本发明涉及检测技术领域，尤其涉及一种内置电容器的检测方法、装置、检测设备和存储介质。
背景技术：
目前，大多数芯片的外部引脚都会在芯片内部采用电容器连接，以实现芯片引脚的滤波性能。
为了确保芯片在生产过程中没有漏贴或错贴电容器，需要依据芯片设计图对芯片引脚对应的内置电容器进行检测。现有电容器测试技术多采用振荡电路，通过测谐振频率得出电容大小，进而判断芯片的内置电容器是否正确粘贴。
然而，此种检测方式对芯片的内置电容器的单次检测需要耗费较长的时间，且成本较高，无法实现芯片量产阶段的内置电容器检测。
技术实现要素：
有鉴于此，本发明实施例提供一种内置电容器的检测方法、装置、检测设备和存储介质，以实现芯片量产阶段的内置电容器检测。
第一方面，本发明实施例提供了一种内置电容器的检测方法，包括：
获取各待检测通道的充电电流值，其中，待检测芯片的内置电容器通过所述待检测芯片的引脚与至少一个待检测通道相连；
分别控制各待检测通道采用对应的充电电流值向所连接的内置电容器充电，并获取各内置电容器的检测电压值；
根据各充电电流值和各检测电压值确定所述待检测芯片的各内置电容器是否正确安装，生成检测结果。
第二方面，本发明实施例提供了一种内置电容器的检测装置，包括：
电流获取模块，用于获取各待检测通道的充电电流值，其中，待检测芯片的内置电容器通过所述待检测芯片的引脚与至少一个待检测通道相连；
电压检测模块，用于分别控制各待检测通道采用对应的充电电流值向所连接的内置电容器充电，并获取各内置电容器的检测电压值；
结果生成模块，用于根据各充电电流值和各检测电压值确定所述待检测芯片的各内置电容器是否正确安装，生成检测结果。
第三方面，本发明实施例提供了一种检测设备，包括：
一个或多个处理器；
存储器，用于存储一个或多个程序，
当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行，使得所述一个或多个处理器实现如本发明实施例所述的内置电容器的检测装置方法。
第四方面，本发明实施例还提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现如本发明实施例所述的内置电容器的检测装置方法。
在上述检测内置电容器的技术方案中，获取待检测芯片的各内置电容器通过待检测芯片的引脚所连接的待检测通道的充电电流值，分别采用各待检测通道的充电电流值向相应待检测通道所连接的内置电容器进行充电，并获取各内置电容器的检测电压值，进而根据各内置电容器的充电电流值和充电电压值确定待检测芯片的各内置电容器是否正确安装，生成检测结果。本发明实施例通过采用上述技术方案，无需使用振荡电路即可检测内置电容器的电容值，并可以实现内置待检测芯片各内置电容器的并行检测，能够缩短待检测芯片内置电容器检测所耗费的时间，提高内置电容器的检测效率，从而实现待检测芯片量产阶段的内置电容器检测。
附图说明
通过阅读参照以下附图所作的对非限制性实施例所作的详细描述，本发明的其它特征、目的和优点将会变得更明显：
图1为本发明实施例一提供的一种内置电容器的检测方法的流程示意图；
图2为本发明实施例二提供的一种内置电容器的检测方法的流程示意图；
图3为本发明实施例三提供的一种内置电容器的检测装置的结构框图；
图4为本发明实施例四提供的一种检测设备的结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本发明作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明，而非对本发明的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本发明相关的部分而非全部内容。此外，在不冲突的情况下，本发明中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
实施例一
本发明实施例一提供一种内置电容器的检测方法。该方法可以由内置电容器的检测装置执行，其中，该装置可以由软件和/或硬件实现，可集成于检测设备中，适用于对芯片的内置电容器进行检测的场景。图1为本发明实施例一提供的一种内置电容器的检测方法的流程示意图。如图1所示，本实施例提供的内置电容器的检测方法可以包括：
