本发明实施例涉及信息处理领域，尤其涉及一种存储器异常检测方法、装置、电子设备及可读存储介质。
背景技术：
随着电子设备的不断发展，为人们的生活带来了便利。其中，存储器是电子设备中必不可少的一个部件，存储器中存储着用户的大量信息(如照片、视频和重要数据等)。如果出现存储器异常，电子设备会无法开机，导致用户丢失存储器中存储的信息。因此，及时发现存储器的异常情况是十分必要的。
在实现本申请过程中，发明人发现现有技术中至少存在如下问题：目前对于存储器异常的检测效率较低。
技术实现要素：
本发明实施例提供一种存储器异常检测方法、装置、电子设备及可读存储介质，能够解决难以快速确定电子设备中的存储器出现异常的问题。
为了解决上述技术问题，本发明是这样实现的：
第一方面，本发明实施例提供了一种存储器异常检测方法，该方法可以包括：
读取存储器的目标存储单元中的每个物理地址中存储的第一数据；检验每个第一数据与每个物理地址中预先写入的预设数据是否一致，得到检验结果；在检验结果为不一致的个数大于第一阈值的情况下，确定存储器异常。
第二方面，本发明实施例提供了一种存储器异常检测装置，该装置可以包括：
读取模块，用于读取存储器的目标存储单元中的每个物理地址中存储的第一数据；检验模块，用于检验每个第一数据与每个物理地址中预先写入的预设数据是否一致，得到检验结果；确定模块，用于在检验结果为不一致的个数大于第一阈值的情况下，确定存储器异常。
第三方面，本发明实施例提供了一种电子设备，该电子设备包括处理器、存储器及存储在存储器上并可在处理器上运行的程序或指令，程序或指令被处理器执行时实现如第一方面的方法的步骤。
第四方面，本发明实施例提供了一种可读存储介质，可读存储介质上存储程序或指令，程序或指令被处理器执行时实现如第一方面的方法的步骤。
第五方面，本申请实施例提供了一种芯片，芯片包括处理器和通信接口，通信接口和处理器耦合，处理器用于运行程序或指令，实现如第一方面的方法。
本发明实施例中，通过检验存储器的目标存储单元中的每个物理地址中存储的第一数据与每个物理地址中预先写入的预设数据是否一致，由于该检验结果可以体现存储器的存储功能是否正常，在校验结果中不一致的个数大于第一阈值的情况下，确定存储器出现异常，由此，能够快速准确地确定电子设备中的存储器是否出现异常。
附图说明
从下面结合附图对本发明的具体实施方式的描述中可以更好地理解本发明其中，相同或相似的附图标记表示相同或相似的特征。
图1为本发明实施例提供的一种存储器的内部结构示意图；
图2为本发明实施例提供的一种存储器异常检测方法的流程图；
图3为本发明实施例提供的一种写入预设数据的示意图；
图4为本发明实施例提供的一种实现存储器异常检测方法的流程图；
图5为本发明实施例提供的一种存储器异常检测装置结构示意图；
图6为本发明实施例提供的一种电子设备的硬件结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
本申请的说明书和权利要求书中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便本申请的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，说明书以及权利要求中“和/或”表示所连接对象的至少其中之一，字符“/”，一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。
本发明实施例提供的存储器异常检测方法至少可以应用于下述应用场景中，下面进行说明。
电子产品必不可少的一个部件就是存储器，存储器起着至关重要的作用，负责存储用户信息(如照片、视频和数据等)。如果用户购买到电子产品后，出现存储器故障(比如存储器的晶圆开裂)，电子产品无法开机，就会丢失其中存储的用户信息。
其中，存储器100的内部结构如图1所示，图1为本发明实施例提供的一种存储器的内部结构示意图。其中，存储器100包括控制器110、基板120、晶圆130以及开裂位置140。
控制器110，负责与处理器进行通信连接，以及执行对存储器内部存储单元的读写擦等操作。
基板120，存储器内部的线路板，起着信号连通及支撑控制器110，以及存储器内部晶圆的作用。
晶圆130，存储器内部的物理存储单元，即用户数据的存储位置。
开裂位置140，由于应力等因素导致晶圆的开裂，顶层晶圆开裂的情况尤为多见。
如果存储器中出现晶圆开裂的情况，将会影响到该晶圆对应的存储单元，即存储单元出现异常。
针对相关技术出现的问题，本发明实施例提供一种存储器异常检测方法、装置、电子设备及存储介质，能够解决相关技术中，难以快速确定电子设备中的存储器出现异常的问题。
