本发明涉及集成电路测试装置技术领域，更具体地说，涉及一种集成电路测试装置。
背景技术：
功能测试治具是一种用来测试半成品/成品或生产环节中的某一个工序，以此来判断被测对象是否达到了初始设计者目的的机械辅助设备，功能测试治具应用于模拟、数字、存储器、rf和电源电路，针对每一形式需要相对应的功能测试治具。
现有技术公开了申请号为：cn201420058509.7的一种集成电路测试装置，其特征在于导电体包括上焊盘、下焊盘和过孔；印制电路板上设置有多个孔，这些孔彼此不连通，印制电路板经蚀刻工艺去除了表层部分的铜，只保留了构成上焊盘和下焊盘的铜，上焊盘和下焊盘呈圆形；过孔位于上焊盘和下焊盘的中心，过孔是通过沉铜填充等工艺表面被填平，连接上焊盘和下焊盘，并贯穿印制电路板；导电体彼此之间不互相接触，并在导电体表面镀金，但是该现有技术在用探针对集成电路板进行测试时，不能根据不同的集成电路调节夹具大小，适用范围窄。
技术实现要素：
本发明提供了一种集成电路测试装置，旨在解决上述现有技术中不能根据不同的集成电路调节夹具大小、适用范围窄的问题。
为解决上述问题，本发明采用如下的技术方案：
一种集成电路测试装置，由第一支撑板、支撑架、电机、转轴、t形板、第一夹具以及第二夹具组成。
其中的，第一支撑板能够对支撑架、第一夹具以及第二夹具起到支撑的作用，所述第一支撑板的上表面开有一对第一滑槽，所述一对第一滑槽内滑动连接有一对第一滑块，所述一对第一滑块与一对第一滑槽一一对应，通过一对第一滑槽与一对第一滑块之间的相互配合，能够在进深方向上调节支撑架与第一夹具之间的距离。
其中的，支撑架能够对电机、转轴、t形板起到支撑的作用，支撑架焊接在所述一对第一滑块的上端，所述支撑架的正面焊接有限位柱。
其中的，电机为伺服电机，电机固定连接在所述支撑架的上表面上，所述电机的出口端通过联轴器连接有丝杆，所述丝杆贯穿支撑架，所述丝杆与支撑架之间通过轴承座转动连接在一起，且丝杆的外壁上同轴固定连接有转动柱。
其中的，转轴通过轴承转动连接在所述支撑架的正面，转轴的背面与转动柱的背面位于同一竖直平面上。
其中的，t形板焊接在所述支撑架的正面，所述t形板上滑动连接有移动板，t形板由圆柱体和长方体组成，t形板中的圆柱体与移动板滑动连接在一起，t形板中的长方体位于移动板的正面上，所述移动板的下端焊接有罩壳，所述罩壳的下端固定连接有测试探针本体。
其中的，第一夹具位于所述支撑架的前方，第一夹具固定连接在所述第一支撑板的上表面。
其中的，第二夹具位于所述第一夹具的右侧，第二夹具固定连接在所述第一支撑板的上表面，现有的集成电路测试装置不能根据不同的集成电路调节夹具大小，适用范围窄，因此通过第一夹具与第二夹具之间的相互配合，能够根据不同的集成电路调节第一夹具与第二夹具之间的距离，方便适用于各种集成电路。
作为本发明的一种优选方案，所述转轴的外壁上固定连接有第三支板，所述转轴贯穿第三支板，所述第三支板的下端焊接有第四支板，所述第四支板的正面焊接有限位板。
作为本发明的一种优选方案，所述转动柱的右侧壁上焊接有第二支板，所述第二支板与第三支板相互匹配，所述转动柱的左侧壁上焊接有第一支板，所述第一支板位于第二支板的前方。
作为本发明的一种优选方案，所述移动板的右侧壁上部焊接有第二耳板，所述第二耳板与第一支板相互匹配，所述移动板的右侧壁下部焊接有第三耳板，所述第三耳板与限位板相互匹配。
作为本发明的一种优选方案，所述移动板的左侧壁中部焊接有第一耳板，所述第一耳板与限位柱相互配合，所述移动板的的正面设置有第三滑槽，所述第三滑槽与t形板相互匹配。