s110、获取各待检测通道的充电电流值，其中，待检测芯片的内置电容器通过所述待检测芯片的引脚与至少一个待检测通道相连。
其中，充电电流值可以理解为在对内置电容器进行检测时各测试通道需要向其所连接的内置电容器输入的电流的电流值。待检测芯片可以理解为需要对其内置电容器进行检测的芯片，如量产得到的芯片。待检测通道可以为本次检测需要开启的检测通道，不同待检测通道连接待检测芯片的不同引脚，各待检测通道所连接的引脚可以为同一待检测芯片的引脚，也可以为不同待检测芯片的引脚，即检测设备可以每次仅对一个待检测芯片的内置电容器进行检测，也可以对不同待检测芯片的内置电容器进行检测，具体可视实际检测需求以及待检测芯片需要检测的内置电容器的数量而定，如当需要检测的待检测芯片数量较多，且各个待检测芯片需要检测的内置电容器的数量较少(如不超过180个)时，可以同时对多个待检测芯片进行检测；当需要检测的待检测芯片的数量较少或各待检测芯片需要检测的内置电容器的数量较多(如大于300个)时，可以每次仅对一个待检测芯片进行检测。
在本实施例中，检测设备可以设置有多个检测通道，如检测通道的数量可以大于100或200个，又如，检测设备可以设置有360个检测通道；相应的，当对待检测芯片内的各内置电容器进行检测时，可以将各内置电容器所连接的引脚与检测设备的一个或两个检测通道相连，如当内置电容器的一端已接地时，可以将该内置电容器另一端所连接的引脚与检测设备的一个检测通道相连；当内置电容器的两端均未接地时，可以将内置电容器一端所连接的引脚与检测设备的一个检测通道相连，并将内置电容器另一端所连接的引脚与检测设备的另一个检测通道相连。以下以内置电容器的一端已经接地为例进行说明。
在一个实施方式中，各待检测通道的充电电流值可以由检测人员进行设置，如在将待检测芯片需要检测的各内置电容器通过内置电容器所连接的引脚连接到检测设备的不同检测通道上之后，检测人员可以通过上位机设置本次需要开启的(即本次需要进行充电的)待检测通道以及各待检测通道的充电电流值，即检测人员可以通过上位机输入各检测通道的充电电流值，上位机获取检测人员输入的检测电流值，并将其写入检测设备所配置的存储器中。其中，检测设备的存储器可以为任意类型的存储器，优选为双倍速率(doubledatarate)同步动态随机存储器，该存储器可以与检测设备的处理器物理连接，检测设备的处理器可以为现场可编程逻辑门阵列(fieldprogrammablegatearray，fpga)。
在另一个实施方式中，各待检测通道的充电电流值可以由检测设备计算得到。此时，优选的，所述获取各待检测通道的充电电流值，包括：获取各待检测通道所连接的内置电容器的电容器参数，所述电容器参数包括理论电容值、充电电流阈值和检测电压阈值；根据预先设置的检测时间和所述电容器参数确定各待检测通道的充电电流值。
其中，电容器参数可以包括内置电容器的理论电容值、充电电流阈值和检测电压值，理论电容值可以理解为内置电容器的电容的理论值，充电电流阈值可以理解为内置电容器正常工作时的电流阈值，其可以包括最大电流阈值和最小电流阈值，检测电压阈值可以理解为在本次的检测过程中电容器至少需要上升至的电压值，各内置电容器的电容器参数可以由检测人员输入到上位机中。检测时间范围可以理解为本次进行检测的检测时间，其可以为一预先设置的时间值，也可以为一个预先设置的时间范围，以下以检测时间为预先设置的时间值为例进行说明。
在上述实施方式中，检测人员可以设置本次的检测时间，相应的，检测设备可以控制各内置电容器的电压值在该检测时间之内上升到合适的电压值，以进行检测，从而在达到该检测时间时，完成各内置电容器的检测，使得同一次检测时各内置电容器尽量可以同步完成检测，减少检测人员的等待时间。
示例性的，检测人员可以在对本次批量生产的待检测芯片进行检测之前，设置本次需要开启的待检测通道以及各待检测通道与待检测芯片各内置电容器之间的连接关系，并向上位机中输入待检测芯片的各内置电容器的电容器参数和检测时间；相应的，上位机可以将检测人员输入的本次需要开启的待检测通道的标识信息、各待检测通道所连接的内置电容器的电容器参数以及检测时间写入检测设备中；从而，检测设备可根据上位机写入的标识信息确定需要开启的待检测通道，并根据上位机写入的检测时间以及各待检测通道所连接的内置电容器的电容器参数确定该检测通道的充电电流值，如可以基于公式i0＝c0×u0/t0计算得到各待检测通道的充电电流值，其中，i0为待检测通道的充电电流值，c0为待检测通道所连接的内置电容器的理论电容值，u0为待检测通道所连接内置电容器的检测电压值，t0为检测时间。
