本发明涉及射频技术领域，尤其涉及一种用于射频测试的夹持装置及测试方法。
背景技术：
目前，在对微波器件或者天线进行射频测试时，常常会由于夹持装置带来的误差使得待测件的测试数据不准确，而夹持装置的误差无法测量，因此，如何提供一种能够测量测试误差值的夹持装置，以消除夹持装置造成的误差，提高测试数据的准确性，成为了亟待解决的问题。
技术实现要素：
本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本发明提出一种用于射频测试的夹持装置，能够方便地测量到测试误差值，消除夹持装置造成的误差，提高测试数据的准确性。
本发明还提出一种具有上述夹持装置的测试方法。
根据本发明的第一方面实施例的用于射频测试的夹持装置，包括：
第一转接板；
第二转接板，所述第二转接板上设有天线；
两个射频座组，包括第一射频座组和第二射频座组，所述第一射频座组安装在所述第一转接板上，所述第二射频座组安装在所述第二转接板上；
连接组件，所述连接组件的一端连接所述第一转接板，所述连接组件的另一端连接所述第二转接板；
探针，所述探针依次连接所述第一转接板、所述连接组件和所述第二转接板。
根据本发明实施例的用于射频测试的夹持装置，至少具有如下有益效果：这种用于射频测试的夹持装置通过设置第一转接板、第二转接板，并且在两个转接板上分别设置第一射频座组和第二射频座组，第二转接板上设有天线，探针依次连接第一转接板、连接组件和第二转接板，通过夹持装置的探针和天线可以直接获取到测试误差值，消除夹持装置在对待测件测试时造成的误差，提高了测试数据的准确性。
根据本发明的一些实施例，所述天线为v形。
根据本发明的一些实施例，所述连接组件包括第一连接件，所述第一连接件上设有第一凹陷部，所述第一凹陷部用于容纳所述第二转接板。
根据本发明的一些实施例，所述连接组件还包括第二连接件，所述第二连接件上设有第二凹陷部，所述第二凹陷部用于容纳所述第一转接板。
根据本发明的一些实施例，所述连接组件还包括第三连接件，所述第三连接件分别连接所述第二连接件和所述第一转接板。
根据本发明的一些实施例，所述第二连接件上还设有第三凹陷部，所述第三凹陷部用于容纳所述第三连接件。
根据本发明的一些实施例，所述连接组件还包括第四连接件，所述第四连接件分别连接所述第一连接件和所述第二连接件。
根据本发明的一些实施例，所述第三连接件上还设有凸起部。
根据本发明的一些实施例，所述第一连接件、第三连接件和第四连接件上设有若干第一通孔，所述第二连接件上设有第二通孔，所述若干第一通孔和所述第二通孔用于所述探针依次连接所述第二转接板、所述第一连接件、所述第四连接件、所述第二连接件、所述第三连接件和所述第一转接板。
根据本发明的第二方面实施例的测试方法，包括：
对校验待测件进行射频测试，得到第一测试值，其中，所述校验待测件包括所述夹持装置和待测件；
对所述夹持装置进行射频测试，得到第二测试值；
根据所述第一测试值与所述第二测试值，得到所述待测件的参数值。
根据本发明实施例的测试方法，至少具有如下有益效果：这种测试方法通过对校验待测件进行射频测试，能够方便地获取到第一测试值，进而对夹持装置进行射频测试，得到第二测试值，由于校验待测件包括夹持装置和待测件，根据第一测试值与第二测试值，可以消除夹持装置带来的误差，得到待测件的参数值，提高测试数据的准确性。
本发明的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本发明的实践了解到。
附图说明
下面结合附图和实施例对本发明做进一步的说明，其中：
图1为本发明实施例的用于射频测试的夹持装置的结构示意图；
图2为图1中的用于射频测试的夹持装置的爆炸图；
图3为图1中的第二转接板的结构示意图；
图4为图1中的第一连接件的结构示意图；
图5为图1中的第二连接件的结构示意图；
图6为图1中的第三连接件的结构示意图；
图7为图1中的第四连接件的结构示意图；
图8为本发明实施例的测试方法流程图。
附图标记：110、第一转接板；120、第二转接板；130、第一射频座组；140、第二射频座组；150、连接组件；160、探针；170、天线；210、第一连接件；220、第二连接件；230、第三连接件；240、第四连接件；410、第一通孔；420、第一凹陷部；430、第四凹陷部；510、第二凹陷部；520、第三凹陷部；530、第二通孔；610、凸起部。
