本发明涉及上料机领域，特别是涉及一种全自动芯片老化测试及pcb屏蔽测试上料机。
背景技术：
器件复杂度越来越高，为了保证出厂的器件没有问题，需要在出厂前进行测试以确保功能完整性。老化测试可以用来作为器件可靠性的检测或生产窗口来发现器件的早期故障，器件老化测试是一种采用电压和高温来加速器件电学故障的电应力测试方法，老化过程基本上模拟了器件整个寿命，因为老化过程中应用的电激励反映了器件工作的最坏情况，根据不同的老化时间，所得资料可能涉及到器件的早期寿命或磨损程度。而器件作为一个大规模生产的东西，大规模自动化测试是唯一的解决办法，电磁干扰/emi是整个电子领域必须面临和克服的一个问题，一般在无线通讯产品比如：手机、无线网卡、无线路由器、无线耳机、蓝牙耳机、wi-fi、wimax、数据卡、对讲机、rfid等等无线通讯类设备和无线通讯类模块等在进行板测、终测过程中，都是通过使用射频测试屏蔽箱来改善测试环境的。屏蔽箱又名屏蔽盒、隔离箱。是利用导电或者导磁材料制成的各种形状的屏蔽体，将电磁能力限制在一定空间范围内，用于抑制辐射干扰的金属体。并对传导和辐射进行处理，以实现给被测无线通讯设备提供无干扰的测试环境的设备。主要服务于各种从事无线电子产品、无线通讯产品生产及研发的企业，以及各类电子、电器消费类产品生产企业等。随着行业的发展，人工进行屏蔽测试的行为终将被自动化设备所替代。现在的测试设备都是人工操作，需要先将测试的器件装入器件测试盘内，然后才能放到测试柜里进行测试，使得工作效率低。
技术实现要素：
本发明的目的是提供一种全自动芯片老化测试及pcb屏蔽测试上料机，解决了人工将器件放入器件测试盘内的操作导致的工作效率低的问题，为全自动器件测试流水线奠定了基础，提高工作效率。
为实现上述目的，本发明提供了如下方案：
一种全自动芯片老化测试及pcb屏蔽测试上料机，包括：控制器、器件抓取机构、器件自动上料机和器件测试盘自动上料机；
所述器件抓取机构与所述控制器连接，所述器件自动上料机用于将存放有待测试器件的料盘传送至器件取料区，所述器件测试盘自动上料机用于将空的器件测试盘传送至器件放置区，所述控制器用于控制所述器件抓取机构将所述器件取料区内的待测试器件抓取到所述器件放置区内的所述器件测试盘内。
可选的，所述器件测试盘上料机包括：第一传送轨道和器件测试盘仓，所述器件测试盘仓设置在所述第一传送轨道的上盘区，所述器件测试盘仓用于存放空的器件测试盘，所述第一传送轨道用于将所述器件测试盘仓内的器件测试盘传送到所述器件放置区，并将所述器件放置区内放置有器件的器件测试盘传送至测试区。
可选的，所述器件自动上料机包括：第二传送轨道、进盘仓和出盘仓，所述进盘仓设置在所述第二传送轨道的上盘区，所述出盘仓设置在所述第二传送轨道的出盘区，所述进盘仓用于存储存放有所述待测试器件的料盘，所述出盘仓用于存储所述器件抓取机构抓取后的空料盘，所述第二传送轨道用于将所述进盘仓内存放有待测试器件的料盘传送至所述器件取料区，并将所述器件抓取机构抓取后的空料盘传送至所述出盘仓。
可选的，所述全自动芯片老化测试及pcb屏蔽测试上料机，还包括：扫码器，所述扫码器与所述控制器连接，所述扫码器用于对所述器件测试盘设置的二维码进行扫描，以获取对应器件的器件信息，所述器件信息包括：器件的种类、数量和测试内容，所述控制器用于将所述器件信息传送给测试区内的全自动老化测试及pcb屏蔽测试机。
可选的，所述全自动芯片老化测试及pcb屏蔽测试上料机，还包括：传送装置，所述传送装置设置在所述第一传送轨道的上盘区，所述传送装置用于向所述器件测试盘仓内添加空的器件测试盘。
