本发明属于半导体芯片测试，尤其涉及一种基于解释型高级语言的半导体参数测试方法及系统。
背景技术：
1、在半导体行业中，半导体参数测试扮演着至关重要的角色，它保障了半导体器件的质量和可靠性。各种半导体参数测试软件通常会集成一些预先开发好，已经嵌入软件中的标准测试流程和算法，同时提供一种方法来支持用户实现标准流程和算法，不能实现的定制化测试需要。当前不同厂商实现测试流程定制化的方法有以下几种：
2、1、使用一种为自家软件专门设计的脚本语言，例如keysight easyexpert软件。这种方式的缺点是：这类脚本语言通常使用自己独特的语法，不具备通用性，用户需要付出学习成本；这类脚本语言的语法通常较简单，不能完成复杂的流程；这类脚本语言可实现的功能和编程接口通常为软件内预先开发好的，用户不可自己扩展；这类脚本语言通常面向测试过程，不能实现图形界面的人机交互。
3、2、使用一种通用的脚本语言，例如tcl脚本。这种方式的缺点是：这种脚本语言的语法格式较独特，对用户不友好，用户需要付出较多的学习成本；这种脚本语言缺少良好的开发环境和查错纠错机制，流程开发不方便，降低了工作效率；这类脚本语言通常面向测试过程，一般不实现图形界面的人机交互，如果要实现人机交互，需要软件首先实现交互用的图形界面组件和交互动作之后用户才能在脚本中使用，不是用户可以自由设计的。
技术实现思路
1、为解决上述问题，本发明的目的是提供一种基于解释型高级语言的半导体参数测试方法及系统，该测试方法中用户能够编写脚本程序与利用高级语言编写的接口模块、开发模块和高级语言解释模块实现定制化测试流程，无需程序编译过程，代码可读性和可维护性高，无需第三方的开发工具，实现高效实时的测试流程编辑与调试。
2、本发明的第一目的是提供一种基于解释型高级语言的半导体参数测试方法，包括以下步骤：获取当前测试的相关硬件设备，进行设备管理以实现与所述相关硬件设备的通讯；获取定制化测试算法，其中所述定制化测试算法是基于beanshell脚本调用系统中预置的测试流程开发模块和内置编程接口模块编写实现；运行所述定制化测试算法，通过预置的beanshell解释器对所述定制化测试算法进行边解释边运行；输出所述定制化测试算法的测试结果。
3、优选的，所述测试流程开发模块和所述内置编程接口模块基于java和/或python编写实现，所述测试流程开发模块通过语法解析库工具对所述beanshell脚本的语法结构进行识别从而实现语法高亮、自动补全和代码提示功能，所述内置编程接口模块用于提供与所述相关硬件设备通讯的内置编程接口以控制硬件设备和进行数据分析，获取所述定制化测试算法后，java和/或python语言编写实现的所述测试流程开发模块和所述内置编程接口模块能够被所述beanshell解释器直接解释并运行。
4、优选的，获取当前测试的相关硬件设备，进行设备管理以实现与所述相关硬件设备的通讯进一步包括：在设备管理界面增加对应的硬件设备，所述硬件设备至少包括测试机、探针台、矩阵开关，所述硬件设备的驱动预先内置于所述内置编程接口模块中；设定系统与每个硬件设备的通讯协议及端口号，所述通讯协议包括gpib协议、tcp/ip协议、usb协议，测试通过后系统与所述相关硬件设备的通讯得以建立；在beanshell脚本中引入第三方设备的驱动及设定通讯协议和端口号以实现支持gpib协议、tcp/ip协议、usb协议的第三方设备功能拓展。
5、优选的，所述定制化测试算法是基于beanshell脚本调用系统中预置的测试流程开发模块和内置编程接口模块编写实现进一步包括：运行线程接到调度线程的命令后，根据调度线程传入的基于用户定制化测试需求编写的beanshell脚本，调用beanshell解释器，将beanshell脚本实施解释为可执行二进制指令，执行解释后的beanshell动态脚本；其中beanshell脚本中调用内置编程接口模块来控制硬件设备与数据分析；在脚本编写阶段beanshell脚本调用测试流程开发模块识别beanshell脚本语法，从而实现语法高亮、自动补全和代码提示功能。
6、优选的，所述方法还包括：所述beanshell脚本还可以调用系统中预置的图形界面自定义模块以实现定制化测试算法相关参数的可视化；在修改其中部分所述相关参数后可以直接将修改的相关参数数据更新到脚本中。
7、优选的，所述方法还包括：在当前测试脚本中将脚本程序写入系统的某个固定路径下，以实现系统测试功能的迭代更新。
8、优选的，输出所述定制化测试算法的测试结果进一步包括：将测试结果数据赋值在数据数组的对应位置，将可视化界面涉及的测试结果数据赋值在数据数组的对应位置；或者，通过测试结果数据的外部文件的文件名和文件地址，将测试结果数据和数据协议以元胞数组的形式存储在目标工作区，从目标工作区中将元胞数组的测试结果数据赋值在数据数组的对应位置；对数据数组或元胞数组中的测试结果数据进行预设二次处理后，写入到所述可视化界面中的预定位置。