具体实施方式
下面详细描述本发明的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本发明，而不能理解为对本发明的限制。
在本发明的描述中，需要理解的是，涉及到方位描述，例如上、下、前、后、左、右等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。
在本发明的描述中，若干的含义是一个以上，多个的含义是两个以上，大于、小于、超过等理解为不包括本数，以上、以下、以内等理解为包括本数。如果有描述到第一、第二只是用于区分技术特征为目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量或者隐含指明所指示的技术特征的先后关系。
本发明的描述中，除非另有明确的限定，设置、安装、连接等词语应做广义理解，所属技术领域技术人员可以结合技术方案的具体内容合理确定上述词语在本发明中的具体含义。
本发明的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示意性实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。
第一方面，参照图1，本发明实施例的用于射频测试的夹持装置包括第一转接板110、第二转接板120、两个射频座组、连接组件150和探针160，其中，第二转接板120上设有天线170，两个射频座组包括第一射频座组130和第二射频座组140，第一射频座组130安装在第一转接板110上，第二射频座组140安装在第二转接板120上，连接组件150的一端连接第一pcb板110，连接组件150的另一端连接第二转接板120，探针160依次连接第一转接板110、连接组件150和第二转接板120。
用于射频测试的夹持装置设置有第一转接板110、第二转接板120、连接组件150和探针160，第二转接板120的一侧面上设有天线170，第二转接板120的另一侧面上安装有第二射频座组140，第一转接板110的一侧面上安装有第一射频座组130，第一转接板110的另一侧面与连接组件150连接，探针160依次穿过第一转接板110、连接组件150和第二转接板120，需要说明的是，探针160和天线170的长度根据实际需求进行设定，例如，探针160和天线170的长度为现有的夹持装置的探针和天线长度的两倍。连接组件150为针模。第一射频座组130包括有两个射频座，两个射频座对称安装在第一转接板110上，第二射频座组140包括有两个射频座，两个射频座对称安装在第二转接板120上。由于目前对待测件进行射频测试时，现有的夹持装置中的探针对测试结果造成的误差无法测量，通过本发明实施例中的用于射频测试的夹持装置设置第一转接板、第二转接板，并且在两个转接板上分别设置第一射频座组和第二射频座组，第二转接板上设有天线，探针依次连接第一转接板、连接组件和第二转接板，通过夹持装置的探针和天线可以直接获取到测试误差值，消除夹持装置在对待测件测试时造成的误差，提高了测试数据的准确性。
参照图1和图3，在一些实施例中，天线170为v形。为了保证天线170的传输稳定，将天线170设置为v形，这样使得天线170接收和发出的信号数据能够稳定传输，提高测试准确性。
参照图1和图3，在一些具体实施例中，第一转接板110和第二转接板120为t字形结构。这样能够有效地减小第一转接板110和第二转接板120的体积，有利于夹持装置的小型化设计，也能够节约成本。在其他实施例中，第一转接板110和第二转接板120也可以是其他结构，不限于此。
参照图2，在一些实施例中，连接组件150采用倒圆角设计。通过将连接组件150的第一连接件210、第二连接件220、第三连接件230、第四连接件240都设置为倒圆角，能够提高夹持装置的使用安全性。
在一些具体实施例中，第一连接件210、第二连接件220、第三连接件230、第四连接件240均为长方体，在另一些实施例中，第一连接件210、第二连接件220、第三连接件230、第四连接件240也可以是其他结构，不限于此。