作为本发明的一种优选方案，所述第一夹具包括第二支撑板，所述第二支撑板的上表面设置有第二滑槽，所述第二滑槽内滑动连接有第二滑块，所述第二滑块的上表面通过一对第一螺栓固定连接有定位板。
作为本发明的一种优选方案，所述定位板的上表面开有定位孔，所述定位孔与罩壳相互匹配，所述定位板的上表面左部开有一对调节槽，所述一对调节槽与一对第一螺栓一一对应，且一对调节槽与一对第一螺栓之间相互匹配。
作为本发明的一种优选方案，所述第二夹具包括固定板，所述固定板的左侧壁上固定连接有气缸，所述气缸的出口端焊接有调节板，所述调节板的左侧壁上开有固定孔，所述调节板的左侧壁通过第二螺栓固定连接有第一夹板，所述第一夹板的前方设置有第二夹板，所述第二夹板通过第三螺栓与调节板固定连接在一起。
相比于现有技术，本发明的优点在于：
（1）根据集成电路的大小将第一夹板与集成电路的背面紧贴在一起，通过第一夹板、固定孔与第二螺栓之间的相互配合，将第一夹板与调节板固定连接在一起，根据集成电路的大小将第二夹板与集成电路的正面紧贴在一起，通过第二夹板、固定孔与第三螺栓之间的相互配合，将第二夹板与调节板固定连接在一起，启动气缸推动调节板水平向左移动，从而将集成电路固定在第一夹具与第二夹具之间，从而实现能够根据不同的集成电路调节第一夹具与第二夹具之间的距离，方便适用于各种集成电路。
（2）启动电机驱动转动柱进行顺时针转动，转动柱的转动带动第二支板进行顺时针转动，当第二支板与第三支板接触时，在第二支板的推动下带动第三支板进行逆时针旋转，第三支板的转动带动限位板进行逆时针转动，限位板进行逆时针旋转时，移动板在自身的重力作用下竖直向下移动，移动板的移动带动测试探针本体竖直向下移动，通过第一耳板与限位柱之间的相互配合，直至第一耳板接触到限位柱时，关闭电机，使测试探针本体对集成电路进行检测。
附图说明
图1为本发明结构示意图；
图2为本发明图1中的a处结构放大示意图；
图3为本发明的侧视结构示意图；
图4为本发明的俯视结构示意图；
图5为本发明实施例中第一夹具结构示意图；
图6为本发明实施例中第二夹具结构示意图。
图中标号说明：
1、第一支撑板；2、支撑架；3、一对第一滑槽；4、一对第一滑块；5、测试探针本体；6、第一夹具；61、第二支撑板；62、第二滑槽；63、第二滑块；64、定位板；65、定位孔；66、一对调节槽；67、一对第一螺栓；7、第二夹具；71、固定板；72、气缸；73、调节板；74、固定孔；75、第二螺栓；76、第一夹板；77、第三螺栓；78、第二夹板；8、转动柱；9、电机；10、丝杆；11、第一支板；12、第二支板；13、转轴；14、第三支板；15、第四支板；16、限位板；17、t形板；18、移动板；19、限位柱；20、第一耳板；21、第二耳板；22、第三耳板；23、罩壳；24、第三滑槽。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
实施例：
请参阅图1-6，一种集成电路测试装置，由第一支撑板1、支撑架2、电机9、转轴13、t形板17、第一夹具6以及第二夹具7组成。
其中的，第一支撑板1能够对支撑架2、第一夹具6以及第二夹具7起到支撑的作用，第一支撑板1的上表面开有一对第一滑槽3，一对第一滑槽3内滑动连接有一对第一滑块4，一对第一滑块4与一对第一滑槽3一一对应，通过一对第一滑槽3与一对第一滑块4之间的相互配合，能够在进深方向上调节支撑架2与第一夹具6之间的距离。
其中的，支撑架2能够对电机9、转轴13、t形板17起到支撑的作用，支撑架2焊接在一对第一滑块4的上端，支撑架2的正面焊接有限位柱19。
