本实用新型涉及材料测试技术领域，尤其涉及闪烁晶体测试装置。
背景技术：
体物质由于具有各种各样的特性，所以还是各种技术用的重要材料，特别是在近代由于新技术的飞速发展，要求具有各种性能的晶体材料，而自然界蕴藏的晶体不论在质量上、数量和品种上都满足不了需要，因此科学家就模拟自然界的成矿条件，采用人工方法来培育晶体，这就叫做人工晶体。
闪烁晶体在测试时，通过射线(x射线、r射线等)或放射性粒子通过某些晶体时，晶体会发出荧光，波段在紫外或可见，这些晶体就叫做荧光晶体或闪烁晶体，当射线或粒子穿过荧光晶体时，晶体便发出荧光，荧光经光导管送至光电倍增管，将光信号转换成一个放大的电脉冲，送到电子线路上记录下来，在测试过程中晶体等测试材料暴露在外，容易影响晶体发出的荧光的传播性，且测试晶体数量过多，需要人工逐一将晶体放置在所测试的位置，费时费力，测试效率低下，为此，我们提出闪烁晶体测试装置来解决上述问题。
技术实现要素：
本实用新型的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的闪烁晶体测试装置。
为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：
闪烁晶体测试装置，包括基板，所述基板的顶部固定连接有测试仪体，所述基板的顶部固定连接有u型架，所述u型架的内壁开设有滑槽，所述u型架的内壁设有支撑板，所述支撑板的外壁固定连接有滑块，且滑块滑动连接在滑槽的内部，所述滑块的顶部固定连接有步进电机，所述步进电机的输出端固定连接有丝杆，所述丝杆的外壁开设有第一卡槽，所述丝杆的外壁套设有放置块，所述放置块的内部开设有凹槽，所述凹槽的内部固定连接有第一弹簧，所述第一弹簧的一端设有第一卡接块，且第一卡接块与丝杆外壁的第一卡槽进行活动卡接，所述放置块的外壁套设有外圈罩，所述外圈罩与放置块之间固定连接有隔板块，所述放置块与外圈罩之间设有放置槽。
优选地，所述滑块的数量为两组，且两组滑块关于支撑板的竖直中心轴线呈轴对称设置。
优选地，所述隔板块的数量为多组，且多组隔板块关于放置块的竖直中心轴线呈环形阵列设置。
优选地，所述滑块的内部开设有第一孔槽，所述第一孔槽的内部设有第二弹簧，所述第二弹簧的顶部与底部均固定连接有半圆块。
优选地，所述u型架的顶部设有第二卡槽，所述第二卡槽的内部活动卡接有第二卡接块，所述第二卡接块的顶部固定连接有横板，所述横板的顶部固定连接有支撑块，所述支撑块的内部开设有第二孔槽，所述第二孔槽的内部固定连接有握杆，所述横板的底部固定连接有卡接板，所述基板的顶部开设有第三卡槽，且卡接板的底部卡接在第三卡槽的顶部。
优选地，所述握杆的数量为两组，且两组握杆关于横板的竖直中心轴线呈轴对称设置。
与现有技术相比，本实用新型的有益效果为：
1、通过将晶体放置在放置块与外圈罩之间的放置槽内，通过放置块与外圈罩之间的多组隔板块，便于使用者放置多组晶体进行测试，通过在支撑板的顶部设置了步进电机，步进电机输出端的丝杆设置在放置块的内部，在丝杆的外壁开设有第一卡槽，通过在放置块的内部设置了凹槽，在凹槽的内部设置了第一弹簧，第一弹簧的一端固定连接有第一卡接块，通过第一弹簧抵压第一卡接块，使得第一卡接块与第一卡槽进行活动卡接，避免晶体在测试过程中放置块整体晃动，影响测试数据。
2、在u型架的顶部设置了第二卡槽，在基板的顶部设置了横板，通过握力两组握杆向下运动，使得横板底部的第二卡接块与u型架顶部的第二卡槽进行活动卡接，固定横板整体，通过横板底部的卡接板与基板顶部的第三卡槽进行卡接，使得u型架整体进行封闭，避免其他光源渗入，提高基板顶部的测试仪体对u型架内部晶体测试的准确性。
附图说明
图1为本实用新型整体结构爆炸示意图；
图2为本实用新型正视示意图；
图3为本实用新型支撑板的右侧剖示意图；