在一些具体实施例中，第一连接件210、第二连接件220、第四连接件240可以设置为长度相同、宽度相同的长方体，这样能够提高安装稳定性，也有利于夹持装置的小型化设计。在一些其他实施例中，第一连接件210、第二连接件220、第四连接件240的长度和宽度也可以根据实际情况进行设置，不限于此。
需要说明的是，第一连接件210、第二连接件220、第三连接件230、第四连接件240的厚度可以根据实际情况进行设置，不做限制。
参照图2和图4，在一些实施例中，连接组件150包括第一连接件210，第一连接件210上设有第一凹陷部420，第一凹陷部420用于容纳第二转接板120。在第一连接件210的一侧设置有第一凹陷部420，当第一连接件210与第二转接板120连接时，第一凹陷部420能够容纳第二转接板120，这样能够有效地减小夹持装置的体积。第一凹陷部420可以是u形槽，这样能够使得第二转接板120与第一连接件210紧密连接，提高夹持装置的稳定性。
在一些具体实施例中，为了对天线进行保护，第一连接件210上还设有第四凹陷部430，通过第四凹陷部430容纳第二转接板120上的天线170，从而保证天线170在测试中的稳定，提高测试准确性。
参照图2和图5，在一些实施例中，连接组件150还包括第二连接件220，第二连接件220上设有第二凹陷部510，第二凹陷部510用于容纳第一转接板110。在第二连接件220的一侧设置有第二凹陷部510，当第二连接件220与第一转接板110连接时，第二凹陷部510能够容纳第一转接板110，这样能够有效地减小夹持装置的体积。第二凹陷部510可以是u形槽，这样能够使得第一转接板110与第二连接件220紧密连接，提高夹持装置的稳定性。在其他实施例中，第二凹陷部510也可以是其他形式，不限于此。
参照图2和图6，在一些实施例中，连接组件150还包括第三连接件230，第三连接件230分别连接第二连接件220和第一转接板110。为了进一步地提高夹持装置的稳定性，连接组件150还包括第三连接件230，第三连接件230的一侧连接第一转接板110，第三连接件230的另一侧连接第二连接件220，这样能够进一步地增大连接组件150的长度，使得探针160能够更好地连接在第一转接板110和第二转接板120之间，提高了探针160的连接稳定性。
在一些实施例中，第二连接件220上还设有第三凹陷部520，第三凹陷部520用于容纳第三连接件230。在第二连接件220的一侧设置有第三凹陷部520，当第二连接件220与第三连接件230连接时，第三凹陷部520能够容纳第三连接件230，这样能够有效地减小夹持装置的体积。第三凹陷部520可以是u形槽，这样能够使得第三连接件230与第二连接件220紧密连接，提高夹持装置的稳定性。在其他实施例中，第三凹陷部520也可以是其他形式，不限于此。
参照图2和图7，在一些实施例中，连接组件150还包括第四连接件240，第四连接件240分别连接第一连接件210和第二连接件220。为了保证探针160的连接稳定性，连接组件150还包括第四连接件240，第四连接件240的一侧连接第一连接件210，第四连接件240的另一侧连接第二连接件220，这样能够进一步地增大连接组件150的长度，使得探针160能够更好地连接在第一转接板110和第二转接板120之间，提高了探针160的连接稳定性。
在一些具体实施例中，第三连接件230上还设有凸起部610。为了保证测试的准确性，在第三连接件230的两端设置凸起部610，第三连接件230通过凸起部610与第一转接板110连接，第一转接板110和第三连接件230之间存在一定的空间，能够对第一转接板110上的电路起到一定的保护作用，从而使得夹持装置在测试过程中的测试稳定，提高了测试的准确性。