可选的，所述第二传送轨道为四个。
可选的，所述传送装置为agv小车。
可选的，所述器件测试盘仓至少存放20个器件测试盘，所述器件测试盘上至少设置有64个器件测试座。
可选的，所述全自动芯片老化测试及pcb屏蔽测试上料机，还包括：电脑显示屏，所述电脑显示屏与所述控制器连接。
可选的，所述进盘仓至少存放20个所述料盘。
根据本发明提供的具体实施例，本发明公开了以下技术效果：本发明通过设置控制器、器件抓取机构、器件自动上料机和器件测试盘自动上料机，全自动化将待测试器件抓取到器件测试盘内，代替人工手动将待测试器件放置器件测试盘内，为全自动器件测试流水线奠定了基础，提高工作效率。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例提供的全自动芯片老化测试及pcb屏蔽测试上料机的俯视图；
图2为本发明实施例提供的全自动芯片老化测试及pcb屏蔽测试上料机的结构示意图。
符号说明：
1-器件抓取机构、2-器件自动上料机、3-器件测试盘自动上料机、4-进盘仓、5-出盘仓、6-电脑显示屏、7-agv小车、8-器件取料区、9-扫码器、10-第一传送轨道、11-器件测试盘仓、12-器件测试盘、13-机器钣金。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细的说明。
如图1-图2所示，本实施例提供了一种全自动芯片老化测试及pcb屏蔽测试上料机，所述全自动芯片老化测试及pcb屏蔽测试上料机包括：控制器、器件抓取机构1、器件自动上料机2和器件测试盘自动上料机3。
所述器件抓取机构1与所述控制器连接，所述器件自动上料机2用于将存放有待测试器件的料盘传送至器件取料区8，所述器件测试盘自动上料机3用于将空的器件测试盘12传送至器件放置区，所述控制器用于控制所述器件抓取机构1将所述器件取料区8内的待测试器件抓取到所述器件放置区内的所述器件测试盘12内，器件测试盘12用来装载待测试器件，其中器件抓取机构1由x轴、y轴、z轴和旋转z轴组成，带动抓取的器件放到器件测试盘12的座口内，所述器件可以为芯片或pcb模块。
作为一种可选的实施方式，所述器件测试盘12上料机包括：第一传送轨道10和器件测试盘仓11，所述器件测试盘仓11设置在所述第一传送轨道10的上盘区，所述器件测试盘仓11用于存放空的器件测试盘12，所述第一传送轨道10用于将所述器件测试盘仓11内的器件测试盘12传送到所述器件放置区，并将所述器件放置区内放置有器件的器件测试盘12传送至测试区，所述器件测试盘仓11至少存放20个器件测试盘12，所述器件测试盘12上至少设置有64个器件测试座。
作为一种可选的实施方式，所述器件自动上料机2包括：第二传送轨道、进盘仓4和出盘仓5，所述进盘仓4设置在所述第二传送轨道的上盘区，所述出盘仓5设置在所述第二传送轨道的出盘区，所述进盘仓4用于存储存放有所述待测试器件的料盘，所述出盘仓5用于存储所述器件抓取机构1抓取后的空料盘，所述第二传送轨道用于将所述进盘仓4内存放有待测试器件的料盘传送至所述器件取料区8，并将所述器件抓取机构1抓取后的空料盘传送至所述出盘仓5，所述第二传送轨道为四个。
作为一种可选的实施方式，所述全自动芯片老化测试及pcb屏蔽测试上料机，还包括：扫码器9，所述扫码器9与所述控制器连接，所述扫码器9用于对所述器件测试盘12设置的二维码进行扫描，以获取对应器件的器件信息，所述器件信息包括：器件的种类、数量和测试内容，所述扫码器9可以和器件抓取机构1的z轴固定在一起，随器件抓取机构1一起运动，所述控制器用于将所述器件信息传送给测试区内的全自动芯片老化测试及pcb屏蔽测试机，以待测试使用。