上位机在将检测人员输入的本次需要开启的待检测通道的标识信息写入检测设备时，举例而言，检测设备内可以设置有用于记录需要开启的检测通道和不需要开启的检测通道的通道寄存器，通道寄存器中的每个比特bit对应一个检测通道，bit为1表示其对应的检测通道在检测时需要打开，bit为0表示其对应的检测通道在检测时不需要开启，从而，上位机可以将本次需要开启的待检测通道在通道寄存器中所对应的bit置为1，并将本次需要开启的非待检测通道在通道寄存器中所对应的bit置为0。
可以理解的，由于检测人员在设置检测时间时通常会考虑内置电容器的充电电流阈值，即检测人员所设置的检测时间一般不会导致内置电容器的实际充电电流位于其正常工作时的充电电流范围之外，因此，本实施例在确定各待检测通道的充电电流值时，也可以不考虑各内置电容器的充电电流阈值，仅根据预先设置的检测时间和内置电容器的理论电容值确定各检测通道的充电电流值，此时，相应的，所述电容器参数可以仅包括理论电容值和检测电压阈值。
s120、分别控制各待检测通道采用对应的充电电流值向所连接的内置电容器充电，并获取各内置电容器的检测电压值。
其中，内置电容器的检测电压值可以理解为在充电过程中检测得到的内置电容器的电压值。
在本实施例中，检测设备可以并行检测各待检测通道所连接的内置电容器的检测电容，如控制各待检测通道内设置的用于向内置电容器充电的充电器件以其所属待检测通道的充电电流值向其所属待检测通道连接的内置电容器充电，并控制各待检测通道内设置的检测器件检测其所属检测通道的检测电压值。
在一个实施方式中，待检测通道内设置的充电器件可以为参数测量单元(parametricmeasurementunit，pmu)，待检测通道内设置的检测器件可以为模数转换(analoguetodigitalconversion，adc)芯片，相应的，所述分别控制各待检测通道采用对应的充电电流值向所连接的内置电容器充电，并获取各内置电容器的检测电压值，包括：针对每个待检测通道，控制所述待检测通道内的参数测量单元采用目标电流向所述待检测通道连接的内置电容器充电，并通过所述待检测通道内的模数转换芯片周期性地检测所述内置电容器的检测电压值；其中，所述目标电流的电流值为所述待检测通道所连接的内置电容器的充电电流值。
在上述实施方式中，检测设备的各检测通道内可以设置有参数测量单元和模数转换芯片，某一待检测通道内的参数测量单元可以分别与其所属待检测通道内的模数转换芯片、待检测芯片的引脚以及检测设备的处理器相连；某一待检测通道内的模数转换芯片可以分别与待检测芯片的引脚以及检测设备的处理器相连。
示例性的，检测设备的处理器可以同时向各待检测通道内的参数测量单元发送用于控制参数测量单元按照相应待检测通道的充电电流值对待检测通道所连接的内置电容器进行充电的充电指令；相应的，各待检测通道内的参数测量单元在接收到处理器发送的充电指令后，可以按照该充电指令对应的充电电流值向其所属待检测通道所连接的内置电容器进行充电。
在本实施例中，各待检测通道可以持续向其所连接的内置电容器充电，直至内置电容器已达到其所能容纳的最大电量或接收到处理器发送的停止充电指令为止；也可以在充电时间达到预先设置的超时时间时，即停止向其所连接的内置电容器充电，此时，优选的，本实施例提供的内置电容器的检测方法还可以包括：当各内置电容器的充电时间达到预设超时时间时，控制各待检测通道停止向所连接的内置电容器充电。其中，超时时间可以由检测人员进行设置或者由检测设备根据检测人员设置的检测时间计算得到，如将超时时间设置为检测时间的设定倍数(如3倍)等；检测设备可以在某一待检测通道检测得到的检测电压值的大小或数量已经能够确定该待检测通道所连接的内置电容器是否正确安装时，即向该待检测通道发送停止充电指令，也可以在所有待检测通道检测得到的检测电压值的大小或数量均已经能够确定相应检测通道所连接的内置电容器是否正确安装时，再向各待检测通道发送停止充电指令，本实施例不对此进行限制。
s130、根据各充电电流值和各检测电压值确定所述待检测芯片的各内置电容器是否正确安装，生成检测结果。
