一种适用555时基电路的测试适配器的制作方法

    专利2025-03-26  29


    本技术涉及一种适用555时基电路的测试适配器,属于半导体集成电路。


    背景技术:

    1、555集成电路人们习惯称之为时基电路。它是一种将模拟功能与逻辑功能巧妙结合在同一硅片上的组合集成电路。它设计新颖,构思奇巧,在波形产生、变换、调制、定时、计量、检测等电路中被广泛运用。因此,它备受专业设计人员和广大电子爱好者的青睐,在家用电子、医疗保健、节水节电、公共交通、声光报警、遥控遥测、微机接口等到处都有它的身影。现有技术中对时基电路的测试缺少专用的测试适配器,需要搭建测试电路,测量不同的参数需搭建不同电路。现有技术中公开的测试适配器也没有针对时基电路进行测试的,如中国专利公开号为:cn208953665u,公开的一种j750ex-hd集成电路测试系统通用适配器,包括测试适配板和测试负载卡,其特征是测试适配板包括基板、被测器件座、拨码开关阵列、继电器阵列、测试负载卡连接器和用于连接j750ex-hd测试系统的插座,拨码开关阵列的两端分别与被测器件座和gnd信号及dps源连接,虽然对适配器的结构进行了优化,但是也无法做到时基电路的测试。


    技术实现思路

    1、针对现有技术的不足,本实用新型的目的在于提供一种适用555时基电路的测试适配器,解决了现有技术中出现的问题。

    2、本实用新型所述的一种适用555时基电路的测试适配器,包括适配器和测试系统,555时基电路连接在适配器本体连接所述测试系统进行测试;所述适配器包括测试座、继电器和电阻,所述测试座上设有第一测试接口和第二测试接口,所述第一测试接口上设有vtr接口、reset接口、gnd接口和out接口,所述第二测试接口上设有vcc接口、disc接口、vth接口和vc接口,所述测试座连接有转接口,测试座通过转接口连接测试系统,所述转接口上设有agnd端口、lvis_1端口、lvis_2端口、lvis_3端口、vis_1端口、vis_2端口、dvm2端口、k1端口和+5端口,其中:gnd接口与agnd端口相连,vtr接口与lvis_1端口相连;out接口与vis_3端口相连;reset接口与lvis_2端口相连;vcc接口与vis_1端口相连;disc接口与vis_3端口相连;vth接口与lvis_3端口相连;vc接口与dvm2端口相连,继电器分别连接第一测试接口和转接口。

    3、针对555时基电路的管脚设计专用于555时基电路的测试适配器,同时设计了继电器进行切换控制,与测试系统进行适配,解决了现有技术中无法实现时基电路测试的技术难题。

    4、进一步的,继电器上设有sgnd端口、k1端口和+5端口、其中gnd接口经过电阻与继电器的sgnd端口相连;继电器的k1端口和+5端口分别与转接口上的k1端口和+5端口相连,继电器的out端口与第一测试接口上的out接口相连。

    5、进一步的,转接口包括第一直针插座、第二直针插座、第三直针插座和第四直针插座,其中,第一直针插座和第二直针插座为48线直针插座,第三直针插座和第四直针插座为96线直针插座。

    6、进一步的,测试系统采用jc5605集成电路测试系统。jc5605是一款高性能的集成电路测试系统,测试系统仅提供硬件资源和转由板上的96线直针插座和48线直针插座。

    7、进一步的,适配器上还设有电容模块。为保护电路的作用。

    8、本实用新型与现有技术相比,具有如下有益效果:

    9、本实用新型所述的一种适用555时基电路的测试适配器,设计了针对xn时基电路的通用转接口,通过通用接口可快速切换适配器,测试准备时间短。无需再专门搭建不同的测试电路,测试系统通过继电器切换参数测量,多参数一次测量完毕;测试方式简便,对测试人员要求降低;贴合器件引脚外形,抗干扰电路设计,避免电路交叉干扰。解决了现有技术中存在的问题。



    技术特征:

    1.一种适用555时基电路的测试适配器,其特征在于:包括适配器(3)和测试系统(1),555时基电路连接在适配器本体连接所述测试系统(1)进行测试;所述适配器(3)包括测试座(11)、继电器(7)和电阻(6),所述测试座(11)上设有第一测试接口(4)和第二测试接口(5),所述第一测试接口(4)上设有vtr接口、reset接口、gnd接口和out接口,所述第二测试接口(5)上设有vcc接口、disc接口、vth接口和vc接口,所述测试座(11)连接有转接口(2),测试座(11)通过转接口(2)连接测试系统,所述转接口(2)上设有agnd端口、lvis_1端口、lvis_2端口、lvis_3端口、vis_1端口、vis_2端口、dvm2端口、k1端口和+5端口,其中:gnd接口与agnd端口相连,vtr接口与lvis_1端口相连;out接口与vis_3端口相连;reset接口与lvis_2端口相连;vcc接口与vis_1端口相连;disc接口与vis_3端口相连;vth接口与lvis_3端口相连;vc接口与dvm2端口相连,继电器(7)分别连接第一测试接口(4)和转接口(2)。

    2.根据权利要求1所述的一种适用555时基电路的测试适配器,其特征在于:所述的继电器(7)上设有sgnd端口、k1端口和+5端口、其中gnd接口经过电阻(6)与继电器(7)的sgnd端口相连;继电器(7)的k1端口和+5端口分别与转接口上的k1端口和+5端口相连,继电器(7)的out端口与第一测试接口(4)上的out接口相连。

    3.根据权利要求1所述的一种适用555时基电路的测试适配器,其特征在于:所述的转接口(2)包括第一直针插座(8)、第二直针插座(9)、第三直针插座(10)和第四直针插座(14),其中,第一直针插座(8)和第二直针插座(9)为48线直针插座,第三直针插座(10)和第四直针插座(14)为96线直针插座。

    4.根据权利要求1所述的一种适用555时基电路的测试适配器,其特征在于:所述的测试系统(1)采用jc5605集成电路测试系统。

    5.根据权利要求1所述的一种适用555时基电路的测试适配器,其特征在于:所述的适配器(3)上还设有电容模块(13)。


    技术总结
    本技术公开一种适用555时基电路的测试适配器,属于半导体集成电路技术领域,包括适配器和测试系统,555时基电路连接在适配器本体连接所述测试系统进行测试;所述适配器包括测试座、继电器和电阻,所述测试座上设有第一测试接口和第二测试接口,所述第一测试接口上设有VTR接口、RESET接口、GND接口和OUT接口,所述第二测试接口上设有VCC接口、DISC接口、VTH接口和VC接口,所述测试座连接有转接口,测试座通过转接口连接测试系统,设计了针对时基电路的通用转接口,通过通用接口可快速切换适配器,测试准备时间短。无需再专门搭建不同的测试电路,测试系统通过继电器切换参数测量,多参数一次测量完毕;测试方式简便。

    技术研发人员:赵福健,高俊,吴南,徐振垚
    受保护的技术使用者:山东华昇微电子科技有限公司
    技术研发日:20230831
    技术公布日:2024/4/29
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