作为一种可选的实施方式，所述全自动芯片老化测试pcb屏蔽测试上料机，还包括：传送装置，所述传送装置设置在所述第一传送轨道10的上盘区，所述传送装置用于将空的器件测试盘12从指定的地点搬运到器件测试盘12上料机的器件测试盘仓11内，代替人工添加空的器件测试盘12，向所述器件测试盘仓11内添加空的器件测试盘12，所述传送装置为agv小车7。
作为一种可选的实施方式，所述全自动芯片老化测试及pcb屏蔽测试上料机，还包括：电脑显示屏6，所述电脑显示屏6与所述控制器连接，工作的实时动态也可以通过电脑显示屏6进行查看，方便快捷。
作为一种可选的实施方式，所述进盘仓4至少存放20个所述料盘，所以每次人工添加料盘时可放置大量的料盘，即大量需要测试的器件，能够满足大批量的器件测试，且减少人工加料次数。
作为一种可选的实施方式，所述全自动芯片老化测试及pcb屏蔽测试上料机还包括：机器钣金13，所述机器钣金13由方管和spcc板焊接折弯拼装完成，用来固定器件自动上料机2，传送轨道等机构，机器钣金13采用焊接等方式，使整机框架牢固稳定。钣金下为可调节螺纹地脚，方便与全自动测试设备对接。
下面对本实施例提供的全自动芯片老化测试及pcb屏蔽测试上料机的各部分结构的功能进行具体描述：
器件自动上料机：器件自动上料机由进盘仓、出盘仓和器件取料区组成。进盘仓用来放置需要测试的盘装器件；出盘仓用来储存抓取完测试器件的空料盘；器件取料区是器件抓取机构抓取器件的位置。器件自动上料机将进盘仓的满载器件的料盘运送到器件取料区，供器件抓取机构抓取，抓取完毕后将空料盘运送到出盘仓内。器件自动上料机由4条轨道，每条轨道都具备进盘仓；出盘仓和器件取料区，且每个进盘仓都可以放置20盘以上的料盘，所以每次人工添加料盘时可放置大量的器件料盘，即大量需要测试的器件，所以能够满足大批量的器件测试，且减少人工加料次数。
器件测试盘：器件测试盘用来装载需要测试的器件，每个器件测试盘上有64个或更多器件测试座，可以放置64片或更多测试器件，并且每个器件测试盘上都单独配有二维码，对每块测试盘做标记。在整个测试过程中起到了方便器件装载和运输的效果；设置多个座口，可以增加测试数量；器件内嵌，可以固定和保护运输过程中的器件安全；内与每个器件检测点位连接，外有接头会与自动测试柜连接，起沟通桥梁作用。
器件测试盘上料机：器件测试盘放置在器件测试盘上料机的器件测试盘仓内，器件测试盘仓可放置20片以上器件测试盘。器件测试盘上料机通过内部丝杆传动，将器件测试盘上升搬运到第一传送轨道内，随第一传送轨道一起向下运动。
第一传送轨道；第一传送轨道的作用是带动上面的器件测试盘运动到指定的位置，在这个位置开始编辑器件测试盘上二维码信息和给器件测试盘装入需要测试的器件。完成工作后第一传送轨道继续带动器件测试盘先下运动，将器件测试盘传送到全自动芯片老化测试及pcb屏蔽测试机上的传送轨道。故第一传送轨道后端是与全自动芯片老化测试及pcb屏蔽测试机上的轨道对接在一起的。
扫码器：扫码器和器件抓取机构的z轴固定在一起，随器件抓取机构一起运动；用来扫描器件测试盘上的二维码。器件测试盘到达指定位置后，扫码器移动到器件测试盘的二维码上方，读取二维码，并在二维码上添加指定的信息，例如将要装入器件的信号及数量等。
电脑显示屏：全自动芯片老化测试及pcb屏蔽测试上料机单独运动，具有独立的工控机，故具有单独的显示屏，本机的操作都可以通过电脑显示屏进行控制，工作的实时动态也可以通过显示屏进行查看，方便快捷。
