题是影响其性能和使用寿命的重要因素之一。在显示屏的生产过程中，由于生产工序或工艺的原因，导致显示屏在点亮状态下，存在大量亮度不均匀的异常点(亮的或暗的可能都有)，且有一定的聚集性，视觉上呈现麻点(椒盐)现象，严重影响显示屏的显示效果。为了保证显示屏的质量，对显示屏的麻点缺陷检测成为了显示屏生产过程中不可缺少的一环。
2、传统的显示屏缺陷检测方法是通过人眼观察检测麻点缺陷，但是人眼检测麻点缺陷的过程存在很强的主观性，检测结果准确率低，效率低而且无定量的数据描述。
3、综上，亟需一种高效、准确的显示屏麻点缺陷检测方法。
技术实现思路
1、本技术提供一种显示单元的缺陷检测方法及装置，解决了现有技术中对显示屏的麻点缺陷检测效率低下的问题。
2、为达到上述目的，本技术采用如下技术方案：
3、第一方面，本技术提供一种显示单元的缺陷检测方法，该方法包括：
4、获取待检测显示单元的初始图像，显示单元包括n个子区域，n为大于1的正整数。将初始图像进行图像预处理，得到待检测图像。待检测图像中包括麻点缺陷图像特征，麻点缺陷图像特征为待检测显示单元上亮度不均匀的异常灯点聚集形成的麻点缺陷区域对应的图像特征。根据待检测图像得到差分图像，差分图像中包括麻点缺陷图像特征对应的位置信息。根据麻点缺陷图像特征和麻点缺陷图像特征对应的位置信息，分别确定n个子区域中每个子区域的麻点缺陷区域。根据n个子区域的麻点缺陷区域和麻点缺陷图像特征，计算面积因子特征和对比度因子特征。根据面积因子特征和对比度因子特征计算麻点缺陷评价值，并基于麻点缺陷评价值对待检测显示单元进行等级划分。
5、上述技术方案通过获取显示单元的初始图像，根据显示单元的待检测图像和差分图像得到显示单元的面积因子特征和对比度因子特征，基于面积因子特征和对比度因子特征计算显示单元的麻点缺陷评价值，基于显示单元的麻点缺陷评价值对显示单元进行等级划分，使显示单元的缺陷检测更准确、高效。
6、在一些可能实现方式中，通过呈第一状态的图像采集设备获取第一初始图像，第一初始图像中的灯点分开，或者通过呈第二状态的图像采集设备获取第二初始图像，第二初始图像中的灯点粘连。基于此技术，在需要获取到的图像中的灯点清晰分开的场景下，能够通过呈第一状态的图像采集设备获取初始图像；在需要获取到的图像中的灯点模糊粘连的场景下，能够通过呈第二状态的图像采集设备获取初始图。
7、在一些可能实现方式中，在通过呈第一状态的图像采集设备获取初始图像的情况下，首先基于初始图像，逐灯点提取亮度数据，得到亮度数据图。然后基于亮度数据图，提取麻点缺陷图像特征。最后根据麻点缺陷图像特征，生成待检测图像。基于此技术，能够在通过呈第一状态的图像采集设备获取初始图像的情况下，进行显示单元缺陷检测。
8、在一些可能实现方式中，在通过呈第二状态的图像采集设备获取初始图像的情况下，首先基于初始图像，提取麻点缺陷区域，进行图像灰度化和滤波，得到滤波后图像。然后基于滤波后图像，提取麻点缺陷图像特征。最后根据麻点缺陷图像特征，得到待检测图像。基于此技术，能够在通过呈第二状态的图像采集设备获取初始图像的情况下，进行显示单元缺陷检测。
9、在一些可能实现方式中，根据n个子区域的麻点缺陷区域和麻点缺陷图像特征，分别计算n个子区域的面积因子特征和对比度因子特征。
10、在一些可能实现方式中，根据n个子区域的面积因子特征和对比度因子特征，分别计算n个子区域的麻点缺陷评价值，并基于n个子区域的麻点缺陷评价值分别对n个子区域进行等级划分。基于此技术，能够对显示单元的每个子区域单独进行等级划分。
11、在一些可能实现方式中，在根据n个子区域的麻点缺陷区域和麻点缺陷图像特征，分别计算n个子区域的面积因子特征和对比度因子特征之后，根据n个子区域的面积因子特征和对比度因子特征，计算显示单元的面积因子特征和对比度因子特征。根据显示单元的面积因子特征和对比度因子特征，计算显示单元的麻点缺陷评价值，并基于显示单元的麻点缺陷评价值对待检测显示单元进行等级划分。基于此技术，能够对整块显示单元进行等级划分。
12、在一些可能实现方式中，根据第一区域中麻点缺陷区域的面积得到第一区域的面积因子特征，第一区域为差分图像的n个子区域中任一个。根据第一麻点缺陷的像素均值得到第一麻点缺陷的对比度因子特征，第一麻点缺陷为第一区域中的多个麻点缺陷中任一个。根据第一区域的所有麻点缺陷的对比度因子特征得到第一区域的对比度因子特征。
13、在一些可能实现方式中，显示单元的面积因子特征为n个子区域的面积因子特征的均值。显示单元的对比度因子特征为n个子区域的对比度因子特征的均值。基于此技术，能够通过n个子区域的面积因子特征和对比度因子特征计算显示单元的面积因子特征和对比度因子特征。