在本实施例中，确定各内置电容器是否正确安装的方法可以根据需要选取，如可以通过判断某一内置电容器的电压值在一定时间长度内实际达到的第一电压值与其在该时间长度内应该达到的第二电压值之间的差值是否在一定电压范围之内，若是，则确定该内置电容器正确安装，若否，则确定该内置电容器未正确安装；也可以根据内置电容器的充电电流值和检测电压值计算该内置电容器的电容值，如果该电容值与其理论电容值在一定误差范围之内，则确定该内置电容器正确安装，若否，则确定该内置电容器未正确安装。
本发明实施例一提供的内置电容器的检测方法，获取待检测芯片的各内置电容器通过待检测芯片的引脚所连接的待检测通道的充电电流值，分别采用各待检测通道的充电电流值向相应待检测通道所连接的内置电容器进行充电，并获取各内置电容器的检测电压值，进而根据各内置电容器的充电电流值和充电电压值确定待检测芯片的各内置电容器是否正确安装，生成检测结果。本实施例通过采用上述技术方案，无需使用振荡电路即可检测内置电容器的电容值，并可以实现待检测芯片各内置电容器的并行检测，能够缩短待检测芯片内置电容器检测所耗费的时间，提高内置电容器的检测效率，从而实现待检测芯片量产阶段的内置电容器检测。
实施例二
图2为本实施例提供的一种内置电容器的检测方法的流程示意图。本实施例在上述实施例的基础上，将“根据各充电电流值和各检测电压值确定所述待检测芯片的各内置电容器是否正确安装”优化为：根据各内置电容器的充电电流值和检测电压值计算各内置电容器的检测电容值；将各内置电容的检测电容值发送给上位机，以通过所述上位机根据各检测电容值确定待检测芯片的各内置电容器是否正确安装。
进一步地，在所述分别控制各待检测通道采用对应的充电电流值向所连接的内置电容器充电之前，还包括：分别控制各待检测通道向所连接的内置电容器施加0v电压，以释放各内置电容器中的残存电荷。
相应的，如图2所示，本实施例提供的内置电容器的检测方法可以包括：
s210、获取各待检测通道的充电电流值，其中，待检测芯片的内置电容器通过所述待检测芯片的引脚与至少一个待检测通道相连。
s220、分别控制各待检测通道向所连接的内置电容器施加0v电压，以释放各内置电容器中的残存电荷。
在本实施例中，由于待检测芯片的内置电容器中可能残存有电荷，因此，在各待检测通道使能后，可以首先控制各待检测通道内的参数测量单元向其所属待检测通道所连接的内置电容器输出0v电压，以控制各内置电容器放电，避免内置电容器中的残存电荷对内置电容器的检测造成影响。其中，残存电荷可以接为内置电容器中残留的电荷。
s230、针对每个待检测通道，控制所述待检测通道内的参数测量单元采用目标电流向所述待检测通道连接的内置电容器充电，并通过所述待检测通道内的模数转换芯片周期性地检测所述内置电容器的检测电压值；其中，所述目标电流的电流值为所述待检测通道所连接的内置电容器的充电电流值。
s240、根据各内置电容器的充电电流值和检测电压值计算各内置电容器的检测电容值。
其中，检测电容值可以理解为检测设备检测得到的内置电容器的电容值。
具体的，可以根据各内置电容器在至少两个检测周期的监测电压值计算各内置电容器在单位时间内的检测电压值变化量，进而根据各内置电容器的充电电流和各内置电容器在单位时间内的检测电压值变化量计算得到各内置电容器的检测电容值。
为了进一步提高计算得到的内置电容器的检测电容值的准确性，进而提高最终生成的检测结果的准确性，优选的，所述根据各内置电容器的充电电流值和检测电压值计算各内置电容器的检测电容值，包括：针对每个内置电容器，根据所述内置电容值在各检测周期内的检测电压值确定所述内置电容器由预设最小电压值上升至预设最大电压值的电压上升时间；根据所述充电电流值、所述电压上升时间以及所述预设最大电压值与所述预设最小电压值之间的电压差值计算所述内置电容器的检测电容值。其中，预设最小电压值和预设最大电压值可以为电容器充电较稳定的时间段内的两电压值，其可以由检测人员预先进行设置。
示例性的，在控制各待检测通道对所连接的内置电容器进行充电后，检测设备可以周期性地检测每个内置电容器的检测电压值，判断该检测电压值是否达到预设最小电压值，在其达到预设最小电压值时开始计时，继续判断内置电容器的检测电压值是否达到预设最大电压值，并在其达到预设最大电压值时，停止计时，得到内置电容器的电压上升时间；然后计算预设最大电压值与预设最小电压值之间的差值与电压上升时间之间的比值，并进一步计算该比值与内置电容器的充电电流值之间的乘积，即可得到内置电容器的检测电容值。