agv小车：该小车是作用的将空的器件测试盘从指定的地点搬运到器件测试盘上料机的器件测试盘仓内，代替人工添加空的器件测试盘。选配，可人工添加器件测试盘不用agv小车。
下面提供了本发明全自动芯片老化测试及pcb屏蔽测试上料机的工作流程：
a.调整地脚。将该设备固定与全自动芯片老化测试及pcb屏蔽测试机对接，连接电源和气管。
b.在器件自动上料机的进盘仓放入需要测试的器件。在器件测试盘上料机的器件测试盘仓内放入空的器件测试盘。
c.开机，器件自动上料机开始工作。将载有器件的料盘运送到器件取料区，同时器件测试盘上料机工作将器件测试盘运送到传送轨道上，并由传送轨道运送到传送轨道上的自动位置并保持器件测试盘静止不动。
d.通过电脑显示屏操作移动器件抓取机构，由器件抓取机构上的相机确认器件取料区要抓取器件的位置和器件在器件测试盘上放置的位置以及高度后保存，继续移动器件抓取机构带动扫码器移动到器件测试盘的二维码上方，保存扫码位置。
e.输入本次需要抓取的测试器件种类和测试内容，可输入多个器件种类并保存。
f.开始工作，器件抓取机构带动扫码器移动到器件测试盘二维码上方，读取器件测试盘上的二维码，传输给电脑主机，主机编辑该二维码对应的器件信息等并保存，传输给后端全全自动芯片老化测试及pcb屏蔽测试机以待测试使用。
g.器件抓取机构继续移动到器件取料区抓取需要测试的器件，搬运到器件测试盘的测试座内，重复此操作，直到器件测试盘内的所有测试座内放满器件。
h.传送轨道开始运动，将满载器件的器件测试盘运送出全自动芯片老化测试及pcb屏蔽测试上料机，运送到后端的全自动芯片老化测试及pcb屏蔽测试机的传送轨道上，与此同时，器件测试盘上料机开始运动，将器件测试盘仓的空的器件测试盘搬运到传送轨道上，由传送轨道将器件测试盘搬运到指定位置。
i.重复f-g的工作，直到器件取料区第一次搬运来的料盘上的器件全部抓取完后，器件自动上料机将空的料盘运送到出盘仓内，然后从进盘仓取出新的待测试的器件料盘，运送到器件取料去。或者直到器件测试盘仓内的器件测试盘使用完毕，主机会给agv小车加料信号，小车运动到指定位置，装载一定数量的空的器件测试盘，搬运到器件测试盘仓内，添加新的器件测试盘。
j.继续重复f-i工作，直到所有放入的器件全部抓取完毕，机器报警提示继续添加需要测试的器件。
k.再次重复f-j工作，直到本工单所有的器件测试完成后单独保存本次所有的器件测试盘的器件测试内容，待后期测试数据对比时使用。
l.本次器件测试完成。该全自动芯片老化测试及pcb屏蔽测试上料机工作结束。
本发明全自动芯片老化测试及pcb屏蔽测试上料机的优点：
1、器件自动上料机有4条料盘通道，可同时容纳大量的测试器件，满足器件的大量测试，减少人工放料次数，另外4条通道也可分别放置不同种类的测试器件，同样是减少人工操作次数，实现更全面的自动化。
2、每块器件测试盘上有独一无二的二维码，添加扫码器扫取二维码，单独保存每块器件测试盘的放置器件种类和数量以及测试内容等，方便后期测试的信息读取以及做的测试内容的安排。从一开始就对测试器件记录备案在对应的二维码上，避免测试内容及测试结果出现混乱。
3、在大量器件测试过程中，需要大量的器件测试盘，添加agv小车，自动添加器件测试盘，极大的减少人工操作。
4、整个机器代替人工将测试器件放入器件测试盘内，即比人工效率高，又能高效无误的记录每块器件测试盘的内容，完美的替代人工进行器件测试的第一步-器件放入器件测试盘内。后段可人工放入一般的测试柜进行测试，也是极大的减少了人力资源。