本发明实施例提供的方法，除了可以应用到上述应用场景之外，还可以应用到其它检测存储器异常的场景中。
通过本发明实施例提供的方法，通过检验存储器的目标存储单元中的每个物理地址中存储的第一数据与每个物理地址中预先写入的预设数据是否一致，由于该检验结果可以体现存储器的存储功能是否正常，在校验结果中不一致的个数大于第一阈值的情况下，确定存储器出现异常，由此，能够快速准确地确定电子设备中的存储器是否出现异常。
基于上述应用场景，下面对本发明实施例提供的存储器异常检测方法进行详细说明。
图2为本发明实施例提供的一种存储器异常检测方法的流程图。
如图2所示，该存储器异常检测方法可以包括步骤210-步骤230，该方法应用于存储器异常检测装置，具体如下所示：
步骤210，读取存储器的目标存储单元中的每个物理地址中存储的第一数据。
步骤220，检验每个第一数据与每个物理地址中预先写入的预设数据是否一致，得到检验结果。
步骤230，在检验结果为不一致的个数大于第一阈值的情况下，确定存储器异常。
本发明实施例提供的存储器异常检测方法中，通过检验存储器的目标存储单元中的每个物理地址中存储的第一数据与每个物理地址中预先写入的预设数据是否一致，由于该检验结果可以体现存储器的存储功能是否正常，在校验结果中不一致的个数大于第一阈值的情况下，确定存储器出现异常，由此，能够快速准确地确定电子设备中的存储器是否出现异常。
下面，对步骤210-步骤230的内容分别进行描述：
首先，涉及步骤210。
其中，上述涉及到的目标存储单元位于存储器的顶层。
由于存储器顶层晶圆受到的应力最大，最容易出现开裂，因此可以重点对顶层的目标存储单元来进行检测。
根据前文所述，晶圆是一种存储器内部的物理存储单元，因此本文出现的目标存储单元均指代晶圆对应的存储器的内部的存储单元。
其次，涉及步骤220。
检验每个第一数据与每个物理地址中预先写入的预设数据是否一致，得到检验结果。校验结果分为两种：一种是第一数据和预设数据一致；另一种是第一数据和预设数据不一致。
其中，第一数据和预设数据不一致还进一步包括：第一数据和预设数据不完全一致，以及读取不到第一数据的情况。
具体地，可以对每个第一数据与每个物理地址中预先写入的预设数据进行周期性的检验。即每次经过时间t后，自动读取目标存储单元的第一数据，与预先写入的预设数据进行校验，并统计校验错误的个数。
这里，通过检验每个第一数据与每个物理地址中预先写入的预设数据是否一致，来得到检验结果。可以快速准确地识别存储单元是否出现了异常。
在一种可能的实施例中，在步骤220之前，还可以包括以下步骤：
将预设数据写入目标存储单元中的每个物理地址中。
具体地，在目标存储单元中写入预设数据，范围可以为：0x00～0xff。如图3所示，目标存储单元中的每个物理地址中都写入了0xa0a0。其中，0x是16进制的前缀，16进制是计算机中数据的一种表示方法；十六进制的0xff就是二进制的11111111。这里，通过预先在目标存储单元中的每个物理地址中存储预设数据，可以方便后续对目标存储单元的功能进行快速准确的校验。
最后，涉及步骤230。
在一种可能的实施例中，在检验结果为不一致的个数大于第一阈值的情况下，显示存储器异常提示信息。
这里，通过在在检验结果为不一致的个数大于第一阈值的情况下，说明存储器的存储功能出现异常。这时，通过显示存储器异常提示信息，能够及时有效地提示用户当前存储器出现了异常，使用户能够及时地备份电子设备中的关键数据。
在确定存储器异常的情况下，可以根据检验结果为不一致的个数确定目标存储单元的异常程度，然后根据异常程度对目标存储单元进行至少部分屏蔽。下面依次进行说明：
在一种可能的实施例中，在上述涉及到的得到检验结果的步骤之后，还可以包括以下步骤：
在个数小于第一阈值的情况下，清除目标存储单元中第一物理地址中存储的数据，第一物理地址中存储的第一数据与预设数据不一致；将预设数据存储在第一物理地址中。
若检验结果为不一致的个数小于第一阈值，说明该校验错误非常微小，则将可通过内部纠错机制纠正。这种情况一般为可恢复的失效，可以通过对目标存储单元进行重新擦写，以使该目标存储单元恢复正常。
具体地，确定存储的第一数据与预设数据不一致的第一物理地址，然后清除目标存储单元中的第一物理地址中存储的数据，即对第一物理地址进行数据擦除；最后再将预设数据存储在第一物理地址中，即对第一物理地址写入预设数据。
其中，写操作就像在纸上写字一样，把数据写在硬盘或内存里保存起来一样。相应地，擦除操作就像把纸上的字擦掉一样，把硬盘或内存里的数据删除。这里，检验结果为不一致的个数小于第一阈值的情况下，即错误非常微小的情况下，通过对目标存储单元重新存储预设数据，来实现对目标存储单元的重新擦写，就可以使该目标存储单元恢复正常。
