本发明涉及固态硬盘，更具体地说是指ssd安全掉电测试方法、装置、计算机设备及存储介质。
背景技术：
ssd(solidstatedisk或solidstatedrive)，俗称固态硬盘。固态硬盘是用固态电子存储芯片阵列制成的硬盘。
在对nvmessd的安全掉电测试方法中，大部分主机是windows系统的并且需要其他硬件设备的辅助，若其他硬件设备出现问题时，则无法执行ssd的安全掉电测试，使得整个产品的研发进度受到很大的影响。
因此，有必要设计一种新的方法，实现不依赖于任何辅助硬件设备地进行ssd安全掉电测试。
技术实现要素：
本发明的目的在于克服现有技术的缺陷，提供ssd安全掉电测试方法、装置、计算机设备及存储介质。
为实现上述目的，本发明采用以下技术方案：ssd安全掉电测试方法，包括：
设置环境参数；
获取待测试ssd；
对待测试ssd按照测试脚本进行掉电测试，以得到日志文件；
对所述日志文件进行解析，以得到测试结果。
其进一步技术方案为：所述设置环境参数，包括：
安装linux系统及测试硬盘使用状态和预期寿命的应用程序。
其进一步技术方案为：所述对待测试ssd按照测试脚本进行掉电测试，以得到日志文件，包括：
获取待测试ssd在测试前的硬盘使用状态和预期寿命，以得到初始信息；
设置当前状态为休眠状态；
对待测试ssd发送掉电通知，以使得待测试ssd进入掉电状态；
获取待测试ssd进入掉电状态后的硬盘使用状态、预期寿命、上电次数、异常掉电次数，以得到测试信息；
根据所述初始信息以及测试信息生成日志文件。
其进一步技术方案为：所述获取待测试ssd在测试前的硬盘使用状态和预期寿命，以得到初始信息之后，还包括：
保存所述初始信息。
其进一步技术方案为：所述获取待测试ssd进入掉电状态后的硬盘使用状态和预期寿命，以得到测试信息之后，还包括：
保存所述测试信息。
其进一步技术方案为：所述对所述日志文件进行解析，以得到测试结果，包括：
判断所述日志文件内测试后的硬盘使用状态、预期寿命、上电次数是否均增加；
若测试后的硬盘使用状态、预期寿命、上电次数均增加，则获取上电次数增加的次数，以得到上电增加次数；
判断所述上电增加次数是否与测试的次数相同；
若所述上电增加次数与测试的次数相同，则判断所述异常掉电次数是否保持不变；
若所述异常掉电次数保持不变，则所述测试结果为ssd安全掉电。
其进一步技术方案为：所述判断所述日志文件内测试后的硬盘使用状态、预期寿命、上电次数是否均增加之后，还包括：
若测试后的硬盘使用状态、预期寿命、上电次数不是都增加，则所述测试结果为ssd非安全掉电。
本发明还提供了ssd安全掉电测试装置，包括：
参数设置单元，用于设置环境参数；
获取单元，用于获取待测试ssd；
测试单元，用于对待测试ssd按照测试脚本进行掉电测试，以得到日志文件；
解析单元，用于对所述日志文件进行解析，以得到测试结果。
本发明还提供了一种计算机设备，所述计算机设备包括存储器及处理器，所述存储器上存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述的方法。
本发明还提供了一种存储介质，所述存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时可实现上述的方法。
本发明与现有技术相比的有益效果是：本发明通过设置服务器的环境为linux系统并设置有用于测试硬盘使用状态和预期寿命的应用程序，利用该应用程序获取待测试ssd测试前的初始信息和测试后的测试信息，将两者进行对比判断，以确定待测试ssd是否处于安全掉电状态，实现不依赖于任何辅助硬件设备地进行ssd安全掉电测试。
下面结合附图和具体实施例对本发明作进一步描述。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例提供的ssd安全掉电测试方法的应用场景示意图；
图2为本发明实施例提供的ssd安全掉电测试方法的流程示意图；
图3为本发明实施例提供的ssd安全掉电测试方法的子流程示意图；
图4为本发明实施例提供的ssd安全掉电测试方法的子流程示意图；
图5为本发明实施例提供的ssd安全掉电测试装置的示意性框图；
图6为本发明实施例提供的ssd安全掉电测试装置的测试单元的示意性框图；
图7为本发明实施例提供的ssd安全掉电测试装置的解析单元的示意性框图；
