本发明涉及集成电路技术领域，具体是一种集成电路测试多工位定位装置。
背景技术：
集成电路是一种微型电子器件或部件。采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构；其中所有元件在结构上已组成一个整体，使电子元件向着微小型化、低功耗、智能化和高可靠性方面迈进了一大步。它在电路中用字母“ic”表示。
集成电路的生产需要经过多项测试，测试的工作量比较大，需要每次都需要对集成电路设备进行定位方能进行测试，需要参与的人工工作量较大，效率也比较低下，且对于集成电路的拆卸也比较麻烦，为此本发明提供一种集成电路测试多工位定位装置。
技术实现要素：
本发明的目的在于提供一种集成电路测试多工位定位装置，以解决上述背景技术中提出的问题。
为了解决上述技术问题，本发明提供了如下的技术方案：
本发明提供一种集成电路测试多工位定位装置，包括有底板，所述底板顶部的左右两侧均固定连接有支撑板，其中一个所述支撑板的左侧固定连接有连接板，所述连接板的顶部固定连接有电机，两个所述支撑板相对一侧的顶部和底部之间分别转动连接有第一螺纹杆和第二螺纹杆，所述第一螺纹杆和第二螺纹杆的外表面均螺纹连接有螺纹套，两个所述螺纹套相对的一侧之间固定连接有安装框。
作为本发明的一种优选技术方案：所述安装框的左右两侧均固定连接有条形块，两个所述条形块的正面均固定连接有固定块，两个所述固定块相对的一侧均固定连接有第一挂钩块，所述第一挂钩块的一侧连接有挂钩弹簧，所述挂钩弹簧的一端连接有第二挂钩块，所述第二挂钩块的一侧固定连接有夹板。
作为本发明的一种优选技术方案：所述安装框的内壁顶端通过第一支块固定连接有第一滑杆，所述第一滑杆的外表面滑动连接有第一滑块，所述第一滑块的底部与夹板的顶部固定连接，所述安装框的内壁底端通过第二支块固定连接有第二滑杆，所述第二滑杆的外表面滑动连接有第二滑块，所述第二滑块的顶部与夹板的底部固定连接，两个所述夹板相对一侧的底部均固定连接有放置块。
作为本发明的一种优选技术方案：两个所述第二滑块的底部均固定连接有第一转动块，两个所述第一转动块的内部均转动连接有转动杆，两个所述转动杆的底端均转动连接有第二转动块，所述第二转动块的底部固定连接有活动杆。
作为本发明的一种优选技术方案：位于下方的所述螺纹套的正面固定连接有固定套，所述固定套的内表面与活动杆的外表面滑动连接，所述活动杆的外表面开设有限位孔，所述固定套的内部插设有限位柱，所述限位柱的外表面与限位孔的内表面卡接，所述活动杆的底端固定连接有把手。
作为本发明的一种优选技术方案：所述电机的输出端固定连接有第一皮带轮，所述第一皮带轮的中心轴与第二螺纹杆的左端固定连接，所述第一螺纹杆的左端固定连接有第二皮带轮，所述第二皮带轮通过皮带与第一皮带轮传动连接。
作为本发明的一种优选技术方案：所述底板顶部的左右两侧均固定连接有导向杆，两个所述导向杆的外表面均滑动连接有滑动块，两个所述滑动块相对的一侧均固定连接有测试装置，所述底板的顶部且位于测试装置的正下方安装有升降装置。
作为本发明的一种优选技术方案：所述升降装置包括有矩形框，所述矩形框内腔的底部固定连接有滑轨，所述滑轨外表面的左右两侧均滑动连接有活动块，两个所述活动块相对的一侧之间通过电动伸缩杆固定连接，两个活动块的顶部均转动连接有转动架，两个转动架之间通过中心轴转动连接，两个所述转动架的顶部均转动连接有矩形块，两个所述矩形块之间通过连接架固定连接，两个所述矩形块的顶部与测试装置的底部固定连接。
作为本发明的一种优选技术方案：所述测试装置包括有定位探头、定位处理箱和定位器。
本发明所达到的有益效果是：本发明通过电机、第一皮带轮和第二皮带轮之间的配合可以带动第一螺纹杆和第二螺纹杆同时转动，便可以带动安装框进行左右移动，方便实现对被测集成电路的安装定位，提高了对集成电路的测试效率，再配合挂钩弹簧、固定块、连接板和活动杆之间的配合可以实现两个夹板对被测试的集成电路设备进行夹持，方便实现对集成电路进行拆装，便于操作。
附图说明
图1为一种集成电路测试多工位定位装置的结构示意图。
图2为一种集成电路测试多工位定位装置中夹持结构的结构示意图。
图3为一种集成电路测试多工位定位装置的结构侧视图。
图4为一种集成电路测试多工位定位装置中升降装置的结构示意图。
图5为一种集成电路测试多工位定位装置图2中a处的局部放大图。