参照图2至图7，为了保证探针160能够更好地连接在第一转接板110、连接组件150以及第二转接板120之间，在一些实施例中，第一连接件210、第三连接件220和第四连接件240上设有若干第一通孔410，第二连接件220上设有第二通孔530，若干第一通孔410和第二通孔530用于探针依次连接第二转接板120、第一连接件210、第四连接件240、第二连接件220、第三连接件230和第一转接板110。通过第二通孔530，探针160在依次穿过第一转接板110、第三连接件230和第二连接件220时，很能够更好地避开第一转接板110上的走线，保证测试的准确性，而若干第一通孔410的孔径与探针160的直径保持一致，使得探针160在穿过第一连接件210、第三连接件220和第四连接件240时更加稳定，从而保证了夹持装置的稳定性。
第二方面，参照图8，本发明实施例的测试方法，用于测试夹持装置和校验待测件，包括：
s801，对校验待测件进行射频测试，得到第一测试值，其中，校验待测件包括夹持装置和待测件；
s802，对夹持装置进行射频测试，得到第二测试值；
s803，根据第一测试值与第二测试值，得到待测件的参数值。
首先对矢量网络分析仪进行全双端口校准，采用校准后的矢量网络分析仪对校验待测件进行射频测试，得到第一测试值；进而再次对矢量网络分析仪进行全双端口校准，采用校准后的矢量网络分析仪对夹持装置进行射频测试，得到第二测试值，校验待测件包括夹持装置和待测件，对第一测试值和第二测试值做差，得到的差值即为待测件的参数值。需要说明的是，利用现有的夹持装置对待测件进行射频测试时，测试数据中包括着现有的夹持装置的误差，而这种误差无法消除，也无法进行测量，通过本发明实施例的测试方法，能够直接获取到误差值，进而在对待测件进行测试之后消除误差，得到更加准确的测量值。
根据本发明实施例的测试方法，至少具有如下有益效果：这种测试方法通过对校验待测件进行射频测试，能够方便地获取到第一测试值，进而对夹持装置进行射频测试，得到第二测试值，由于校验待测件包括夹持装置和待测件，根据第一测试值与第二测试值，可以消除夹持装置带来的误差，得到待测件的参数值，提高测试数据的准确性。
上面结合附图对本发明实施例作了详细说明，但是本发明不限于上述实施例，在所属技术领域普通技术人员所具备的知识范围内，还可以在不脱离本发明宗旨的前提下作出各种变化。此外，在不冲突的情况下，本发明的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
1.用于射频测试的夹持装置，其特征在于，包括：
第一转接板；
第二转接板，所述第二转接板上设有天线；
两个射频座组，包括第一射频座组和第二射频座组，所述第一射频座组安装在所述第一转接板上，所述第二射频座组安装在所述第二转接板上；
连接组件，所述连接组件的一端连接所述第一转接板，所述连接组件的另一端连接所述第二转接板；
探针，所述探针依次连接所述第一转接板、所述连接组件和所述第二转接板。
2.根据权利要求1所述的夹持装置，其特征在于，所述天线为v形。
3.根据权利要求1所述的夹持装置，其特征在于，所述连接组件包括第一连接件，所述第一连接件上设有第一凹陷部，所述第一凹陷部用于容纳所述第二转接板。
4.根据权利要求3所述的夹持装置，其特征在于，所述连接组件还包括第二连接件，所述第二连接件上设有第二凹陷部，所述第二凹陷部用于容纳所述第一转接板。
5.根据权利要求4所述的夹持装置，其特征在于，所述连接组件还包括第三连接件，所述第三连接件分别连接所述第二连接件和所述第一转接板。
6.根据权利要求5所述的夹持装置，其特征在于，所述第二连接件上还设有第三凹陷部，所述第三凹陷部用于容纳所述第三连接件。
7.根据权利要求5所述的夹持装置，其特征在于，所述第三连接件上还设有凸起部。
8.根据权利要求5所述的夹持装置，其特征在于，所述连接组件还包括第四连接件，所述第四连接件分别连接所述第一连接件和所述第二连接件。
9.根据权利要求8所述的夹持装置，其特征在于，所述第一连接件、第三连接件和第四连接件上设有若干第一通孔，所述第二连接件上设有第二通孔，所述若干第一通孔和所述第二通孔用于所述探针依次连接所述第二转接板、所述第一连接件、所述第四连接件、所述第二连接件、第三连接件和所述第一转接板。
10.测试方法，用于测试根据权利要求1至9任一项所述的夹持装置和校验待测件，其特征在于，包括：
对校验待测件进行射频测试，得到第一测试值，其中，所述校验待测件包括所述夹持装置和待测件；
对所述夹持装置进行射频测试，得到第二测试值；
根据所述第一测试值与所述第二测试值，得到所述待测件的参数值。
技术总结