s250、将各内置电容的检测电容值发送给上位机，以通过所述上位机根据各检测电容值确定待检测芯片的各内置电容器是否正确安装，生成检测结果。
示例性的，检测设备在检测得到各内置电容器的检测电容值之后，可以将各内置电容器的检测电容值存储于存储器中并通知上位机检测完成，如将检测设备内部的检测寄存器由0置为1，以表征各内置电容器的检测电容值已完成检测；上位机在监测到检测寄存器置为1时，即可确定各内置电容器的检测电容值检测完成，从检测设备的存储器中读取各内置电容器的检测电容值，并进一步判断各内置电容器的检测电容值与其理论电容值之间的差值是否在预设电容范围之内，若是，则可以判断内置电容器正确安装；若否，则可以判断内置电容器未正确安装，并进一步确定待检测芯片的检测结果为不合格。
本发明实施例二提供的内置电容器的检测方法，获取各待检测通道的充电电流值，首先分别控制各待检测通道向所连接的内置电容器施加0v电压，然后控制待检测通道采用对应的充电电流值向所连接的内置电容器充电，并检测各内置电容器的检测电压值，进而根据各充电电流值和检测电压值计算各内置电容器的检测电容器，并将各内置电容器的检测电容器发送给上位机，以使上位机通过各内置电容器的检测电容值判断各内置电容器是否正确安装，生成检测结果。本实施例通过采用上述技术方案，能够进一步提高检测得到的内置电容器的检测电容值的准确性，进而提高待检测芯片检测结果的准确性。
实施例三
本发明实施例三提供一种内置电容器的检测装置。该装置可以由软件和/或硬件实现，可集成于检测设备中，可通过执行内置电容器的检测方法对内置电容器进行检测。图3为本发明实施例三提供的一种内置电容器的检测装置的结构框图。如图3所示，该装置包括：电流获取模块301、电压检测模块302和结果生成模块303，其中，
电流获取模块301，用于获取各待检测通道的充电电流值，其中，待检测芯片的内置电容器通过所述待检测芯片的引脚与至少一个待检测通道相连；
电压检测模块302，用于分别控制各待检测通道采用对应的充电电流值向所连接的内置电容器充电，并获取各内置电容器的检测电压值；
结果生成模块303，用于根据各充电电流值和各检测电压值确定所述待检测芯片的各内置电容器是否正确安装，生成检测结果。
本发明实施例三提供的内置电容器的检测装置，通过电流获取模块301获取待检测芯片的各内置电容器通过待检测芯片的引脚所连接的待检测通道的充电电流值，通过电压检测模块302分别采用各待检测通道的充电电流值向相应待检测通道所连接的内置电容器进行充电，并获取各内置电容器的检测电压值，进而通过结果生成模块303根据各内置电容器的充电电流值和充电电压值确定待检测芯片的各内置电容器是否正确安装，生成检测结果。本实施例通过采用上述技术方案，无需使用振荡电路即可检测内置电容器的电容值，并可以实现待检测芯片各内置电容器的并行检测，能够缩短待检测芯片内置电容器检测所耗费的时间，提高内置电容器的检测效率，从而实现待检测芯片量产阶段的内置电容器检测。
在上述方案中，所述电压检测模块302具体可以用于：针对每个待检测通道，控制所述待检测通道内的参数测量单元采用目标电流向所述待检测通道连接的内置电容器充电，并通过所述待检测通道内的模数转换芯片周期性地检测所述内置电容器的检测电压值；其中，所述目标电流的电流值为所述待检测通道所连接的内置电容器的充电电流值。
在上述方案中，所述结果生成模块303可以包括：电容计算单元，用于根据各内置电容器的充电电流值和检测电压值计算各内置电容器的检测电容值；结果生成单元，用于将各内置电容的检测电容值发送给上位机，以通过所述上位机根据各检测电容值确定待检测芯片的各内置电容器是否正确安装，生成检测结果。
在上述方案中，所述电容计算单元可以包括：时间检测子单元，用于针对每个内置电容器，根据所述内置电容器在各检测周期内的检测电压值确定所述内置电容器由预设最小电压值上升至预设最大电压值的电压上升时间；电容计算子单元，用于根据所述充电电流值、所述电压上升时间以及所述预设最大电压值与所述预设最小电压值之间的电压差值计算所述内置电容器的检测电容值。