图8为本发明实施例提供的计算机设备的示意性框图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
应当理解，当在本说明书和所附权利要求书中使用时，术语“包括”和“包含”指示所描述特征、整体、步骤、操作、元素和/或组件的存在，但并不排除一个或多个其它特征、整体、步骤、操作、元素、组件和/或其集合的存在或添加。
还应当理解，在此本发明说明书中所使用的术语仅仅是出于描述特定实施例的目的而并不意在限制本发明。如在本发明说明书和所附权利要求书中所使用的那样，除非上下文清楚地指明其它情况，否则单数形式的“一”、“一个”及“该”意在包括复数形式。
还应当进一步理解，在本发明说明书和所附权利要求书中使用的术语“和/或”是指相关联列出的项中的一个或多个的任何组合以及所有可能组合，并且包括这些组合。
请参阅图1和图2，图1为本发明实施例提供的ssd安全掉电测试方法的应用场景示意图。图2为本发明实施例提供的ssd安全掉电测试方法的示意性流程图。该ssd安全掉电测试方法应用于服务器中，该服务器带有主盘和从盘，从盘放置待测试ssd即待测试的nvmessd；主盘内放入sata硬盘；服务器与待测试ssd进行数据交互，实现基于linux系统调用rtc(实时时钟，realtimeclock)测试从盘ssd安全掉电，rtc是主板上电池供电的硬件时钟，具体地，内部命令rtcwake-mmem-sx，服务器进入sleep状态，内存之外其他设备都进入低功耗模式，对应acpistates3，x秒后唤醒。
图2是本发明实施例提供的ssd安全掉电测试方法的流程示意图。如图2所示，该方法包括以下步骤s110至s140。
s110、设置环境参数。
在本实施例中，环境参数包括系统的种类以及携带可用于测试硬盘使用状态和预期寿命的应用程序。
具体地，安装linux系统及测试硬盘使用状态和预期寿命的应用程序即nvme-cli，并在主盘内放置sata硬盘。
具体地，主盘安装linux系统(实测fedora、ubuntu，以fedora为例)；安装python，版本需要3.0以上；安装nvme-cli，nvme-cli是一种linux系统的常用nvmessd工具，用于获取ssdsmart信息，smart信息是self-monitoringanalysisandreportingtechnology，可展示ssd的当前状态，能够让用户评估硬盘使用状态和预期寿命。
s120、获取待测试ssd；
s130、对待测试ssd按照测试脚本进行掉电测试，以得到日志文件。
在本实施例中，日志文件是指一个包括有测试前待测试ssd的相关信息以及测试后待测试ssd的相关信息的文件。
具体地，运行python测试脚本：
其中，python是一种结合了解释性、编译性、互动性和面向对象的脚本语言。
在一实施例中，请参阅图3，上述的步骤s130可包括步骤s131～s137。
s131、获取待测试ssd在测试前的硬盘使用状态和预期寿命，以得到初始信息。
在本实施例中，初始信息包括待测试ssd在测试前的硬盘使用状态和预期寿命。
s132、保存所述初始信息。
具体地，调用nvme-cli获取待测试ssd测试前的smart信息，并保存到before.txt文本。
s133、设置当前状态为休眠状态。
运行命令rtcwake-mmem-sj，服务器进入休眠状态，设定若干秒后唤醒，其中j为若干秒。
s134、对待测试ssd发送掉电通知，以使得待测试ssd进入掉电状态。
服务器进入休眠状态前会保存系统数据到内存，并向待测试ssd发送掉电通知，由于待测试ssd位于从盘，不需要参与系统数据保存的行为，在收到掉电通知后执行了完全的安全掉电。
s135、获取待测试ssd进入掉电状态后的硬盘使用状态、预期寿命、上电次数、异常掉电次数，以得到测试信息。
在本实施例中，测试信息包括待测试ssd进入掉电状态后的硬盘使用状态、预期寿命、上电次数、异常掉电次数。
s136、保存所述测试信息。
具体地，调用nvme-cli获取待测试ssd测试后的smart信息，并保存到after.txt文本。
s137、根据所述初始信息以及测试信息生成日志文件。
将所述初始信息以及测试信息统一放入到一个文件内，由此形成日志文件。
s140、对所述日志文件进行解析，以得到测试结果。
