一种连续式光电对射颗粒料位测量装置的制作方法

    专利2025-03-13  3


    本技术属于测量装置,尤其涉及一种连续式光电对射颗粒料位测量装置。


    背景技术:

    1、在金属分选设备中,经过破碎后的团状金属是由1-90毫米组成的块状或颗粒状物质(以下简称颗粒料),由于固体粉料与液体的差异,固体粉料在进入料仓后,一些物料存在一定水分或静电,结成团状物或吸附在筒仓内壁上,不能准确测量真实的料位,导致后续工序不能正常工作,现提出一种可有效防止物料粘连在壁板上的装置。


    技术实现思路

    1、针对现有技术的不足,本实用新型提供了一种连续式光电对射颗粒料位测量装置,解决了上述问题。

    2、为实现以上目的,本实用新型通过以下技术方案予以实现:一种连续式光电对射颗粒料位测量装置,包括壳体,还包括:刮板组件,用于清理壁板上粘连的材料;所述刮板组件,包括转盘、刮板以及传动轴,所述转盘在壳体一侧与壳体转动连接,所述转盘上固定连接有多个刮板,所述转盘轴心处固定连接有传动轴,所述传动轴与壳体转动连接,所述传动轴上固定连接有齿轮,所述齿轮与电机的输出齿轮啮合,所述电机通过壳体内部的隔板与壳体固定连接。

    3、有益效果

    4、本实用新型提供了一种连续式光电对射颗粒料位测量装置,与现有技术相比具备以下有益效果:

    5、相关技术人员将颗粒料通过壳体一侧的缺口倒入壳体中,此时相关技术人员启动电机,从而使电机带动与其输出齿轮啮合连接的齿轮同步转动,从而使齿轮带动与其固定连接的传动轴开始转动,使传动轴带动与其固定连接的转盘开始转动,从而通过刮板带动其上固定连接的多个转盘使其清理壳体内壁板上粘连的颗粒料,同时可通过转盘以及转盘转动使壳体内的颗粒料平整减小其内的空隙,以便于精准测量其料位,同时传动轴带动其上固定连接的蜗杆同步转动,从而使蜗杆带动与其啮合连接的蜗轮同步转动,使蜗轮带动其轴心处固定连接的主轴开始转动,从而使主轴带动其底部固定连接的偏心轮同步转动,从而使偏心轮带动其偏心处转动连接的推杆开始进行圆周运动,从而使推杆带动与其铰接的锤盘使其以与壳体连接处的滑槽进行线性往复运动,从而使锤盘循环锤击转盘,从而防止转盘上粘连粉料。



    技术特征:

    1.一种连续式光电对射颗粒料位测量装置,包括壳体(101),其特征在于,还包括:

    2.根据权利要求1所述的连续式光电对射颗粒料位测量装置,其特征在于,所述壳体(101)内平行设有一管状发射管以及一管状接收管,用于测量壳体(101)内的料位。

    3.根据权利要求1所述的连续式光电对射颗粒料位测量装置,其特征在于,所述传动轴(203)上固定连接有齿轮(204),所述齿轮(204)与电机(205)的输出齿轮啮合,所述电机(205)通过壳体(101)内部的隔板与壳体(101)固定连接。

    4.根据权利要求1所述的连续式光电对射颗粒料位测量装置,其特征在于,所述传动轴(203)上固定连接有蜗杆(206),所述蜗杆(206)一侧啮合连接有蜗轮(208)。

    5.根据权利要求4所述的连续式光电对射颗粒料位测量装置,其特征在于,所述蜗轮(208)轴心处固定连接有主轴(207),所述主轴(207)的一端与壳体(101)转动连接。

    6.根据权利要求5所述的连续式光电对射颗粒料位测量装置,其特征在于,所述主轴(207)的另一端固定连接有偏心轮(209),所述偏心轮(209)通过其轴心处的导杆与推杆(302)转动连接,所述偏心轮(209)底端轴心处固定连接有副轴(301),所述副轴(301)与壳体(101)转动连接。

    7.根据权利要求6所述的连续式光电对射颗粒料位测量装置,其特征在于,所述推杆(302)的另一端通过其上的铰座与锤盘(303)铰接,所述锤盘(303)通过壳体(101)内的隔板与壳体(101)滑动连接。


    技术总结
    本技术公开了一种连续式光电对射颗粒料位测量装置,包括壳体,还包括:刮板组件,用于清理壁板上粘连的材料;所述刮板组件,包括转盘、刮板以及传动轴,所述转盘在壳体一侧与壳体转动连接,所述转盘上固定连接有多个刮板,所述转盘轴心处固定连接有传动轴,所述传动轴与壳体转动连接,所述传动轴上固定连接有齿轮,所述齿轮与电机的输出齿轮啮合,所述电机通过壳体内部的隔板与壳体固定连接;本技术,可有效防止颗粒料粘连在壁板上从而影响测量。

    技术研发人员:郝震,张建国,王凯,吴腾龙
    受保护的技术使用者:山东水发达丰再生资源有限公司
    技术研发日:20230913
    技术公布日:2024/4/29
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