进一步地，本实施例提供的内置电容器的检测装置还可以包括：充电停止模块，用于在各内置电容器的充电时间达到预设超时时间时，控制各待检测通道停止向所连接的内置电容器充电。
进一步地，本实施例提供的内置电容器的检测装置还可以包括：电荷释放模块，用于在所述分别控制各待检测通道采用对应的充电电流值向所连接的内置电容器充电之前分别控制各待检测通道向所连接的内置电容器施加0v电压，以释放各内置电容器中的残存电荷。
在上述方案中，所述电流获取模块可以包括：参数获取单元，用于获取各待检测通道所连接的内置电容器的电容器参数，所述电容器参数包括理论电容值、充电电流阈值和检测电压阈值；电流确定单元，用于根据预先设置的检测时间和所述电容器参数确定各待检测通道的充电电流值。
本发明实施例三提供的内置电容器的检测装置可执行本发明任意实施例提供的内置电容器的检测方法，具备执行内置电容器的检测方法相应的功能模块和有益效果。未在本实施例中详尽描述的技术细节，可参见本发明任意实施例所提供的内置电容器的检测方法。
实施例四
图4为本发明实施例四提供的一种检测设备的结构示意图，如图4所示，该检测设备包括处理器40和存储器41，还可以包括多个检测通道42；检测设备中处理器40的数量可以是一个或多个，图4中以一个处理器40为例；检测设备中的处理器40、存储器41和各检测通道可以通过总线或其他方式连接。
存储器41作为一种计算机可读存储介质，可用于存储软件程序、计算机可执行程序以及模块，如本发明实施例中的内置电容器的检测方法对应的程序指令/模块(例如，内置电容器的检测装置中的电流获取模块301、电压检测模块302和结果生成模块303)。处理器40通过运行存储在存储器41中的软件程序、指令以及模块，从而执行检测设备的各种功能应用以及数据处理，即实现上述的内置电容器的检测方法。
存储器41可主要包括存储程序区和存储数据区，其中，存储程序区可存储操作系统、至少一个功能所需的应用程序；存储数据区可存储根据终端的使用所创建的数据等。此外，存储器41可以包括高速随机存取存储器，还可以包括非易失性存储器，例如至少一个磁盘存储器件、闪存器件、或其他非易失性固态存储器件。在一些实例中，存储器41可进一步包括相对于处理器40远程设置的存储器，这些远程存储器可以通过网络连接至检测设备。上述网络的实例包括但不限于互联网、企业内部网、局域网、移动通信网及其组合。
检测通道42可包括参数测量单元421和模数转换芯片422，参数测量单元421可用于向内置电容器充电，模数转换芯片422可用于检测内置电容器的检测电容值，并将其由模拟信号转换为数字信号。本发明实施例四还提供一种包含计算机可执行指令的存储介质，所述计算机可执行指令在由计算机处理器执行时用于执行一种内置电容器的检测方法，该方法包括：
获取各待检测通道的充电电流值，其中，待检测芯片的内置电容器通过所述待检测芯片的引脚与至少一个待检测通道相连；
分别控制各待检测通道采用对应的充电电流值向所连接的内置电容器充电，并获取各内置电容器的检测电压值；
根据各充电电流值和各检测电压值确定所述待检测芯片的各内置电容器是否正确安装，生成检测结果。
当然，本发明实施例所提供的一种包含计算机可执行指令的存储介质，其计算机可执行指令不限于如上所述的方法操作，还可以执行本发明任意实施例所提供的内置电容器的检测方法中的相关操作。
通过以上关于实施方式的描述，所属领域的技术人员可以清楚地了解到，本发明可借助软件及必需的通用硬件来实现，当然也可以通过硬件实现，但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品可以存储在计算机可读存储介质中，如计算机的软盘、只读存储器(read-onlymemory,rom)、随机存取存储器(randomaccessmemory,ram)、闪存(flash)、硬盘或光盘等，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述的方法。
值得注意的是，上述内置电容器的检测装置的实施例中，所包括的各个单元和模块只是按照功能逻辑进行划分的，但并不局限于上述的划分，只要能够实现相应的功能即可；另外，各功能单元的具体名称也只是为了便于相互区分，并不用于限制本发明的保护范围。