9、基于相同的构思，本发明第二目的还提供一种基于解释型高级语言的半导体参数测试系统，包括：设备管理模块，用于获取当前测试的相关硬件设备，进行设备管理以实现与所述相关硬件设备的通讯；需求获取模块，用于获取定制化测试算法，其中所述定制化测试算法是基于beanshell脚本调用系统中预置的测试流程开发模块和内置编程接口模块编写实现；执行模块，用于运行所述定制化测试算法，通过预置的beanshell解释器对所述定制化测试算法进行边解释边运行；结果输出模块，用于输出所述定制化测试算法的测试结果。
10、基于相同的构思，本发明第三目的还提供一种电子设备，其特征在于，包括：存储器，所述存储器用于存储处理程序；处理器，所述处理器执行所述处理程序时实现上述任意一项所述的基于解释型高级语言的半导体参数测试方法。
11、基于相同的构思，本发明第四目的还提供一种可读存储介质，其特征在于，所述可读存储介质上存储有处理程序，所述处理程序被处理器执行时实现上述任意一项所述的基于解释型高级语言的半导体参数测试方法。
12、本发明由于采用以上技术方案，使其与现有技术相比具有以下的优点和积极效果：
13、1、本发明的技术方案为了满足用户越来越自主的自定义化的测试需求，支持用户通过编写beanshell脚本实现定制化的测试任务，从而给用户提供更灵活的使用体验。采用beanshell语言编写的脚本结合预置的采用高级语言编写的测试流程开发模块和内置编程接口模块，从而实现在定制化测试算法运行时beanshell解释器对高级语言的解释，能够实现边解释边运行，无需额外花费时间先进行编译，测试流程代码可以做到即写即用，测试效率高，同时采用beanshell语言开发脚本降低了脚本开发的难度，消除了对第三方开发工具的依赖。
14、2、本发明的技术方案中所述的高级语言采用java语言和/或python语言，当然也可以采用现有常用的其他能够被本发明中的beanshell解释器所解释的高级语言，本实施例的目的在于，通过预设的beanshell解释器对beanshell脚本语法以及beanshell脚本通过所述内置编程接口模块和所述测试流程开发模块所调用的硬件设备和函数/程序进行边解释边执行，从而能够实现定制化测试算法的高效执行，无需编译，提高了开发验证的实时性。
15、3、为了实现测试参数修改的便捷性，考虑到脚本程序编辑完成，首次测试后需要修改测试参数再次进行测试的情况，本实施例中在脚本中调用系统中预置的图形界面自定义模块，一方面定制化测试算法相关参数的可视化，另一方面对于修改测试参数操作友好，不用再打开到脚本程序里去修改，提高测试的便捷性和效率。在半导体器件测试的过程中，修改测试参数的可能性以及修改频率都是交高的，因此本实施例的技术方案很好的契合了这一特点，极大的提到了测试效率。
1.一种基于解释型高级语言的半导体参数测试方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的基于解释型高级语言的半导体参数测试方法，其特征在于，所述测试流程开发模块和所述内置编程接口模块基于java和/或python编写实现，所述测试流程开发模块通过语法解析库工具对所述beanshell脚本的语法结构进行识别从而实现语法高亮、自动补全和代码提示功能，所述内置编程接口模块用于提供与所述相关硬件设备通讯的内置编程接口以控制硬件设备和进行数据分析，获取所述定制化测试算法后，java和/或python语言编写实现的所述测试流程开发模块和所述内置编程接口模块能够被所述beanshell解释器直接解释并运行。
3.根据权利要求1所述的基于解释型高级语言的半导体参数测试方法，其特征在于，获取当前测试的相关硬件设备，进行设备管理以实现与所述相关硬件设备的通讯进一步包括：
4.根据权利要求3所述的基于解释型高级语言的半导体参数测试方法，其特征在于，所述定制化测试算法是基于beanshell脚本调用系统中预置的测试流程开发模块和内置编程接口模块编写实现进一步包括：
5.根据权利要求1所述的基于解释型高级语言的半导体参数测试方法，其特征在于，所述方法还包括：
6.根据权利要求5所述的基于解释型高级语言的半导体参数测试方法，其特征在于，所述方法还包括：在当前测试脚本中将脚本程序写入系统的某个固定路径下，以实现系统测试功能的迭代更新。
7.根据权利要求6所述的基于解释型高级语言的半导体参数测试方法，其特征在于，输出所述定制化测试算法的测试结果进一步包括：
8.一种基于解释型高级语言的半导体参数测试系统，其特征在于，包括：
9.一种电子设备，其特征在于，包括：
10.一种可读存储介质，其特征在于，所述可读存储介质上存储有处理程序，所述处理程序被处理器执行时实现如权利要求1至7中任意一项所述的基于解释型高级语言的半导体参数测试方法。