图4为本实用新型图3中a处的局部放大图；
图5为本实用新型图1中b处的局部放大图；
图6为本实用新型图3中c处的局部放大图。
图中：1基板、2测试仪体、3u型架、4滑槽、5支撑板、6滑块、7步进电机、8丝杆、9第一卡槽、10放置块、11凹槽、12第一弹簧、13第一卡接块、14外圈罩、15隔板块、16放置槽、17第一孔槽、18第二弹簧、19半圆块、20第二卡槽、21第二卡接块、22横板、23支撑块、24第二孔槽、25握杆、26卡接板、27第三卡槽。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。
参照图1-6，闪烁晶体测试装置，包括基板1，基板1的顶部固定连接有测试仪体2，基板1的顶部固定连接有u型架3，u型架3的内壁开设有滑槽4，u型架3的内壁设有支撑板5，支撑板5的外壁固定连接有滑块6，且滑块6滑动连接在滑槽4的内部，滑块6的数量为两组，且两组滑块6关于支撑板5的竖直中心轴线呈轴对称设置，滑块6的顶部固定连接有步进电机7，步进电机7的输出端固定连接有丝杆8，丝杆8的外壁开设有第一卡槽9，丝杆8的外壁套设有放置块10，放置块10的内部开设有凹槽11，凹槽11的内部固定连接有第一弹簧12，第一弹簧12的一端设有第一卡接块13，且第一卡接块13与丝杆8外壁的第一卡槽9进行活动卡接；
放置块10的外壁套设有外圈罩14，外圈罩14与放置块10之间固定连接有隔板块15，隔板块15的数量为多组，且多组隔板块15关于放置块10的竖直中心轴线呈环形阵列设置，放置块10与外圈罩14之间设有放置槽16，滑块6的内部开设有第一孔槽17，第一孔槽17的内部设有第二弹簧18，第二弹簧18的顶部与底部均固定连接有半圆块19；
u型架3的顶部设有第二卡槽20，第二卡槽20的内部活动卡接有第二卡接块21，第二卡接块21的顶部固定连接有横板22，横板22的顶部固定连接有支撑块23，支撑块23的内部开设有第二孔槽24，第二孔槽24的内部固定连接有握杆25，握杆25的数量为两组，且两组握杆25关于横板22的竖直中心轴线呈轴对称设置，横板22的底部固定连接有卡接板26，基板1的顶部开设有第三卡槽27，且卡接板26的底部卡接在第三卡槽27的顶部，在晶体测试过程中，通过将晶体放置在放置块10与外圈罩14之间的放置槽16内，通过放置块10与外圈罩14之间的多组隔板块15，便于使用者放置多组晶体进行测试，通过在支撑板5的顶部设置了步进电机7，步进电机7输出端的丝杆8设置在放置块10的内部，在丝杆8的外壁开设有第一卡槽9，通过在放置块10的内部设置了凹槽11，在凹槽11的内部设置了第一弹簧12，第一弹簧12的一端固定连接有第一卡接块13，通过第一弹簧12抵压第一卡接块13，使得第一卡接块13与第一卡槽9进行活动卡接，避免晶体在测试过程中放置块10整体晃动，影响测试数据，在支撑板5的外壁设置了,通过支撑板5一端的滑块6与u型架3内壁的滑槽4进行滑动连接，调节支撑板5顶部的晶体与测试仪体2之间的间距，便于使用者根据不同的间距进行测试，提高设备测试的准确性，在u型架3的顶部设置了第二卡槽20，在基板1的顶部设置了横板22，通过握力两组握杆25向下运动，使得横板22底部的第二卡接块21与u型架3顶部的第二卡槽20进行活动卡接，固定横板22整体，通过横板22底部的卡接板26与基板1顶部的第三卡槽27进行卡接，使得u型架3整体进行封闭，避免其他光源渗入，提高基板1顶部的测试仪体2对u型架3内部晶体测试的准确性。