在本实施例中，测试结果是指待测试ssd是处于安全掉电状态是处于非安全掉电状态。
在一实施例中，请参阅图4，上述的步骤s140可包括步骤s141～s146。
s141、判断所述日志文件内测试后的硬盘使用状态、预期寿命、上电次数是否均增加；
日志文件内包括有待测试ssd测试前和测试后的信息，将测试前的初始信息与测试后的测试信息进行对比，便可得到硬盘使用状态、预期寿命以及上电次数的变化情况，只有这三者都是增加的，才表明当前的ssd进入掉电状态，若这三者不是都增加，则当前的ssd非安全掉电，可以处于无法掉电或者异常掉电状态。
s142、若测试后的硬盘使用状态、预期寿命、上电次数不是都增加，则所述测试结果为ssd非安全掉电。
s143、若测试后的硬盘使用状态、预期寿命、上电次数均增加，则获取上电次数增加的次数，以得到上电增加次数。
在本实施例中，上电增加次数是指此次测试后上电次数增加的次数。
s144、判断所述上电增加次数是否与测试的次数相同；
若所述上电增加次数与测试的次数不相同，则执行所述步骤s142。
s145、若所述上电增加次数与测试的次数相同，则判断所述异常掉电次数是否保持不变；
s146、若所述异常掉电次数保持不变，则所述测试结果为ssd安全掉电。
若所述异常掉电次数不是保持不变，则执行所述步骤s142。
当硬盘使用状态、预期寿命、上电次数均增加，则表明当前ssd进入掉电状态，通过上电增加次数与测试次数的对比，当上电增加次数与测试测试一致时，表明当前ssd从次数上满足安全掉电的条件，当异常掉电次数也保持不变时，则表明当前ssd掉电的过程中并未出现异常掉电情况，因此，可断定待测试ssd是处于安全掉电状态的。所得的测试结果可以在终端上呈现或者是供后续产品研发作为判定条件之一使用。
上述的ssd安全掉电测试方法，通过设置服务器的环境为linux系统并设置有用于测试硬盘使用状态和预期寿命的应用程序，利用该应用程序获取待测试ssd测试前的初始信息和测试后的测试信息，将两者进行对比判断，以确定待测试ssd是否处于安全掉电状态，实现不依赖于任何辅助硬件设备地进行ssd安全掉电测试。
图5是本发明实施例提供的一种ssd安全掉电测试装置300的示意性框图。如图5所示，对应于以上ssd安全掉电测试方法，本发明还提供一种ssd安全掉电测试装置300。该ssd安全掉电测试装置300包括用于执行上述ssd安全掉电测试方法的单元，该装置可以被配置于服务器中。具体地，请参阅图5，该ssd安全掉电测试装置300包括参数设置单元301、获取单元302、测试单元303以及解析单元304。
参数设置单元301，用于设置环境参数；获取单元302，用于获取待测试ssd；测试单元303，用于对待测试ssd按照测试脚本进行掉电测试，以得到日志文件；解析单元304，用于对所述日志文件进行解析，以得到测试结果。
在一实施例中，上述的参数设置单元301，用于安装linux系统及测试硬盘使用状态和预期寿命的应用程序。
在一实施例中，如图6所示，所述测试单元303包括初始信息获取子单元3031、状态设置子单元3033、发送子单元3034、测试信息获取子单元3035以及文件生成子单元3037。
初始信息获取子单元3031，用于获取待测试ssd在测试前的硬盘使用状态和预期寿命，以得到初始信息；状态设置子单元3033，用于设置当前状态为休眠状态；发送子单元3034，用于对待测试ssd发送掉电通知，以使得待测试ssd进入掉电状态；测试信息获取子单元3035，用于获取待测试ssd进入掉电状态后的硬盘使用状态、预期寿命、上电次数、异常掉电次数，以得到测试信息；文件生成子单元3037，用于根据所述初始信息以及测试信息生成日志文件。
在一实施例中，如图6所示，所述测试单元303还包括第一保存子单元3032以及第二保存子单元3036。
所述第一保存子单元3032，用于保存所述初始信息。所述第二保存子单元3036，用于保存所述测试信息。
在一实施例中，如图7所示，所述解析单元304包括第一判断子单元3041、次数获取子单元3042、第二判断子单元3043以及次数判断子单元3044。
