本发明涉及信号测试，尤其涉及矢量网络分析仪的电子校准领域，具体是指一种实现四端口电子校准件优化的结构。
背景技术：
1、电子校准作为能极大提高矢量网络分析仪校准效率的功能，被广泛应用于校准。随着多个端口器件的应用变多，4端口电子校准的需求日益增多。全四端口校准，需要取到各端口两两交叉的直通数据，共6个直通。连接各个直通，必然会有一组直通交叉，意味着有一条直通需要打过孔走线。如何优化布局设计，提高指标，将对最终的校准效果产生至关重要的影响。
技术实现思路
1、本发明的目的是克服了上述现有技术的缺点，提供了一种满足结构简单、校准效果好、适用范围较为广泛的实现四端口电子校准件优化的结构。
2、为了实现上述目的，本发明的实现四端口电子校准件优化的结构如下：
3、该实现四端口电子校准件优化的结构，其主要特点是，所述的结构包括四个端口，所述的四个端口两两互连，即共具有六个直通，其中一组直通交叉走线，一个直通过孔走线，每个所述的端口对应6种状态，分别为open、short、load与其余3个开关的直通状态，所述的结构还包括多个开关，每个所述的端口与对应的开关走线连接。
4、较佳地，所述的每个端口至开关为偏s型走线。
5、较佳地，所述的结构具有8个开关，分别为第1-1开关、第1-2开关、第2-1开关、第2-2开关、第3-1开关、第3-2开关、第4-1开关和第4-2开关，所述的第1-1开关和第1-2开关相连，所述的第2-1开关和第2-2开关相连，所述的第3-1开关和第3-2开关相连，所述的第4-1开关和第4-2开关相连，所述的第1-1开关还与第2-1开关、第3-1开关和第4-1开关相连，所述的第2-1开关还与第3-1开关和第4-1开关相连，所述的第3-1开关还与第4-1开关相连；所述的四个端口分别与第1-2开关、第2-2开关、第3-2开关和第4-2开关相连。
6、较佳地，所述的结构中交叉走线的直通的通孔孔径为6mil。
7、较佳地，所述的结构中交叉走线的直通的走线为走背层的方式。
8、采用了本发明的实现四端口电子校准件优化的结构，提供了一种优化的过孔走线方式，以及更改开关方式进而改善过孔影响从而提升整体的校准效果。本发明对四端口电子校准件直通交叉损耗提供技术帮助，对后续高频电子校准件的校准效果提供参考。
1.一种实现四端口电子校准件优化的结构，其特征在于，所述的结构包括四个端口，所述的四个端口两两互连，即共具有六个直通，其中一组直通交叉走线，一个直通过孔走线，每个所述的端口对应6种状态，分别为open、short、load与其余3个开关的直通状态，所述的结构还包括多个开关，每个所述的端口与对应的开关走线连接。
2.根据权利要求1所述的实现四端口电子校准件优化的结构，其特征在于，所述的每个端口至开关为偏s型走线。
3.根据权利要求1所述的实现四端口电子校准件优化的结构，其特征在于，所述的结构具有8个开关，分别为第1-1开关、第1-2开关、第2-1开关、第2-2开关、第3-1开关、第3-2开关、第4-1开关和第4-2开关，所述的第1-1开关和第1-2开关相连，所述的第2-1开关和第2-2开关相连，所述的第3-1开关和第3-2开关相连，所述的第4-1开关和第4-2开关相连，所述的第1-1开关还与第2-1开关、第3-1开关和第4-1开关相连，所述的第2-1开关还与第3-1开关和第4-1开关相连，所述的第3-1开关还与第4-1开关相连；所述的四个端口分别与第1-2开关、第2-2开关、第3-2开关和第4-2开关相连。
4.根据权利要求1所述的实现四端口电子校准件优化的结构，其特征在于，所述的结构中交叉走线的直通的通孔孔径为6mil。
5.根据权利要求4所述的实现四端口电子校准件优化的结构，其特征在于，所述的结构中交叉走线的直通的走线为走背层的方式。