图中：1、底板；2、支撑板；3、连接板；4、电机；5、第一螺纹杆；6、第二螺纹杆；7、螺纹套；8、安装框；9、固定块；10、第一挂钩块；11、挂钩弹簧；12、第二挂钩块；13、夹板；14、第一支块；15、第一滑杆；16、第一滑块；17、第二支块；18、第二滑杆；19、第二滑块；20、放置块；21、第一转动块；22、转动杆；23、第二转动块；24、活动杆；25、固定套；26、限位孔；27、限位柱；28、把手；29、第一皮带轮；30、第二皮带轮；31、皮带；32、导向杆；33、滑动块；34、测试装置；35、升降装置；36、定位探头；37、定位处理箱；38、定位器；39、条形块；351、矩形框；352、滑轨；353、活动块；354、电动伸缩杆；355、转动架；356、中心轴；357、矩形块；358、连接架。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
实施例：如图1-5所示，本发明提供一种集成电路测试多工位定位装置，包括有底板1，底板1顶部的左右两侧均固定连接有支撑板2，其中一个支撑板2的左侧固定连接有连接板3，连接板3的顶部固定连接有电机4，两个支撑板2相对一侧的顶部和底部之间分别转动连接有第一螺纹杆5和第二螺纹杆6，第一螺纹杆5和第二螺纹杆6的外表面均螺纹连接有螺纹套7，两个螺纹套7相对的一侧之间固定连接有安装框8。
其中，安装框8的左右两侧均固定连接有条形块39，两个条形块39的正面均固定连接有固定块9，两个固定块9相对的一侧均固定连接有第一挂钩块10，第一挂钩块10的一侧连接有挂钩弹簧11，挂钩弹簧11的一端连接有第二挂钩块12，第二挂钩块12的一侧固定连接有夹板13，配合挂钩弹簧11、第一连接挂钩块10和第二连接挂钩块12之间的配合可以实现对集成电路的夹持。
其中，安装框8的内壁顶端通过第一支块14固定连接有第一滑杆15，第一滑杆15的外表面滑动连接有第一滑块16，第一滑块16的底部与夹板13的顶部固定连接，安装框8的内壁底端通过第二支块17固定连接有第二滑杆18，第二滑杆18的外表面滑动连接有第二滑块19，第二滑块19的顶部与夹板13的底部固定连接，两个夹板13相对一侧的底部均固定连接有放置块20。
其中，两个第二滑块19的底部均固定连接有第一转动块21，两个第一转动块21的内部均转动连接有转动杆22，两个转动杆22的底端均转动连接有第二转动块23，第二转动块23的底部固定连接有活动杆24。
其中，位于下方的螺纹套7的正面固定连接有固定套25，固定套25的内表面与活动杆24的外表面滑动连接，活动杆24的外表面开设有限位孔26，固定套25的内部插设有限位柱27，限位柱27的外表面与限位孔26的内表面卡接，活动杆24的底端固定连接有把手28，可以拉动把手28实现活动杆24的驱动。
其中，电机4的输出端固定连接有第一皮带轮29，第一皮带轮29的中心轴与第二螺纹杆6的左端固定连接，第一螺纹杆5的左端固定连接有第二皮带轮30，第二皮带轮30通过皮带31与第一皮带轮29传动连接。
其中，底板1顶部的左右两侧均固定连接有导向杆32，两个导向杆32的外表面均滑动连接有滑动块33，两个滑动块33相对的一侧均固定连接有测试装置34，底板1的顶部且位于测试装置34的正下方安装有升降装置35。
其中，升降装置35包括有矩形框351，矩形框351内腔的底部固定连接有滑轨352，滑轨352外表面的左右两侧均滑动连接有活动块353，两个活动块353相对的一侧之间通过电动伸缩杆354固定连接，两个活动块353的顶部均转动连接有转动架355，两个转动架355之间通过中心轴356转动连接，两个转动架355的顶部均转动连接有矩形块357，两个矩形块357之间通过连接架358固定连接，两个矩形块357的顶部与测试装置34的底部固定连接。
其中，测试装置34包括有定位探头36、定位处理箱37和定位器38。
具体的，本发明使用时：将需要被测试的集成电路放置在两个夹板13的放置块20上，再向下拉动把手28，带动活动杆24在固定套25的内部向下滑动，进而带动两个转动杆22转动，使两个夹板13在第一滑块16、第二滑块19、第一滑杆15和第二滑杆18之间的配合下相向移动，同时拉动两个挂钩弹簧11进行拉升，再启动电机4，电机4带动第一皮带轮29转动，配合皮带31带动第二皮带轮30转动，进而带动第一螺纹杆5和第二螺纹杆6同时转动，便可以带动安装框8进行移动，移动到被测的位置时，定位探头36对其检测，将检测信号传递给定位处理箱37，定位处理箱37将处理后的数据保存记录在定位器38，同时可以通过升降装置35调节定位探头36所处高度的位置，即通过电动伸缩杆354的伸缩，带动两个转动架355进行转动，便可以带动述测试装置34进行升降。