第一判断子单元3041，用于判断所述日志文件内测试后的硬盘使用状态、预期寿命、上电次数是否均增加；若测试后的硬盘使用状态、预期寿命、上电次数不是都增加，则所述测试结果为ssd非安全掉电。次数获取子单元3042，用于若测试后的硬盘使用状态、预期寿命、上电次数均增加，则获取上电次数增加的次数，以得到上电增加次数；第二判断子单元3043，用于判断所述上电增加次数是否与测试的次数相同；若所述上电增加次数与测试的次数不相同，则所述测试结果为ssd非安全掉电。次数判断子单元3044，用于若所述上电增加次数与测试的次数相同，则判断所述异常掉电次数是否保持不变；若所述异常掉电次数保持不变，则所述测试结果为ssd安全掉电。若所述异常掉电次数不是保持不变，则所述测试结果为ssd非安全掉电。
需要说明的是，所属领域的技术人员可以清楚地了解到，上述ssd安全掉电测试装置300和各单元的具体实现过程，可以参考前述方法实施例中的相应描述，为了描述的方便和简洁，在此不再赘述。
上述ssd安全掉电测试装置300可以实现为一种计算机程序的形式，该计算机程序可以在如图8所示的计算机设备上运行。
请参阅图8，图8是本申请实施例提供的一种计算机设备的示意性框图。该计算机设备500可以是服务器，其中，服务器可以是独立的服务器，也可以是多个服务器组成的服务器集群。
参阅图8，该计算机设备500包括通过系统总线501连接的处理器502、存储器和网络接口505，其中，存储器可以包括非易失性存储介质503和内存储器504。
该非易失性存储介质503可存储操作系统5031和计算机程序5032。该计算机程序5032包括程序指令，该程序指令被执行时，可使得处理器502执行一种ssd安全掉电测试方法。
该处理器502用于提供计算和控制能力，以支撑整个计算机设备500的运行。
该内存储器504为非易失性存储介质503中的计算机程序5032的运行提供环境，该计算机程序5032被处理器502执行时，可使得处理器502执行一种ssd安全掉电测试方法。
该网络接口505用于与其它设备进行网络通信。本领域技术人员可以理解，图8中示出的结构，仅仅是与本申请方案相关的部分结构的框图，并不构成对本申请方案所应用于其上的计算机设备500的限定，具体的计算机设备500可以包括比图中所示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者具有不同的部件布置。
其中，所述处理器502用于运行存储在存储器中的计算机程序5032，以实现如下步骤：
设置环境参数；获取待测试ssd；对待测试ssd按照测试脚本进行掉电测试，以得到日志文件；对所述日志文件进行解析，以得到测试结果。
在一实施例中，处理器502在实现所述设置环境参数步骤时，具体实现如下步骤：
安装linux系统及测试硬盘使用状态和预期寿命的应用程序。
在一实施例中，处理器502在实现所述对待测试ssd按照测试脚本进行掉电测试，以得到日志文件步骤时，具体实现如下步骤：
获取待测试ssd在测试前的硬盘使用状态和预期寿命，以得到初始信息；设置当前状态为休眠状态；对待测试ssd发送掉电通知，以使得待测试ssd进入掉电状态；获取待测试ssd进入掉电状态后的硬盘使用状态、预期寿命、上电次数、异常掉电次数，以得到测试信息；根据所述初始信息以及测试信息生成日志文件。
在一实施例中，处理器502在实现所述获取待测试ssd在测试前的硬盘使用状态和预期寿命，以得到初始信息步骤之后，还实现如下步骤：
保存所述初始信息。
在一实施例中，处理器502在实现所述获取待测试ssd进入掉电状态后的硬盘使用状态和预期寿命，以得到测试信息步骤之后，还实现如下步骤：
保存所述测试信息。
在一实施例中，处理器502在实现所述对所述日志文件进行解析，以得到测试结果步骤时，具体实现如下步骤：
判断所述日志文件内测试后的硬盘使用状态、预期寿命、上电次数是否均增加；若测试后的硬盘使用状态、预期寿命、上电次数均增加，则获取上电次数增加的次数，以得到上电增加次数；判断所述上电增加次数是否与测试的次数相同；若所述上电增加次数与测试的次数相同，则判断所述异常掉电次数是否保持不变；若所述异常掉电次数保持不变，则所述测试结果为ssd安全掉电。
在一实施例中，处理器502在实现所述判断所述日志文件内测试后的硬盘使用状态、预期寿命、上电次数是否均增加步骤之后，还实现如下步骤：
若测试后的硬盘使用状态、预期寿命、上电次数不是都增加，则所述测试结果为ssd非安全掉电。
