一种测试用导电环结构的制作方法

    专利2025-11-15  4


    本技术涉及伺服电机轴电压释放性能的测试,更具体地说,本技术涉及一种测试用导电环结构。


    背景技术:

    1、导电环,通过柔性方式连接伺服电机的电机轴与外壳,形成一个低电阻导通.这个通路可以将电机轴工作时产生的能量释放至低电压端.使这部分能量不通过电机轴承释放,达到保护轴承的作用;为了展示安装有导电环的电机在使用时与没有安装导电环的电机在使用时二者之间的差异,所以需要进行测试,现有的方案在测试过程中,需要反复拆装导电环进行检测,无法时时的检测或比较难实现,在使用导电环和不使用导电环的情况的对比,因此,本申请提出一种测试用导电环结构以解决上述问题。


    技术实现思路

    1、为了克服现有技术的不足,本实用新型提供了一种测试用导电环结构,具有与实际应用更接近,数据准确率更高的优点。

    2、为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:包括第一壳体和第二壳体,所述第一壳体与第二壳体之间安装有第一导电半环和第二导电半环,所述第一导电半环和第二导电半环之间设置有与第一壳体固定连接的隔板;

    3、所述第一导电半环上固定连接有第一导线,所述第一导电半环上固定连接有第一导电纤维;

    4、所述第二导电半环上固定连接有第二导线,所述第二导电半环上固定连接有第二导电纤维。

    5、作为本实用新型的一种优选技术方案,所述第一壳体和第二壳体上均开设有缺口,所述第一导线和第二导线均穿过缺口。

    6、作为本实用新型的一种优选技术方案,所述第一壳体、第二壳体和隔板均采用绝缘材料制成,所述第一壳体和第二壳体组合成绝缘外壳。

    7、作为本实用新型的一种优选技术方案所述第一导电纤维固定连接在第一导电半环的内侧,并贯穿第一壳体且向中心位置延伸;

    8、所述第二导电纤维固定连接在第二导电半环的内侧,并贯穿第一壳体且向中心位置延伸。

    9、作为本实用新型的一种优选技术方案,所述第一壳体和第二壳体的内部均开设有安装有第一导电半环的第一槽口、安装有第二导电半环的第二槽口,所述第一槽口与第二槽口之间通过隔板隔开。

    10、作为本实用新型的一种优选技术方案,所述第一导电纤维和第二导电纤维在测试时均与被测电机轴接触。

    11、与现有技术相比,本实用新型的有益效果如下:

    12、1、本实用新型通过第一导电半环上的第一导线与测试仪器连接,用于采集数据,第二导电半环上的第二导线与电机壳连接或断开,当调整电机输出达到需求值时,可通过控制第二导电半环上的第二导线与电机壳断开,读取第一导电半环检测值,再控制第二导电半环上的第二导线与电机壳连接,读取第一导电半环检测值,对比当时电机输出值,两种第一导电半环检测值得出导电环的使用效果值,相较于传统方案无需反复拆装导电环,减少电机拆装次数,减少测试样品数量,提高检测精度。

    13、2、本实用新型可以在电机不同的输出值,同时不间断的做对比测试,实验的动态可变性大幅提高,与实际应用更接近,数据准确率更高。



    技术特征:

    1.一种测试用导电环结构,包括第一壳体和第二壳体,其特征在于:所述第一壳体与第二壳体之间安装有第一导电半环和第二导电半环,所述第一导电半环和第二导电半环之间设置有与第一壳体固定连接的隔板;

    2.根据权利要求1所述的一种测试用导电环结构,其特征在于:所述第一壳体和第二壳体上均开设有缺口,所述第一导线和第二导线均穿过缺口。

    3.根据权利要求1所述的一种测试用导电环结构,其特征在于:所述第一壳体、第二壳体和隔板均采用绝缘材料制成,所述第一壳体和第二壳体组合成绝缘外壳。

    4.根据权利要求1所述的一种测试用导电环结构,其特征在于:所述第一导电纤维固定连接在第一导电半环的内侧,并贯穿第一壳体且向中心位置延伸;

    5.根据权利要求1所述的一种测试用导电环结构,其特征在于:所述第一壳体和第二壳体的内部均开设有安装有第一导电半环的第一槽口、安装有第二导电半环的第二槽口,所述第一槽口与第二槽口之间通过隔板隔开。

    6.根据权利要求1所述的一种测试用导电环结构,其特征在于:所述第一导电纤维和第二导电纤维在测试时均与被测电机轴接触。


    技术总结
    本技术涉及伺服电机轴电压释放性能的测试技术领域,且公开了一种测试用导电环结构,包括第一壳体和第二壳体,所述第一壳体与第二壳体之间安装有第一导电半环和第二导电半环。本技术通过第一导电半环上的第一导线与测试仪器连接,用于采集数据,第二导电半环上的第二导线与电机壳连接或断开,当调整电机输出达到需求值时,可通过控制第二导电半环上的第二导线与电机壳断开,读取第一导电半环检测值,再控制第二导电半环上的第二导线与电机壳连接,读取第一导电半环检测值,对比当时电机输出值,两种第一导电半环检测值得出导电环的使用效果值,相较于传统方案无需反复拆装导电环,减少电机拆装次数,减少测试样品数量,提高检测精度。

    技术研发人员:张桂丹,刘哲士,邓满,黄元元,王祖萍,刘焕峰
    受保护的技术使用者:和骋新材料科技(上海)有限公司
    技术研发日:20230829
    技术公布日:2024/4/29
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