5、本台全自动芯片老化测试及pcb屏蔽测试上料机可与全自动芯片老化测试及pcb屏蔽测试机配合使用，由传送轨道对接，将装载器件的器件测试盘送入全自动芯片老化测试及pcb屏蔽测试机内进行测试，为整条全自动芯片老化测试及pcb屏蔽测试流水线的前端打下了坚实的基础。
本说明书中各个实施例采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。
本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本发明的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处。综上所述，本说明书内容不应理解为对本发明的限制。
1.一种全自动芯片老化测试及pcb屏蔽测试上料机，其特征在于，包括：控制器、器件抓取机构、器件自动上料机和器件测试盘自动上料机；
所述器件抓取机构与所述控制器连接，所述器件自动上料机用于将存放有待测试器件的料盘传送至器件取料区，所述器件测试盘自动上料机用于将空的器件测试盘传送至器件放置区，所述控制器用于控制所述器件抓取机构将所述器件取料区内的待测试器件抓取到所述器件放置区内的所述器件测试盘内。
2.根据权利要求1所述的一种全自动芯片老化测试及pcb屏蔽测试上料机，其特征在于，所述器件测试盘上料机包括：第一传送轨道和器件测试盘仓，所述器件测试盘仓设置在所述第一传送轨道的上盘区，所述器件测试盘仓用于存放空的器件测试盘，所述第一传送轨道用于将所述器件测试盘仓内的器件测试盘传送到所述器件放置区，并将所述器件放置区内放置有器件的器件测试盘传送至测试区。
3.根据权利要求1所述的一种全自动芯片老化测试及pcb屏蔽测试上料机，其特征在于，所述器件自动上料机包括：第二传送轨道、进盘仓和出盘仓，所述进盘仓设置在所述第二传送轨道的上盘区，所述出盘仓设置在所述第二传送轨道的出盘区，所述进盘仓用于存储存放有所述待测试器件的料盘，所述出盘仓用于存储所述器件抓取机构抓取后的空料盘，所述第二传送轨道用于将所述进盘仓内存放有待测试器件的料盘传送至所述器件取料区，并将所述器件抓取机构抓取后的空料盘传送至所述出盘仓。
4.根据权利要求1所述的一种全自动芯片老化测试及pcb屏蔽测试上料机，其特征在于，还包括：扫码器，所述扫码器与所述控制器连接，所述扫码器用于对所述器件测试盘设置的二维码进行扫描，以获取对应器件的器件信息，所述器件信息包括：器件的种类、数量和测试内容，所述控制器用于将所述器件信息传送给测试区内的全自动芯片老化测试及pcb屏蔽测试机。
5.根据权利要求2所述的一种全自动芯片老化测试及pcb屏蔽测试上料机，其特征在于，还包括：传送装置，所述传送装置设置在所述第一传送轨道的上盘区，所述传送装置用于向所述器件测试盘仓内添加空的器件测试盘。
6.根据权利要求3所述的一种全自动芯片老化测试及pcb屏蔽测试上料机，其特征在于，所述第二传送轨道为四个。
7.根据权利要求5所述的一种全自动芯片老化测试及pcb屏蔽测试上料机，其特征在于，所述传送装置为agv小车。
8.根据权利要求2所述的一种全自动芯片老化测试及pcb屏蔽测试上料机，其特征在于，所述器件测试盘仓至少存放20个器件测试盘，所述器件测试盘上至少设置有64个器件测试座。
9.根据权利要求1所述的一种全自动芯片老化测试及pcb屏蔽测试上料机，其特征在于，还包括：电脑显示屏，所述电脑显示屏与所述控制器连接。
10.根据权利要求3所述的一种全自动芯片老化测试及pcb屏蔽测试上料机，其特征在于，所述进盘仓至少存放20个所述料盘。
技术总结