应当理解，在本申请实施例中，处理器502可以是中央处理单元(centralprocessingunit，cpu)，该处理器502还可以是其他通用处理器、数字信号处理器(digitalsignalprocessor，dsp)、专用集成电路(applicationspecificintegratedcircuit，asic)、现成可编程门阵列(field-programmablegatearray，fpga)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等。其中，通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。
本领域普通技术人员可以理解的是实现上述实施例的方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成。该计算机程序包括程序指令，计算机程序可存储于一存储介质中，该存储介质为计算机可读存储介质。该程序指令被该计算机系统中的至少一个处理器执行，以实现上述方法的实施例的流程步骤。
因此，本发明还提供一种存储介质。该存储介质可以为计算机可读存储介质。该存储介质存储有计算机程序，其中该计算机程序被处理器执行时使处理器执行如下步骤：
设置环境参数；获取待测试ssd；对待测试ssd按照测试脚本进行掉电测试，以得到日志文件；对所述日志文件进行解析，以得到测试结果。
在一实施例中，所述处理器在执行所述计算机程序而实现所述设置环境参数步骤时，具体实现如下步骤：
安装linux系统及测试硬盘使用状态和预期寿命的应用程序。
在一实施例中，所述处理器在执行所述计算机程序而实现所述对待测试ssd按照测试脚本进行掉电测试，以得到日志文件步骤时，具体实现如下步骤：
获取待测试ssd在测试前的硬盘使用状态和预期寿命，以得到初始信息；设置当前状态为休眠状态；对待测试ssd发送掉电通知，以使得待测试ssd进入掉电状态；获取待测试ssd进入掉电状态后的硬盘使用状态、预期寿命、上电次数、异常掉电次数，以得到测试信息；
根据所述初始信息以及测试信息生成日志文件。
在一实施例中，所述处理器在执行所述计算机程序而实现所述获取待测试ssd在测试前的硬盘使用状态和预期寿命，以得到初始信息步骤之后，还实现如下步骤：
保存所述初始信息。
在一实施例中，所述处理器在执行所述计算机程序而实现所述获取待测试ssd进入掉电状态后的硬盘使用状态和预期寿命，以得到测试信息步骤之后，还实现如下步骤：
保存所述测试信息。
在一实施例中，所述处理器在执行所述计算机程序而实现所述对所述日志文件进行解析，以得到测试结果步骤时，具体实现如下步骤：
判断所述日志文件内测试后的硬盘使用状态、预期寿命、上电次数是否均增加；若测试后的硬盘使用状态、预期寿命、上电次数均增加，则获取上电次数增加的次数，以得到上电增加次数；判断所述上电增加次数是否与测试的次数相同；若所述上电增加次数与测试的次数相同，则判断所述异常掉电次数是否保持不变；若所述异常掉电次数保持不变，则所述测试结果为ssd安全掉电。
在一实施例中，所述处理器在执行所述计算机程序而实现所述判断所述日志文件内测试后的硬盘使用状态、预期寿命、上电次数是否均增加步骤之后，还实现如下步骤：
若测试后的硬盘使用状态、预期寿命、上电次数不是都增加，则所述测试结果为ssd非安全掉电。
所述存储介质可以是u盘、移动硬盘、只读存储器(read-onlymemory，rom)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的计算机可读存储介质。
本领域普通技术人员可以意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤，能够以电子硬件、计算机软件或者二者的结合来实现，为了清楚地说明硬件和软件的可互换性，在上述说明中已经按照功能一般性地描述了各示例的组成及步骤。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本发明的范围。
在本发明所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的装置和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的。例如，各个单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式。例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。
