本发明涉及计算机应用技术领域，特别是涉及一种运算性能测试方法、装置、电子设备及存储介质。
背景技术：
随着科技的发展，手机、笔记本电脑、平板电脑等电子设备的功能日益强大。目前，各种应用软件的不断涌现，众多的程序、服务都对电子设备的运算性能提出了更高的要求。电子设备的运算性能越强，电子设备运行应用软件的速度就越快。
目前，为了让用户更好的了解电子设备的运算性能，技术人员开发出了测评软件(也称为“跑分”软件)。这种测评软件在电子设备上运行时，可以通过一定的测试方法对电子设备的运算性能进行测试，并将测试结果告知用户，从而帮助用户了解电子设备的运算性能。
当前的运算性能测试方法是对电子设备运行应用软件的性能进行测试，输出的是电子设备运行应用软件的性能测试结果，然而，电子设备在实际应用中，更主要的是进行数学运算，当前的运算性能测试方法无法衡量电子设备的数学运算能力。
技术实现要素：
本发明实施例的目的在于提供一种运算性能测试方法、装置、电子设备及存储介质，以实现对电子设备在数学运算方面的性能测试。具体技术方案如下：
第一方面，本发明实施例提供了一种运算性能测试方法，该方法包括：
生成随机整数；
判定所生成的随机整数是否为质数；
统计预设时长内判定为质数的随机整数总数量；
基于总数量，确定运算性能测试结果。
可选的，生成随机整数的步骤，包括：
获取处理器性能参数；
根据处理器性能参数，设置随机种子值及随机范围；
基于随机种子值，生成随机整数；
若所生成的随机整数在随机范围内，则保留所生成的随机整数。
可选的，判定所生成的随机整数是否为质数的步骤，包括：
遍历从2到目标整数之间的所有自然数，如果没有任何一个自然数可整除所生成的随机整数，则确定该随机整数为质数，其中，目标整数为所生成的随机整数减1，或者，目标整数为所生成的随机整数的平方根。
可选的，在生成随机整数的步骤之前，该方法还包括：
在接收到测试开始指令时，启动计时器，并将计数器清零；
统计预设时长内判定为质数的随机整数总数量的步骤，包括：
在判定所生成的随机整数为质数后，将计数器的数值累加1；
若计时器的计时时长未达到预设时长，则返回执行生成随机整数的步骤，其中，预设时长基于处理器性能参数预先设定；
若计时器的计时时长达到预设时长，则从计数器中读取出预设时长内判定为质数的随机整数总数量。
可选的，基于总数量，确定运算性能测试结果的步骤，包括：
根据总数量及预设时长，计算平均判定速度；
基于平均判定速度，确定运算性能测试结果，其中，运算性能测试结果为测试评分，测试评分与平均判定速度成正比关系。
可选的，在基于总数量，确定运算性能测试结果的步骤之后，该方法还包括：
将运算性能测试结果输出至测试界面。
第二方面，本发明实施例提供了一种运算性能测试装置，该装置包括：
生成模块，用于生成随机整数；
判定模块，用于判定所生成的随机整数是否为质数；
统计模块，用于统计预设时长内判定为质数的随机整数总数量；
确定模块，用于基于总数量，确定运算性能测试结果。
可选的，生成模块，具体用于获取处理器性能参数；根据处理器性能参数，设置随机种子值及随机范围；基于随机种子值，生成随机整数；若所生成的随机整数在随机范围内，则保留所生成的随机整数。
可选的，判定模块，具体用于遍历从2到目标整数之间的所有自然数，如果没有任何一个自然数可整除所生成的随机整数，则确定该随机整数为质数，其中，目标整数为所生成的随机整数减1，或者，目标整数为所生成的随机整数的平方根。
可选的，该装置还包括：
启动模块，用于在接收到测试开始指令时，启动计时器，并将计数器清零；
统计模块，具体用于在判定所生成的随机整数为质数后，将计数器的数值累加1；若计时器的计时时长未达到预设时长，则返回执行生成随机整数的步骤，其中，预设时长基于处理器性能参数预先设定；若计时器的计时时长达到预设时长，则从计数器中读取出预设时长内判定为质数的随机整数总数量。
可选的，确定模块，具体用于根据总数量及预设时长，计算平均判定速度；基于平均判定速度，确定运算性能测试结果，其中，运算性能测试结果为测试评分，测试评分与平均判定速度成正比关系。
可选的，该装置还包括：
输出模块，用于将运算性能测试结果输出至测试界面。
第三方面，本发明实施例提供了一种电子设备，包括处理器和存储器，其中，存储器，用于存放计算机程序；处理器，用于执行存储器上所存放的计算机程序时，实现本发明实施例第一方面所提供的方法。