其中的，电机9为伺服电机，电机9固定连接在支撑架2的上表面上，电机9的出口端通过联轴器连接有丝杆10，丝杆10贯穿支撑架2，丝杆10与支撑架2之间通过轴承座转动连接在一起，且丝杆10的外壁上同轴固定连接有转动柱8。
其中的，转轴13通过轴承转动连接在支撑架2的正面，转轴13的背面与转动柱8的背面位于同一竖直平面上。
其中的，t形板17焊接在支撑架2的正面，t形板17上滑动连接有移动板18，t形板17由圆柱体和长方体组成，t形板17中的圆柱体与移动板18滑动连接在一起，t形板17中的长方体位于移动板18的正面上，移动板18的下端焊接有罩壳23，罩壳23的下端固定连接有测试探针本体5。
其中的，第一夹具6位于支撑架2的前方，第一夹具6固定连接在第一支撑板1的上表面。
其中的，第二夹具7位于第一夹具6的右侧，第二夹具7固定连接在第一支撑板1的上表面，现有的集成电路测试装置不能根据不同的集成电路调节夹具大小，适用范围窄，因此通过第一夹具6与第二夹具7之间的相互配合，能够根据不同的集成电路调节第一夹具6与第二夹具7之间的距离，方便适用于各种集成电路。
具体的，转轴13的外壁上固定连接有第三支板14，第三支板14位于支撑架2的正面上，转轴13贯穿第三支板14，第三支板14的下端焊接有第四支板15，第四支板15的正面焊接有限位板16。
在进一步的实施例中，第三支板14的逆时针转动能够带动第四支板15进行逆时针旋转，第四支板15的转动能够带动限位板16进行逆时针转动。
具体的，转动柱8的右侧壁上焊接有第二支板12，第二支板12位于支撑架2的正面上，第二支板12与第三支板14相互匹配，转动柱8的左侧壁上焊接有第一支板11，第一支板11位于第二支板12的前方。
在进一步的实施例中，启动电机9驱动丝杆10进行顺时针转动，丝杆10的转动带动转动柱8进行顺时针转动，转动柱8的转动带动第二支板12进行顺时针转动，当第二支板12与第三支板14接触时，在第二支板12的推动下带动第三支板14进行逆时针旋转。
具体的，移动板18的右侧壁上部焊接有第二耳板21，第二耳板21与第一支板11相互匹配，移动板18的右侧壁下部焊接有第三耳板22，第三耳板22与限位板16相互匹配。
在进一步的实施例中，限位板16进行逆时针旋转时，移动板18在自身的重力作用下竖直向下移动，移动板18的移动带动罩壳23竖直向下移动，罩壳23的移动带动测试探针本体5竖直向下移动。
具体的，移动板18的左侧壁中部焊接有第一耳板20，第一耳板20为半圆环形，第一耳板20与限位柱19相互配合，移动板18的的正面设置有第三滑槽24，第三滑槽24与t形板17相互匹配。
在进一步的实施例中，通过第三滑槽24与t形板17之间的相互配合，能够使移动板18在竖直方向上移动，通过第一耳板20与限位柱19之间的相互配合，能够限制移动板18的下降范围。
具体的，第一夹具6包括第二支撑板61，第二支撑板61的上表面设置有第二滑槽62，第二滑槽62内滑动连接有第二滑块63，第二滑块63能够对定位板64起到支撑的作用，第二滑块63的上表面通过一对第一螺栓67固定连接有定位板64。
在进一步的实施例中，通过第二滑槽62与第二滑块63之间的相互配合，能够使定位板64在进深方向上移动。
具体的，定位板64的上表面开有定位孔65，定位孔65与罩壳23相互匹配，定位板64的上表面左部开有一对调节槽66，一对调节槽66与一对第一螺栓67一一对应，且一对调节槽66与一对第一螺栓67之间相互匹配。
在进一步的实施例中，将集成电路放置于定位板64的正下方，通过第二滑槽62与第二滑块63之间、一对调节槽66与一对第一螺栓67之间的相互配合，使定位孔65对准集成电路待检测的地方。