本发明实施例方法中的步骤可以根据实际需要进行顺序调整、合并和删减。本发明实施例装置中的单元可以根据实际需要进行合并、划分和删减。另外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以是两个或两个以上单元集成在一个单元中。
该集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个存储介质中。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分，或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，终端，或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。
以上所述，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到各种等效的修改或替换，这些修改或替换都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应以权利要求的保护范围为准。
1.ssd安全掉电测试方法，其特征在于，包括：
设置环境参数；
获取待测试ssd；
对待测试ssd按照测试脚本进行掉电测试，以得到日志文件；
对所述日志文件进行解析，以得到测试结果。
2.根据权利要求1所述的ssd安全掉电测试方法，其特征在于，所述设置环境参数，包括：
安装linux系统及测试硬盘使用状态和预期寿命的应用程序。
3.根据权利要求2所述的ssd安全掉电测试方法，其特征在于，所述对待测试ssd按照测试脚本进行掉电测试，以得到日志文件，包括：
获取待测试ssd在测试前的硬盘使用状态和预期寿命，以得到初始信息；
设置当前状态为休眠状态；
对待测试ssd发送掉电通知，以使得待测试ssd进入掉电状态；
获取待测试ssd进入掉电状态后的硬盘使用状态、预期寿命、上电次数、异常掉电次数，以得到测试信息；
根据所述初始信息以及测试信息生成日志文件。
4.根据权利要求3所述的ssd安全掉电测试方法，其特征在于，所述获取待测试ssd在测试前的硬盘使用状态和预期寿命，以得到初始信息之后，还包括：
保存所述初始信息。
5.根据权利要求3所述的ssd安全掉电测试方法，其特征在于，所述获取待测试ssd进入掉电状态后的硬盘使用状态和预期寿命，以得到测试信息之后，还包括：
保存所述测试信息。
6.根据权利要求3所述的ssd安全掉电测试方法，其特征在于，所述对所述日志文件进行解析，以得到测试结果，包括：
判断所述日志文件内测试后的硬盘使用状态、预期寿命、上电次数是否均增加；
若测试后的硬盘使用状态、预期寿命、上电次数均增加，则获取上电次数增加的次数，以得到上电增加次数；
判断所述上电增加次数是否与测试的次数相同；
若所述上电增加次数与测试的次数相同，则判断所述异常掉电次数是否保持不变；
若所述异常掉电次数保持不变，则所述测试结果为ssd安全掉电。
7.根据权利要求6所述的ssd安全掉电测试方法，其特征在于，所述判断所述日志文件内测试后的硬盘使用状态、预期寿命、上电次数是否均增加之后，还包括：
若测试后的硬盘使用状态、预期寿命、上电次数不是都增加，则所述测试结果为ssd非安全掉电。
8.ssd安全掉电测试装置，其特征在于，包括：
参数设置单元，用于设置环境参数；
获取单元，用于获取待测试ssd；
测试单元，用于对待测试ssd按照测试脚本进行掉电测试，以得到日志文件；
解析单元，用于对所述日志文件进行解析，以得到测试结果。
9.一种计算机设备，其特征在于，所述计算机设备包括存储器及处理器，所述存储器上存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至7中任一项所述的方法。
10.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时可实现如权利要求1至7中任一项所述的方法。
技术总结