注意，上述仅为本发明的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本发明不限于这里所述的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本发明的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本发明进行了较为详细的说明，但是本发明不仅仅限于以上实施例，在不脱离本发明构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本发明的范围由所附的权利要求范围决定。
1.一种内置电容器的检测方法，其特征在于，
获取各待检测通道的充电电流值，其中，待检测芯片的内置电容器通过所述待检测芯片的引脚与至少一个待检测通道相连；
分别控制各待检测通道采用对应的充电电流值向所连接的内置电容器充电，并获取各内置电容器的检测电压值；
根据各充电电流值和各检测电压值确定所述待检测芯片的各内置电容器是否正确安装，生成检测结果。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述分别控制各待检测通道采用对应的充电电流值向所连接的内置电容器充电，并获取各内置电容器的检测电压值，包括：
针对每个待检测通道，控制所述待检测通道内的参数测量单元采用目标电流向所述待检测通道连接的内置电容器充电，并通过所述待检测通道内的模数转换芯片周期性地检测所述内置电容器的检测电压值；其中，所述目标电流的电流值为所述待检测通道所连接的内置电容器的充电电流值。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据各充电电流值和各检测电压值确定所述待检测芯片的各内置电容器是否正确安装，包括：
根据各内置电容器的充电电流值和检测电压值计算各内置电容器的检测电容值；
将各内置电容的检测电容值发送给上位机，以通过所述上位机根据各检测电容值确定待检测芯片的各内置电容器是否正确安装。
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据各内置电容器的充电电流值和检测电压值计算各内置电容器的检测电容值，包括：
针对每个内置电容器，根据所述内置电容器在各检测周期内的检测电压值确定所述内置电容器由预设最小电压值上升至预设最大电压值的电压上升时间；
根据所述充电电流值、所述电压上升时间以及所述预设最大电压值与所述预设最小电压值之间的电压差值计算所述内置电容器的检测电容值。
5.根据权利要求1-4任一所述的方法，其特征在于，还包括：
当各内置电容器的充电时间达到预设超时时间时，控制各待检测通道停止向所连接的内置电容器充电。
6.根据权利要求1-4任一所述的方法，其特征在于，在所述分别控制各待检测通道采用对应的充电电流值向所连接的内置电容器充电之前，还包括：
分别控制各待检测通道向所连接的内置电容器施加0v电压，以释放各内置电容器中的残存电荷。
7.根据权利要求1-4任一所述的方法，其特征在于，所述获取各待检测通道的充电电流值，包括：
获取各待检测通道所连接的内置电容器的电容器参数，所述电容器参数包括理论电容值、充电电流阈值和检测电压阈值；
根据预先设置的检测时间和所述电容器参数确定各待检测通道的充电电流值。
8.一种内置电容器的检测装置，其特征在于，
电流获取模块，用于获取各待检测通道的充电电流值，其中，待检测芯片的内置电容器通过所述待检测芯片的引脚与至少一个待检测通道相连；
电压检测模块，用于分别控制各待检测通道采用对应的充电电流值向所连接的内置电容器充电，并获取各内置电容器的检测电压值；
结果生成模块，用于根据各充电电流值和各检测电压值确定所述待检测芯片的各内置电容器是否正确安装，生成检测结果。
9.一种检测设备，其特征在于，包括：
一个或多个处理器；
存储器，用于存储一个或多个程序，
当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行，使得所述一个或多个处理器实现如权利要求1-7中任一所述的内置电容器的检测装置方法。
10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时实现如权利要求1-7中任一所述的内置电容器的检测装置方法。
技术总结