14、第二方面，本技术提供一种显示单元的缺陷检测装置，显示单元包括n个子区域，n为大于1的正整数。装置包括：采集模块，图像处理模块，检测模块以及结果处理模块。采集模块，用于获取待检测显示单元的初始图像。图像处理模块，用于将初始图像进行图像预处理，得到待检测图像。待检测图像中包括麻点缺陷图像特征，麻点缺陷图像特征为待检测显示单元上亮度不均匀的异常灯点聚集形成的麻点缺陷区域对应的图像特征。还用于根据待检测图像得到差分图像。差分图像中包括麻点缺陷图像特征对应的位置信息。检测模块，用于根据麻点缺陷图像特征和麻点缺陷图像特征对应的位置信息，分别确定n个子区域中每个子区域的麻点缺陷区域。还用于根据n个子区域的麻点缺陷区域和麻点缺陷图像特征，计算面积因子特征和对比度因子特征。检测模块，还用于根据面积因子特征和对比度因子特征，计算麻点缺陷评价值。结果处理模块，用于基于麻点缺陷评价值对待检测显示单元进行等级划分。
15、其中，上述第一方面描述的方法可以通过硬件实现，也可以通过硬件执行相应的软件实现。硬件或软件包括一个或多个与上述功能相对应的模块或单元。例如，处理模块或单元、显示模块或单元等。
16、第三方面，本技术提供一种电子设备，电子设备包括处理器、处理器以及存储器中存储的计算机程序或指令，处理器用于执行计算机程序或指令，使得第一方面中的方法被执行。
17、第四方面，本技术提供一种计算机可读存储介质，其上存储有用于实现第一方面中的方法的计算机程序(也可称为指令或代码)。例如，该计算机程序被计算机执行时，使得该计算机可以执行第一方面中的方法。
18、第五方面，本技术提供一种芯片，包括处理器。处理器用于读取并执行存储器中存储的计算机程序，以执行第一方面及其任意可能的实现方式中的方法。可选地，芯片还包括存储器，存储器与处理器通过电路或电线连接。
19、第六方面，本技术提供一种芯片系统，包括处理器。处理器用于读取并执行存储器中存储的计算机程序，以执行第一方面及其任意可能的实现方式中的方法。可选地，芯片系统还包括存储器，存储器与处理器通过电路或电线连接。
20、第七方面，本技术提供一种计算机程序产品，所述计算机程序产品包括计算机程序(也可称为指令或代码)，所述计算机程序被电子设备执行时使得电子设备实现第一方面中的方法。
21、可以理解的是，上述第二方面至第七方面的有益效果可以参见上述第一方面中的相关描述，在此不再赘述。
1.一种显示单元的缺陷检测方法，其特征在于，所述显示单元包括n个子区域，n为大于1的正整数；所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取待检测显示单元的初始图像，包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，在通过呈第一状态的图像采集设备获取所述初始图像的情况下，所述将所述初始图像进行图像预处理，得到待检测图像，包括：
4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，在通过呈第二状态的所述图像采集设备获取所述初始图像的情况下，所述将所述初始图像进行图像预处理，得到待检测图像，包括：
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述n个子区域的所述麻点缺陷区域和所述麻点缺陷图像特征，计算面积因子特征和对比度因子特征，包括：
6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述面积因子特征和所述对比度因子特征计算麻点缺陷评价值，并基于所述麻点缺陷评价值对所述待检测显示单元进行等级划分，包括：
7.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，在所述根据所述n个子区域的所述麻点缺陷区域和所述麻点缺陷图像特征，分别计算所述n个子区域的所述面积因子特征和所述对比度因子特征之后，所述方法还包括：
8.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述根据所述n个子区域的所述麻点缺陷区域和所述麻点缺陷图像特征，分别计算所述n个子区域的所述面积因子特征和所述对比度因子特征，包括：
9.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，
10.一种显示单元的缺陷检测装置，其特征在于，所述显示单元包括n个子区域，n为大于1的正整数；所述装置包括：采集模块，图像处理模块，检测模块以及结果处理模块；