在一种可能的实施例中，在上述涉及到的确定存储器异常的步骤之后，还可以包括以下步骤：
在个数大于第二阈值的情况下，屏蔽目标存储单元；第一阈值小于第二阈值。
若检验结果为不一致的个数大于第二阈值，则说明目标存储单元出现了大面积的损坏，如用户需要调用到该目标存储单元的数据时，则会因器件可替换的存储单元(也即是用做替补的存储单元)被全部耗尽而出现错误，进而导致存储器件进入写保护状态，影响用户使用。
其中，写保护是指在计算机运行中，有些信息只允许使用而不允许修改，就要对存储这些信息的区域采取保护措施，这种保护措施称为写保护。即对该存储区的信息只允许读出以被使用，但不允许写入以防止破坏。如果电子设备进入到写保护的状态，用户就无法开机使用电子设备，进而导致无法留存其中存储的用户数据。
通过屏蔽该目标存储单元，则不会访问到目标存储单元，从而避免了电子产品进入到写保护的状态，用户可继续开机使用电子设备，拷贝关键的用户数据。
这里，通过在检验结果为不一致的个数大于第二阈值的情况下，即目标存储单元出现了大面积的损坏的情况下，屏蔽目标存储单元，使处理器不会访问到目标存储单元，避免电子设备进行写保护状态，以便用户可以对电子设备中的关键数据进行备份。
在一种可能的实施例中，在上述涉及到的确定存储器异常的步骤之后，还可以包括以下步骤：
在个数大于或等于第一阈值且小于或等于第二阈值的情况下，屏蔽第一物理地址，第一物理地址中存储的第一数据与预设数据不一致。
若检验结果为不一致的个数大于或等于第一阈值且小于或等于第二阈值，则说明存储器只是部分损坏，只需将检验结果为不一致的第一物理地址屏蔽即可。
另外，在个数大于或等于第一阈值且小于或等于第二阈值的情况下，还可以包括以下步骤：
获取第一物理地址中存储的目标数据和目标数据的逻辑地址；将目标数据转移至第二物理地址，第二物理地址中存储的第一数据与预设数据一致；建立逻辑地址和第二物理地址之间的映射关系。
具体地，可以通过更改存储单元中的地址管理表来转移第一物理地址中存储的目标数据，该地址管理表可以控制处理器可以访问到存储器内部物理地址的范围，将损坏区域的地址设置为无效，即对处理器不可见，进而达到隔离的效果。
其中，地址管理表中存储有逻辑地址和物理地址之间的映射关系。存储器中的存储单元对应的实际地址可以被称为物理地址，物理地址与逻辑地址相对应。
这里，在检验结果为不一致的个数大于或等于第一阈值且小于或等于第二阈值的情况下，通过屏蔽存储的第一数据与预设数据不一致的第一物理地址，并将第一物理地址中存储的数据转移至第二物理地址中，以留存第一物理地址中存储的目标数据。
综上，在本发明实施例中，通过检验存储器的目标存储单元中的每个物理地址中存储的第一数据与每个物理地址中预先写入的预设数据是否一致，由于该检验结果可以体现存储器的存储功能是否正常，在校验结果中不一致的个数大于第一阈值的情况下，确定存储器出现异常，由此，能够快速准确地确定电子设备中的存储器是否出现异常。
需要说明的是，本申请实施例提供的存储器异常检测方法，执行主体可以为存储器异常检测装置，或者该存储器异常检测装置中的用于执行加载存储器异常检测方法的控制模块。本申请实施例中以存储器异常检测装置执行加载存储器异常检测方法为例，说明本申请实施例提供的存储器异常检测方法。
另外，基于上述存储器异常检测方法，本发明实施例还提供了一种实现存储器异常检测的方法，具体结合图4进行详细说明。
步骤410，读取存储器的目标存储单元中的每个物理地址中存储的第一数据。
步骤420，检验每个第一数据与每个物理地址中预先写入的预设数据是否一致，得到检验结果。
步骤430，判断检验结果为不一致的个数是否小于第一阈值。
步骤440，若是，则清除目标存储单元中第一物理地址中存储的数据，将预设数据存储在第一物理地址中。
若否，则执行步骤450。
步骤450，判断检验结果为不一致的个数是否大于第二阈值。
步骤460，若是，则屏蔽目标存储单元。
若否，则执行步骤470。
步骤470，获取第一物理地址中存储的目标数据和目标数据的逻辑地址；将目标数据转移至第二物理地址，建立逻辑地址和第二物理地址之间的映射关系。
综上，在本发明实施例中，通过检验存储器的目标存储单元中的每个物理地址中存储的第一数据与每个物理地址中预先写入的预设数据是否一致，由于该检验结果可以体现存储器的存储功能是否正常，所以可以根据检验结果为不一致的个数来判断存储器的异常程度，分别对其采取不同的措施。以实现最大程度上不影响用户使用，并且及时地备份数据。