在本发明的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以通过具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
上面对本专利的较佳实施方式作了详细说明，但是本专利并不限于上述实施方式，在本领域的普通技术人员所具备的知识范围内，还可以在不脱离本专利宗旨的前提下作出各种变化。
1.一种集成电路测试多工位定位装置，包括有底板(1)，其特征在于，所述底板(1)顶部的左右两侧均固定连接有支撑板(2)，其中一个所述支撑板(2)的左侧固定连接有连接板(3)，所述连接板(3)的顶部固定连接有电机(4)，两个所述支撑板(2)相对一侧的顶部和底部之间分别转动连接有第一螺纹杆(5)和第二螺纹杆(6)，所述第一螺纹杆(5)和第二螺纹杆(6)的外表面均螺纹连接有螺纹套(7)，两个所述螺纹套(7)相对的一侧之间固定连接有安装框(8)。
2.根据权利要求1所述的一种集成电路测试多工位定位装置，其特征在于，所述安装框(8)的左右两侧均固定连接有条形块(39)，两个所述条形块(39)的正面均固定连接有固定块(9)，两个所述固定块(9)相对的一侧均固定连接有第一挂钩块(10)，所述第一挂钩块(10)的一侧连接有挂钩弹簧(11)，所述挂钩弹簧(11)的一端连接有第二挂钩块(12)，所述第二挂钩块(12)的一侧固定连接有夹板(13)。
3.根据权利要求2所述的一种集成电路测试多工位定位装置，其特征在于，所述安装框(8)的内壁顶端通过第一支块(14)固定连接有第一滑杆(15)，所述第一滑杆(15)的外表面滑动连接有第一滑块(16)，所述第一滑块(16)的底部与夹板(13)的顶部固定连接，所述安装框(8)的内壁底端通过第二支块(17)固定连接有第二滑杆(18)，所述第二滑杆(18)的外表面滑动连接有第二滑块(19)，所述第二滑块(19)的顶部与夹板(13)的底部固定连接，两个所述夹板(13)相对一侧的底部均固定连接有放置块(20)。
4.根据权利要求3所述的一种集成电路测试多工位定位装置，其特征在于，两个所述第二滑块(19)的底部均固定连接有第一转动块(21)，两个所述第一转动块(21)的内部均转动连接有转动杆(22)，两个所述转动杆(22)的底端均转动连接有第二转动块(23)，所述第二转动块(23)的底部固定连接有活动杆(24)。
5.根据权利要求4所述的一种集成电路测试多工位定位装置，其特征在于，位于下方的所述螺纹套(7)的正面固定连接有固定套(25)，所述固定套(25)的内表面与活动杆(24)的外表面滑动连接，所述活动杆(24)的外表面开设有限位孔(26)，所述固定套(25)的内部插设有限位柱(27)，所述限位柱(27)的外表面与限位孔(26)的内表面卡接，所述活动杆(24)的底端固定连接有把手(28)。
6.根据权利要求1所述的一种集成电路测试多工位定位装置，其特征在于，所述电机(4)的输出端固定连接有第一皮带轮(29)，所述第一皮带轮(29)的中心轴与第二螺纹杆(6)的左端固定连接，所述第一螺纹杆(5)的左端固定连接有第二皮带轮(30)，所述第二皮带轮(30)通过皮带(31)与第一皮带轮(29)传动连接。
7.根据权利要求1所述的一种集成电路测试多工位定位装置，其特征在于，所述底板(1)顶部的左右两侧均固定连接有导向杆(32)，两个所述导向杆(32)的外表面均滑动连接有滑动块(33)，两个所述滑动块(33)相对的一侧均固定连接有测试装置(34)，所述底板(1)的顶部且位于测试装置(34)的正下方安装有升降装置(35)。
8.根据权利要求7所述的一种集成电路测试多工位定位装置，其特征在于，所述升降装置(35)包括有矩形框(351)，所述矩形框(351)内腔的底部固定连接有滑轨(352)，所述滑轨(352)外表面的左右两侧均滑动连接有活动块(353)，两个所述活动块(353)相对的一侧之间通过电动伸缩杆(354)固定连接，两个活动块(353)的顶部均转动连接有转动架(355)，两个转动架(355)之间通过中心轴(356)转动连接，两个所述转动架(355)的顶部均转动连接有矩形块(357)，两个所述矩形块(357)之间通过连接架(358)固定连接，两个所述矩形块(357)的顶部与测试装置(34)的底部固定连接。
9.根据权利要求7所述的一种集成电路测试多工位定位装置，其特征在于，所述测试装置(34)包括有定位探头(36)、定位处理箱(37)和定位器(38)。
技术总结