本实用新型涉及开关测试设备技术领域，具体是一种智能开关触头温度测试设备。
背景技术：
开关的词语解释为开启和关闭。它还是指一个可以使电路开路、使电流中断或使其流到其他电路的电子元件。最常见的开关是让人操作的机电设备，其中有一个或数个电子接点。接点的“闭合”表示电子接点导通，允许电流流过；开关的“开路”表示电子接点不导通形成开路，不允许电流流过。
目前开关在进行测试时，针对开关触片位置的温度测试存在着测试精度不佳的情况，究其原因是触片位置位于开关内，环境相对密封，接通电路测试前，环境条件尤其是温度条件并未达到测试标准温度，从而在测试触片温度是会存在误差，导致一些实际合格却检测结果为不良的情况出现，降低了企业的生产效益。因此我们提出一种智能开关触头温度测试设备。
技术实现要素：
本实用新型的目的在于提供一种智能开关触头温度测试设备，以解决上述背景技术中提出的问题。
为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：
一种智能开关触头温度测试设备，包括密封罩，所述密封罩由左半罩与右半罩通过卡接机构相卡接组成，密封罩底部开口，密封罩上前后两侧位置分别预设有通口，开关控制器的开关触片一与开关触片二分别从通口伸至密封罩内，密封罩上顶部位置嵌装有半导体制冷片，半导体制冷片的冷端位于密封罩内侧而热端位于密封罩外侧，密封罩上还嵌装有伸至密封罩内的温度传感器，所述温度传感器与半导体制冷片以及开关控制器均与外设的mcu与供电单元相电连，mcu上还连接有计时模块、显示单元、电阻测量器和告警模块。
通过半导体制冷片为相对密封的开关触片环境温度进行降温，使其在生产环境中积蓄封闭的高于实验要求的温度下降，从而以实验标准温度进行起步测试，避免了内部温度对测试结果产生的影响，确保了测试结果准确性。
作为本实用新型的进一步方案：所述卡接机构包括右半罩上朝向左半罩一侧热熔固定的固定块以及左半罩上朝向右半罩一侧预设的与固定块相对应的凹槽，通过凹槽与固定块的插接进行固定。
作为本实用新型的再进一步方案：所述固定块上下两侧预设有下沉槽，下沉槽内放置有连接杆，连接杆右端与下沉槽右侧的固定块相铰接连接，下沉槽内左侧位置设置有弹簧，弹簧的两端分别点焊固定于连接杆左侧底部以及下沉槽内左侧位置，弹簧推挤连接杆靠近凹槽内壁增加摩擦，从而提高卡接牢固性。
作为本实用新型的再进一步方案：所述连接杆上左端顶部位置铰接固定有滚珠，滚珠抵至凹槽上下内壁预设的弧形槽内，滚珠方便进行拆装。
作为本实用新型的再进一步方案：所述右半罩上与左半罩相卡接一侧粘有密封垫，确保密封性。
作为本实用新型的再进一步方案：所述通口内壁上粘有绝缘垫，密封罩上底部边缘位置粘有防粘胶，确保放置稳定。
与现有技术相比，本实用新型的优点在于以下几个方面：
本实用新型中，通过半导体制冷片为相对密封的开关触片环境温度进行降温，使其在生产环境中积蓄封闭的高于实验要求的温度下降，从而以实验标准温度进行起步测试，避免了内部温度对测试结果产生的影响，确保了测试结果准确性。
本实用新型中，密封罩被拆分为两半，在使用时可以直接罩在开关的触片上，即可进行测试，使用简单便捷。
本实用新型中，该测试设备操作简单，检测结果准确度高，使用便利。
附图说明
图1为一种智能开关触头温度测试设备中密封罩的剖视图。
图2为一种智能开关触头温度测试设备中密封罩的立体图。
图3为一种智能开关触头温度测试设备中卡接机构的结构示意简图。
图4为一种智能开关触头温度测试设备的系统模块化框图。
图中：1、密封罩；1-1、左半罩；1-2、右半罩；2、半导体制冷片；3、温度传感器；4、开关触片一；5、通口；6、防粘胶；7、开关触片二；8、绝缘垫；9、卡接机构；10、弧形槽；11、凹槽；12、固定块；13、下沉槽；14、弹簧；15、滚珠；16、连接杆；17、密封垫；18、mcu；19、供电单元；20、计时模块；21、开关控制器；22、显示单元；23、电阻测量器；24、告警模块。
具体实施方式
为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。
在本实用新型的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制；术语“一”、“二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性；此外，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。