具体的，第二夹具7包括固定板71，固定板71的左侧壁上固定连接有气缸72，气缸72的出口端焊接有调节板73，调节板73的左侧壁上开有固定孔74，调节板73的左侧壁通过第二螺栓75固定连接有第一夹板76，第一夹板76的前方设置有第二夹板78，第二夹板78通过第三螺栓77与调节板73固定连接在一起。
在进一步的实施例中，根据集成电路的大小将第一夹板76与集成电路的背面紧贴在一起，通过第一夹板76、固定孔74与第二螺栓75之间的相互配合，将第一夹板76与调节板73固定连接在一起，根据集成电路的大小将第二夹板78与集成电路的正面紧贴在一起，通过第二夹板78、固定孔74与第三螺栓77之间的相互配合，将第二夹板78与调节板73固定连接在一起，启动气缸72推动调节板73水平向左移动，从而将集成电路固定在第一夹具6与第二夹具7之间。
电机9是现有设备，本案只是应用，其工作原理和电性连接关系属于现有技术，故不再赘述。
本实施例的工作原理：
将集成电路放置于定位板64的正下方，通过第二滑槽62与第二滑块63之间、一对调节槽66与一对第一螺栓67之间的相互配合，使定位孔65对准集成电路待检测的地方，通过一对第一滑槽3与一对第一滑块4之间的相互配合，将测试探针本体5移动到定位孔65的正上方；
根据集成电路的大小将第一夹板76与集成电路的背面紧贴在一起，通过第一夹板76、固定孔74与第二螺栓75之间的相互配合，将第一夹板76与调节板73固定连接在一起，根据集成电路的大小将第二夹板78与集成电路的正面紧贴在一起，通过第二夹板78、固定孔74与第三螺栓77之间的相互配合，将第二夹板78与调节板73固定连接在一起，启动气缸72推动调节板73水平向左移动，从而将集成电路固定在第一夹具6与第二夹具7之间；
启动电机9驱动丝杆10进行顺时针转动，丝杆10的转动带动转动柱8进行顺时针转动，转动柱8的转动带动第二支板12进行顺时针转动，当第二支板12与第三支板14接触时，在第二支板12的推动下带动第三支板14进行逆时针旋转，第三支板14的转动能够带动第四支板15进行逆时针旋转，第四支板15的转动能够带动限位板16进行逆时针转动，限位板16进行逆时针旋转时，移动板18在自身的重力作用下竖直向下移动，移动板18的移动带动罩壳23竖直向下移动，罩壳23的移动带动测试探针本体5竖直向下移动，通过第一耳板20与限位柱19之间的相互配合，直至第一耳板20接触到限位柱19时，关闭电机9，使测试探针本体5对集成电路进行检测；
检测结束后，关闭气缸72，启动电机9驱动丝杆10进行顺时针转动，丝杆10的转动带动转动柱8进行顺时针转动，转动柱8的转动带动第一支板11进行顺时针转动，当第一支板11与第二耳板21接触时，在第一支板11的推动下移动板18竖直向上移动，第三耳板22的上表面沿着限位板16的下表面滑动，直至第三耳板22位于限位板16的上表面上，此时，测试探针本体5竖直向上移动到初始位，关闭电机9，通过一对第一滑槽3与一对第一滑块4之间的相互配合，将支撑架2移到到初始位。
以上，仅为本发明较佳的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，根据本发明的技术方案及其改进构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本发明的保护范围内。
1.一种集成电路测试装置，其特征在于，包括：