可以理解的是，根据本发明的实施例，除了在用户使用电子设备的过程中，可以提前识别到存储器出现异常，在用户读取到该目标存储单元之前，对其进行隔离，能够提前对用户进行提醒，使用户提前备份重要数据之外。还能提升出厂前的测试效率，达到降低检验成本的效果。因为目前的电子产品容量越来越大，(如256gb或512gb容量，有8颗晶圆)若要测试完所有的晶圆对应的存储单元，耗费的时间比较长，出厂前测试效率低，测试成本高。根据本发明的实施例，能够在出厂前，快速准确的筛选出存储器存在异常的电子设备。
另外，基于上述存储器异常检测方法，本发明实施例还提供了一种存储器异常检测装置，具体结合图5进行详细说明。
图5为本发明实施例提供的一种存储器异常检测装置结构示意图。
如图5所示，该存储器异常检测装置500可以包括：
读取模块510，用于读取存储器的目标存储单元中的每个物理地址中存储的第一数据。
检验模块520，用于检验每个第一数据与每个物理地址中预先写入的预设数据是否一致，得到检验结果。
确定模块530，用于在检验结果为不一致的个数大于第一阈值的情况下，显示存储器异常提示信息。
在一种可能的实施例中，该存储器异常检测装置500还可以包括：
清除模块，用于在个数小于第一阈值的情况下，清除目标存储单元中第一物理地址中存储的数据，第一物理地址中存储的第一数据与预设数据不一致。
存储模块，用于将预设数据存储在第一物理地址中。
在一种可能的实施例中，该存储器异常检测装置500还可以包括：
第一屏蔽模块，用于在个数大于或等于第一阈值且小于或等于第二阈值的情况下，屏蔽第一物理地址，第一物理地址中存储的第一数据与预设数据不一致。
在一种可能的实施例中，该存储器异常检测装置500还可以包括：
获取模块，用于获取第一物理地址中存储的目标数据和目标数据的逻辑地址。
转移模块，用于将目标数据转移至第二物理地址，第二物理地址中存储的第一数据与预设数据一致。
建立模块，用于建立逻辑地址和第二物理地址之间的映射关系。
在一种可能的实施例中，该存储器异常检测装置500还可以包括：
第二屏蔽模块，用于在个数大于第二阈值的情况下，屏蔽目标存储单元；第一阈值小于第二阈值。
在一种可能的实施例中，该存储器异常检测装置500还可以包括：
写入模块，用于将预设数据写入目标存储单元中的每个物理地址中。
其中，上述涉及到的目标存储单元位于存储器的顶层。
本申请实施例中的存储器异常检测装置，可以是装置，也可以是终端中的部件、集成电路、或芯片。该装置可以是移动电子设备，也可以为非移动电子设备。示例性的，移动电子设备可以为手机、平板电脑、笔记本电脑、掌上电脑、车载电子设备、可穿戴设备、超级移动个人计算机(ultra-mobilepersonalcomputer，umpc)、上网本或者个人数字助理(personaldigitalassistant，pda)等，非移动电子设备可以为服务器、网络附属存储器(networkattachedstorage，nas)、个人计算机(personalcomputer，pc)、电视机(television，tv)、柜员机或者自助机等，本申请实施例不作具体限定。
本申请实施例中的存储器异常检测装置可以为具有操作系统的装置。该操作系统可以为安卓(android)操作系统，可以为ios操作系统，还可以为其他可能的操作系统，本申请实施例不作具体限定。
本申请实施例提供的存储器异常检测装置能够实现图2-图4的方法实施例中存储器异常检测装置实现的各个过程，为避免重复，这里不再赘述。
综上，本发明实施例提供的存储器异常检测装置，通过检验存储器的目标存储单元中的每个物理地址中存储的第一数据与每个物理地址中预先写入的预设数据是否一致，由于该检验结果可以体现存储器的存储功能是否正常，在校验结果中不一致的个数大于第一阈值的情况下，确定存储器出现异常，由此，能够快速准确地确定电子设备中的存储器是否出现异常。
图6为本发明实施例提供的一种电子设备的硬件结构示意图。
该电子设备600包括但不限于：射频单元601、网络模块602、音频输出单元603、输入单元604、传感器605、显示单元606、用户输入单元607、接口单元608、存储器609、以及处理器610等部件。其中，输入单元604可以包括图形处理器6041和麦克风6042；显示单元606可以包括显示面板6061；用户输入单元607可以包括触控面板6071以及其他输入设备6072；存储器609可以包括应用程序和操作系统。
本领域技术人员可以理解，电子设备600还可以包括给各个部件供电的电源(比如电池)，电源可以通过电源管理系统与处理器610逻辑相连，从而通过电源管理系统实现管理充电、放电、以及功耗管理等功能。图6中示出的电子设备结构并不构成对电子设备的限定，电子设备可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件布置，在此不再赘述。