请参阅图1～4，一种智能开关触头温度测试设备，包括密封罩1，所述密封罩1由左半罩1-1与右半罩1-2通过卡接机构9相卡接组成，密封罩1底部开口，密封罩1上前后两侧位置分别预设有通口5，开关控制器21的开关触片一4与开关触片二7分别从通口5伸至密封罩1内，密封罩1上顶部位置嵌装有半导体制冷片2，半导体制冷片2的冷端位于密封罩1内侧而热端位于密封罩1外侧，密封罩1上还嵌装有伸至密封罩1内的温度传感器3；
所述温度传感器3与半导体制冷片2以及开关控制器21均与外设的mcu18与供电单元19相电连，mcu18上还连接有计时模块20、显示单元22、电阻测量器23和告警模块24，计时模块20提供时间轴，从而获得测试温度的时间轴数据；
所述卡接机构9包括右半罩1-2上朝向左半罩1-1一侧热熔固定的固定块12以及左半罩1-1上朝向右半罩1-2一侧预设的与固定块12相对应的凹槽11，固定块12上下两侧预设有下沉槽13，下沉槽13内放置有连接杆16，连接杆16右端与下沉槽13右侧的固定块12相铰接连接，下沉槽13内左侧位置设置有弹簧14，弹簧14的两端分别点焊固定于连接杆16左侧底部以及下沉槽13内左侧位置，连接杆16上左端顶部位置铰接固定有滚珠15，滚珠15抵至凹槽11上下内壁预设的弧形槽10内，所述右半罩1-2上与左半罩1-1相卡接一侧粘有密封垫17；
所述通口5内壁上粘有绝缘垫8，密封罩1上底部边缘位置粘有防粘胶6。
本实用新型的工作原理是：本实用新型提供一种智能开关触头温度测试设备，结构设置巧妙，且布局合理，测试前先分别持左半罩1-1与右半罩1-2，罩在开关的触片位置，使触片位置保持密封状态，避免外界环境影响，防粘胶6提供放置稳定与密封，测试前先由温度传感器3测量密封罩1内的温度，然后通过mcu18控制半导体制冷片2工作，从冷端散出冷量至密封罩1内，使密封罩1内降温至测试实验的所需标准温度，然后由开关控制器21通电，开关触片一4与开关触片二7连接通电，同时由于电流流过，触片本身的电阻产生热量，热量散发至密封罩1内，通过温度传感器3再进行测量，即可获得开关触片位置的通电温度信息，测试操作简单，检测结果准确度高，使用便利。
上面对本专利的较佳实施方式作了详细说明，但是本专利并不限于上述实施方式，在本领域的普通技术人员所具备的知识范围内，还可以在不脱离本专利宗旨的前提下作出各种变化。
1.一种智能开关触头温度测试设备，包括密封罩（1），其特征在于，所述密封罩（1）由左半罩（1-1）与右半罩（1-2）通过卡接机构（9）相卡接组成，密封罩（1）底部开口，密封罩（1）上前后两侧位置分别预设有通口（5），开关控制器（21）的开关触片一（4）与开关触片二（7）分别从通口（5）伸至密封罩（1）内，密封罩（1）上顶部位置嵌装有半导体制冷片（2），半导体制冷片（2）的冷端位于密封罩（1）内侧而热端位于密封罩（1）外侧，密封罩（1）上还嵌装有伸至密封罩（1）内的温度传感器（3），所述温度传感器（3）与半导体制冷片（2）以及开关控制器（21）均与外设的mcu（18）与供电单元（19）相电连，mcu（18）上还连接有计时模块（20）、显示单元（22）、电阻测量器（23）和告警模块（24）。
2.根据权利要求1所述的一种智能开关触头温度测试设备，其特征在于，所述卡接机构（9）包括右半罩（1-2）上朝向左半罩（1-1）一侧热熔固定的固定块（12）以及左半罩（1-1）上朝向右半罩（1-2）一侧预设的与固定块（12）相对应的凹槽（11）。
3.根据权利要求2所述的一种智能开关触头温度测试设备，其特征在于，所述固定块（12）上下两侧预设有下沉槽（13），下沉槽（13）内放置有连接杆（16），连接杆（16）右端与下沉槽（13）右侧的固定块（12）相铰接连接，下沉槽（13）内左侧位置设置有弹簧（14），弹簧（14）的两端分别点焊固定于连接杆（16）左侧底部以及下沉槽（13）内左侧位置。
4.根据权利要求3所述的一种智能开关触头温度测试设备，其特征在于，所述连接杆（16）上左端顶部位置铰接固定有滚珠（15），滚珠（15）抵至凹槽（11）上下内壁预设的弧形槽（10）内。
5.根据权利要求4所述的一种智能开关触头温度测试设备，其特征在于，所述右半罩（1-2）上与左半罩（1-1）相卡接一侧粘有密封垫（17）。
6.根据权利要求1～5任一所述的一种智能开关触头温度测试设备，其特征在于，所述通口（5）内壁上粘有绝缘垫（8），密封罩（1）上底部边缘位置粘有防粘胶（6）。
技术总结