工作原理：本实用新型，在晶体测试过程中，通过将晶体放置在放置块10与外圈罩14之间的放置槽16内，通过放置块10与外圈罩14之间的多组隔板块15，便于使用者放置多组晶体进行测试，通过在支撑板5的顶部设置了步进电机7，步进电机7输出端的丝杆8设置在放置块10的内部，在丝杆8的外壁开设有第一卡槽9，通过在放置块10的内部设置了凹槽11，在凹槽11的内部设置了第一弹簧12，第一弹簧12的一端固定连接有第一卡接块13，通过第一弹簧12抵压第一卡接块13，使得第一卡接块13与第一卡槽9进行活动卡接，避免晶体在测试过程中放置块10整体晃动，影响测试数据，在支撑板5的外壁设置了,通过支撑板5一端的滑块6与u型架3内壁的滑槽4进行滑动连接，调节支撑板5顶部的晶体与测试仪体2之间的间距，便于使用者根据不同的间距进行测试，提高设备测试的准确性，在u型架3的顶部设置了第二卡槽20，在基板1的顶部设置了横板22，通过握力两组握杆25向下运动，使得横板22底部的第二卡接块21与u型架3顶部的第二卡槽20进行活动卡接，固定横板22整体，通过横板22底部的卡接板26与基板1顶部的第三卡槽27进行卡接，使得u型架3整体进行封闭，避免其他光源渗入，提高基板1顶部的测试仪体2对u型架3内部晶体测试的准确性，测试仪体2的型号为sac-flou。
以上所述，仅为本实用新型较佳的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，根据本实用新型的技术方案及其实用新型构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。
1.闪烁晶体测试装置，包括基板(1)，其特征在于，所述基板(1)的顶部固定连接有测试仪体(2)，所述基板(1)的顶部固定连接有u型架(3)，所述u型架(3)的内壁开设有滑槽(4)，所述u型架(3)的内壁设有支撑板(5)，所述支撑板(5)的外壁固定连接有滑块(6)，且滑块(6)滑动连接在滑槽(4)的内部，所述滑块(6)的顶部固定连接有步进电机(7)，所述步进电机(7)的输出端固定连接有丝杆(8)，所述丝杆(8)的外壁开设有第一卡槽(9)，所述丝杆(8)的外壁套设有放置块(10)，所述放置块(10)的内部开设有凹槽(11)，所述凹槽(11)的内部固定连接有第一弹簧(12)，所述第一弹簧(12)的一端设有第一卡接块(13)，且第一卡接块(13)与丝杆(8)外壁的第一卡槽(9)进行活动卡接，所述放置块(10)的外壁套设有外圈罩(14)，所述外圈罩(14)与放置块(10)之间固定连接有隔板块(15)，所述放置块(10)与外圈罩(14)之间设有放置槽(16)。
2.根据权利要求1所述的闪烁晶体测试装置，其特征在于，所述滑块(6)的数量为两组，且两组滑块(6)关于支撑板(5)的竖直中心轴线呈轴对称设置。
3.根据权利要求1所述的闪烁晶体测试装置，其特征在于，所述隔板块(15)的数量为多组，且多组隔板块(15)关于放置块(10)的竖直中心轴线呈环形阵列设置。
4.根据权利要求1所述的闪烁晶体测试装置，其特征在于，所述滑块(6)的内部开设有第一孔槽(17)，所述第一孔槽(17)的内部设有第二弹簧(18)，所述第二弹簧(18)的顶部与底部均固定连接有半圆块(19)。
5.根据权利要求1所述的闪烁晶体测试装置，其特征在于，所述u型架(3)的顶部设有第二卡槽(20)，所述第二卡槽(20)的内部活动卡接有第二卡接块(21)，所述第二卡接块(21)的顶部固定连接有横板(22)，所述横板(22)的顶部固定连接有支撑块(23)，所述支撑块(23)的内部开设有第二孔槽(24)，所述第二孔槽(24)的内部固定连接有握杆(25)，所述横板(22)的底部固定连接有卡接板(26)，所述基板(1)的顶部开设有第三卡槽(27)，且卡接板(26)的底部卡接在第三卡槽(27)的顶部。
6.根据权利要求5所述的闪烁晶体测试装置，其特征在于，所述握杆(25)的数量为两组，且两组握杆(25)关于横板(22)的竖直中心轴线呈轴对称设置。
技术总结