第一支撑板（1），所述第一支撑板（1）的上表面开有一对第一滑槽（3），所述一对第一滑槽（3）内滑动连接有一对第一滑块（4），所述一对第一滑块（4）与一对第一滑槽（3）一一对应；支撑架（2），焊接在所述一对第一滑块（4）的上端，所述支撑架（2）的正面焊接有限位柱（19）；电机（9），固定连接在所述支撑架（2）的上表面上，所述电机（9）的出口端通过联轴器连接有丝杆（10），所述丝杆（10）贯穿支撑架（2），且丝杆（10）的外壁上同轴固定连接有转动柱（8）；转轴（13），通过轴承转动连接在所述支撑架（2）的正面；
t形板（17），焊接在所述支撑架（2）的正面，所述t形板（17）上滑动连接有移动板（18），所述移动板（18）的下端焊接有罩壳（23），所述罩壳（23）的下端固定连接有测试探针本体（5）；第一夹具（6），位于所述支撑架（2）的前方，固定连接在所述第一支撑板（1）的上表面；第二夹具（7），位于所述第一夹具（6）的右侧，固定连接在所述第一支撑板（1）的上表面。
2.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置，其特征在于：所述转轴（13）的外壁上固定连接有第三支板（14），所述转轴（13）贯穿第三支板（14），所述第三支板（14）的下端焊接有第四支板（15），所述第四支板（15）的正面焊接有限位板（16）。
3.根据权利要求2所述的一种集成电路测试装置，其特征在于：所述转动柱（8）的右侧壁上焊接有第二支板（12），所述第二支板（12）与第三支板（14）相互匹配，所述转动柱（8）的左侧壁上焊接有第一支板（11），所述第一支板（11）位于第二支板（12）的前方。
4.根据权利要求3所述的一种集成电路测试装置，其特征在于：所述移动板（18）的右侧壁上部焊接有第二耳板（21），所述第二耳板（21）与第一支板（11）相互匹配，所述移动板（18）的右侧壁下部焊接有第三耳板（22），所述第三耳板（22）与限位板（16）相互匹配。
5.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置，其特征在于：所述移动板（18）的左侧壁中部焊接有第一耳板（20），所述第一耳板（20）与限位柱（19）相互配合，所述移动板（18）的的正面设置有第三滑槽（24），所述第三滑槽（24）与t形板（17）相互匹配。
6.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置，其特征在于：所述第一夹具（6）包括第二支撑板（61），所述第二支撑板（61）的上表面设置有第二滑槽（62），所述第二滑槽（62）内滑动连接有第二滑块（63），所述第二滑块（63）的上表面通过一对第一螺栓（67）固定连接有定位板（64）。
7.根据权利要求6所述的一种集成电路测试装置，其特征在于：所述定位板（64）的上表面开有定位孔（65），所述定位孔（65）与罩壳（23）相互匹配，所述定位板（64）的上表面左部开有一对调节槽（66），所述一对调节槽（66）与一对第一螺栓（67）一一对应，且一对调节槽（66）与一对第一螺栓（67）之间相互匹配。
8.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置，其特征在于：所述第二夹具（7）包括固定板（71），所述固定板（71）的左侧壁上固定连接有气缸（72），所述气缸（72）的出口端焊接有调节板（73），所述调节板（73）的左侧壁上开有固定孔（74），所述调节板（73）的左侧壁通过第二螺栓（75）固定连接有第一夹板（76），所述第一夹板（76）的前方设置有第二夹板（78），所述第二夹板（78）通过第三螺栓（77）与调节板（73）固定连接在一起。
技术总结