处理器610，用于在读取存储器的目标存储单元中的每个物理地址中存储的第一数据。
处理器610，还用于检验每个第一数据与每个物理地址中预先写入的预设数据是否一致，得到检验结果。
显示单元606，用于在检验结果为不一致的个数大于第一阈值的情况下，显示存储器异常提示信息。
可选地，处理器610，还用于在个数小于第一阈值的情况下，清除目标存储单元中第一物理地址中存储的数据，第一物理地址中存储的第一数据与预设数据不一致。
存储器609，用于将预设数据存储在第一物理地址中。
可选地，处理器610，还用于在个数大于或等于第一阈值且小于或等于第二阈值的情况下，屏蔽第一物理地址，第一物理地址中存储的第一数据与预设数据不一致。
可选地，处理器610，还用于获取第一物理地址中存储的目标数据和目标数据的逻辑地址。
处理器610，还用于将目标数据转移至第二物理地址，第二物理地址中存储的第一数据与预设数据一致。
处理器610，还用于建立逻辑地址和第二物理地址之间的映射关系。
可选地，处理器610，还用于在个数大于第二阈值的情况下，屏蔽目标存储单元；第一阈值小于第二阈值。
可选地，处理器610，还用于将预设数据写入目标存储单元中的每个物理地址中。
本发明实施例中，通过检验存储器的目标存储单元中的每个物理地址中存储的第一数据与每个物理地址中预先写入的预设数据是否一致，由于该检验结果可以体现存储器的存储功能是否正常，在校验结果中不一致的个数大于第一阈值的情况下，确定存储器出现异常，由此，能够快速准确地确定电子设备中的存储器是否出现异常。本申请实施例还提供一种可读存储介质，所述可读存储介质上存储有程序或指令，该程序或指令被处理器执行时实现上述存储器异常检测方法实施例的各个过程，且能达到相同的技术效果，为避免重复，这里不再赘述。
其中，所述处理器为上述实施例中所述的电子设备中的处理器。所述可读存储介质，包括计算机可读存储介质，如计算机只读存储器(read-onlymemory，rom)、随机存取存储器(randomaccessmemory，ram)、磁碟或者光盘等。
本申请实施例另提供了一种芯片，所述芯片包括处理器和通信接口，所述通信接口和所述处理器耦合，所述处理器用于运行程序或指令，实现上述存储器异常检测方法实施例的各个过程，且能达到相同的技术效果，为避免重复，这里不再赘述。
应理解，本申请实施例提到的芯片还可以称为系统级芯片、系统芯片、芯片系统或片上系统芯片等。
需要说明的是，在本文中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者装置不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者装置所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者装置中还存在另外的相同要素。此外，需要指出的是，本申请实施方式中的方法和装置的范围不限按示出或讨论的顺序来执行功能，还可包括根据所涉及的功能按基本同时的方式或按相反的顺序来执行功能，例如，可以按不同于所描述的次序来执行所描述的方法，并且还可以添加、省去、或组合各种步骤。另外，参照某些示例所描述的特征可在其他示例中被组合。
通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解到上述实施例方法可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现，当然也可以通过硬件，但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解，本申请的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质(如rom/ram、磁碟、光盘)中，包括若干指令用以使得一台终端(可以是手机，计算机，服务器，空调器，或者网络设备等)执行本申请各个实施例所述的方法。
上面结合附图对本申请的实施例进行了描述，但是本申请并不局限于上述的具体实施方式，上述的具体实施方式仅仅是示意性的，而不是限制性的，本领域的普通技术人员在本申请的启示下，在不脱离本申请宗旨和权利要求所保护的范围情况下，还可做出很多形式，均属于本申请的保护之内。
1.一种存储器异常检测方法，其特征在于，包括：
读取存储器的目标存储单元中的每个物理地址中存储的第一数据；
检验每个所述第一数据与所述每个物理地址中预先写入的预设数据是否一致，得到检验结果；
