一种多功能自动化标准机及测试方法与流程

    专利2025-10-20  3


    本发明属于校准测试领域,具体涉及一种多功能自动化标准机及测试方法。


    背景技术:

    1、现阶段led标准件主要用于测试分选时校准测试分选机,标准件的测试将直接影响像素光源一致性,不同测试机都存在一定的差异,为减小设备不同带来的参数差异,led行业通过使用同一标准件不同测试分选设备进行校准;

    2、然而,目前校准机治具无法通用,而需使用镊子手动放入,随着像素光源微缩化及多元化,治具测试口越来越小,手动测试难度越来越高,治具寿命越来越短,不同产品治具不同,随着产品的更新换代,治具更换越来越频繁。


    技术实现思路

    1、本发明的目的在于提供一种多功能自动化标准机及测试方法,以解决上述背景技术中提出的问题。

    2、为实现上述目的,本发明提供如下技术方案:

    3、一种多功能自动化标准机,包括主体,包括测试平台;上料机构,设置于所述测试平台上;测试机构,设置于所述测试平台上;影像识别器,设置于所述测试平台上,所述影像识别器位于上料机构顶部;测试台,活动设置于所述测试平台顶部;以及,可调探针,活动设置于所述测试机构上。

    4、优选的,所述测试平台的一端设置有显示屏,所述显示屏底部的测试平台一端设置有打样件。

    5、优选的,所述上料机构,包括设置于所述测试平台上的蓝膜环,活动设置于所述蓝膜环底部的顶针,以及活动设置于所述测试平台上的吸嘴,所述吸嘴位于蓝膜环顶部。

    6、优选的,所述蓝膜环的顶部设置有若干像素光源。

    7、优选的,所述测试机构分别搭载高灵敏快速光电性能分析系统、高灵敏绝对光谱辐射分析仪与高灵敏光强测试单元。

    8、一种测试方法,具体步骤如下:

    9、s1、测试来料:将待测产品焊盘向上放置在蓝膜环上;

    10、s2、极性判断:通过影像识别器对像素光源进行识别,判断光源极性;

    11、s3、上料:根据检测结果,蓝膜环自动旋转,将像素光源旋转至指定方向,同时将顶针调整至像素光源底部并将其顶起,配合吸嘴将其吸起,通过摆臂旋转将其放置在测试台;

    12、s4、探针调节:通过测试软件设定测试参数;

    13、s5、测试:根据像素光源焊盘结构自动调节可调探针的位置及高度,随后进行针刺测量;

    14、s6、显示结果:通过显示屏输出显示测试结果;

    15、s7、标签打样:根据测试结果通过打样件自动打印标签;

    16、s8、完成。

    17、与现有技术相比,本发明的有益效果是:

    18、(1)本发明通过蓝膜环、吸嘴及顶针自动上下料的方式大大减小了测试难度,同时通过影像识别器可自动调整像素光源方向,便于测试,通过可调探针进行测试无需更换治具。

    19、(2)本发明通过分别搭载高灵敏快速光电性能分析系统、高灵敏绝对光谱辐射分析仪与高灵敏光强测试单元的测试机构可以实现一机多用,可以测试各种规格型号的器件、模组,同时可以在测试完成后根据测试结果自动打样标签,方便人员使用。



    技术特征:

    1.一种多功能自动化标准机,其特征在于,包括,

    2.根据权利要求1所述的一种多功能自动化标准机,其特征在于:所述测试平台(101)的一端设置有显示屏(102),所述显示屏(102)底部的测试平台(101)一端设置有打样件(103)。

    3.根据权利要求2所述的一种多功能自动化标准机,其特征在于:所述上料机构(2),包括设置于所述测试平台(101)上的蓝膜环(202),活动设置于所述蓝膜环(202)底部的顶针(203),以及活动设置于所述测试平台(101)上的吸嘴(201),所述吸嘴(201)位于蓝膜环(202)顶部。

    4.根据权利要求3所述的一种多功能自动化标准机,其特征在于:所述蓝膜环(202)的顶部设置有若干像素光源(7)。

    5.根据权利要求4所述的一种多功能自动化标准机,其特征在于:所述测试机构(3)分别搭载高灵敏快速光电性能分析系统、高灵敏绝对光谱辐射分析仪与高灵敏光强测试单元。

    6.一种测试方法,其特征在于:具体步骤如下:


    技术总结
    本发明属于校准测试领域,具体公开了一种多功能自动化标准机及测试方法,包括主体,包括测试平台;上料机构,设置于所述测试平台上;测试机构,设置于所述测试平台上;影像识别器,设置于所述测试平台上,所述影像识别器位于上料机构顶部;测试台,活动设置于所述测试平台顶部;以及,可调探针,活动设置于所述测试机构上;本发明通过蓝膜环、吸嘴及顶针自动上下料的方式大大减小了测试难度,同时通过影像识别器可自动调整像素光源方向,便于测试,通过可调探针进行测试无需更换治具,可以实现一机多用,可以测试各种规格型号的器件、模组,同时可以在测试完成后根据测试结果自动打样标签,方便人员使用。

    技术研发人员:马蕊龙,颉信忠,刘天生
    受保护的技术使用者:山西高科华杰光电科技有限公司
    技术研发日:
    技术公布日:2024/4/29
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