在所述检验结果为不一致的个数大于第一阈值的情况下，确定所述存储器异常。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述得到检验结果之后，所述方法还包括：
在所述个数小于第一阈值的情况下，清除所述目标存储单元中第一物理地址中存储的数据，所述第一物理地址中存储的所述第一数据与所述预设数据不一致；
将所述预设数据存储在所述第一物理地址中。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述确定所述存储器异常之后，所述方法还包括：
在所述个数大于或等于所述第一阈值且小于或等于第二阈值的情况下，屏蔽第一物理地址，所述第一物理地址中存储的所述第一数据与所述预设数据不一致。
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，在所述确定所述存储器异常之后，所述方法还包括：
获取所述第一物理地址中存储的目标数据和所述目标数据的逻辑地址；
将所述目标数据转移至第二物理地址，所述第二物理地址中存储的所述第一数据与所述预设数据一致；
建立所述逻辑地址和所述第二物理地址之间的映射关系。
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述确定所述存储器异常之后，所述方法还包括：
在所述个数大于第二阈值的情况下，屏蔽所述目标存储单元；所述第一阈值小于所述第二阈值。
6.根据权利要求1-5任一项所述的方法，其特征在于，在所述检验每个所述第一数据与所述每个物理地址中预先写入的预设数据是否一致之前，所述方法还包括：
将所述预设数据写入所述目标存储单元中的每个物理地址中。
7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述目标存储单元位于所述存储器的顶层。
8.一种存储器异常检测装置，其特征在于，所述装置包括：
读取模块，用于读取存储器的目标存储单元中的每个物理地址中存储的第一数据；
检验模块，用于检验每个所述第一数据与所述每个物理地址中预先写入的预设数据是否一致，得到检验结果；
确定模块，用于在所述检验结果为不一致的个数大于第一阈值的情况下，确定所述存储器异常。
9.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：
清除模块，用于在所述个数小于第一阈值的情况下，清除所述目标存储单元中第一物理地址中存储的数据，所述第一物理地址中存储的所述第一数据与所述预设数据不一致；
存储模块，用于将所述预设数据存储在所述第一物理地址中。
10.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：
第一屏蔽模块，用于在所述个数大于或等于所述第一阈值且不大于第二阈值的情况下，屏蔽第一物理地址，所述第一物理地址中存储的所述第一数据与所述预设数据不一致。
11.根据权利要求10所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：
获取模块，用于获取所述第一物理地址中存储的目标数据和所述目标数据的逻辑地址；
转移模块，用于将所述目标数据转移至第二物理地址，所述第二物理地址中存储的所述第一数据与所述预设数据一致；
建立模块，用于建立所述逻辑地址和所述第二物理地址之间的映射关系。
12.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：
第二屏蔽模块，用于在所述个数大于第二阈值的情况下，屏蔽所述目标存储单元；所述第一阈值小于所述第二阈值。
13.根据权利要求8-12所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：
写入模块，用于将所述预设数据写入所述目标存储单元中的每个物理地址中。
14.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，所述目标存储单元位于所述存储器的顶层。
15.一种电子设备，其特征在于，包括处理器，存储器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的程序或指令，所述程序或指令被所述处理器执行时实现如权利要求1-7任一项所述的存储器异常检测方法的步骤。
16.一种可读存储介质，其特征在于，所述可读存储介质上存储程序或指令，所述程序或指令被处理器执行时实现如权利要求1-7任一项所述的存储器异常检测方法的步骤。
技术总结