第四方面，本发明实施例提供了一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质内存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现本发明实施例第一方面所提供的方法。
第五方面，本发明实施例还提供了一种包含指令的计算机程序产品，当其在计算机上运行时，使得计算机执行本发明实施例第一方面所提供的方法。
本发明实施例有益效果：
本发明实施例提供的方案中，通过生成随机整数，判定所生成的随机整数是否为质数，统计预设时长内判定为质数的随机整数总数量，基于该总数量，确定运算性能测试结果。经过对随机生成的整数进行判定，统计出预设时长内判定为质数的随机整数总数量，能够测试出电子设备对整数数据类型的识别能力，即一段时长内能够判定出多少个质数，从而实现了对电子设备在数学运算方面的性能测试。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的实施例。
图1为本发明实施例的一种运算性能测试方法的流程示意图；
图2为本发明实施例的另一种运算性能测试方法的流程示意图；
图3为本发明实施例的再一种运算性能测试方法的流程示意图；
图4为本发明实施例的又一种运算性能测试方法的流程示意图；
图5为本发明实施例的运算性能测试装置的结构示意图；
图6为本发明实施例的电子设备的结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
为了实现对电子设备在数学运算方面的性能测试，本发明实施例提供了一种运算性能测试方法、装置、电子设备及存储介质。下面，首先对本发明实施例所提供的运算性能测试方法进行介绍。
本发明实施例所提供的运算性能测试方法的执行主体为：具有数学运算能力的电子设备，例如手机、笔记本电脑、平板电脑、pc(personalcomputer，个人计算机)等。
如图1所示，本发明实施例所提供的一种运算性能测试方法，可以包括如下步骤。
s101，生成随机整数。
s102，判定所生成的随机整数是否为质数。
s103，统计预设时长内判定为质数的随机整数总数量。
s104，基于总数量，确定运算性能测试结果。
应用本发明实施例，通过生成随机整数，判定所生成的随机整数是否为质数，统计预设时长内判定为质数的随机整数总数量，基于该总数量，确定运算性能测试结果。经过对随机生成的整数进行判定，统计出预设时长内判定为质数的随机整数总数量，能够测试出电子设备对整数数据类型的识别能力，即一段时长内能够判定出多少个质数，从而实现了对电子设备在数学运算方面的性能测试。
本发明实施例在进行运算性能测试时，生成随机整数，数学运算的一个重要环节就是对整数的数据类型进行判定，因此，在生成随机整数后，需要对所生成的随机整数进行判定，判定所生成的随机整数是否为质数。质数是指在大于1的自然数中，除了1和它本身以外不再有其他因数的自然数，需要特别指出的是自然数1不是质数，例如，2、3、5、7是质数，而4不是质数。
在本发明实施例的具体实现方式中，可以一次性生成多个随机整数，依次判定每个随机整数是否为质数；也可以先生成一个随机整数，判定其是否为质数，在完成判定之后，再生成另一个随机整数，对其进行判定。
具体的，s102具体可以为：遍历从2到目标整数之间的所有自然数，如果没有任何一个自然数可整除所生成的随机整数，则确定该随机整数为质数，其中，目标整数为所生成的随机整数减1，或者，目标整数为所生成的随机整数的平方根。
在判定一个整数是否为质数时，通常可以采用循环法来进行判定：在生成随机整数n后，遍历从2到n-1之间的所有自然数，如果当前数值m能够整除n，即n％m＝0，则依据质数的定义，n不是质数，反之如果遍历完从2到n-1之间的所有自然数，也没有找到能够整除n的数值m，则认为n是质数。
上述循环法对于比较小的质数，电子设备可以很容易得到判定结果，但是对于较大的质数，因为循环次数较多，所以运算速度比较慢、判定效率较低。对于一个数n，其实并不需要从2判断到n-1，一个自然数若可以进行因式分解，那么分解时得到的两个数中一个不大于n的平方根，另一个不小于n的平方根，据此，仅需要遍历到n的平方根即可。也就是说，在另一种质数判定方式中，在生成随机整数n后，遍历从2到
电子设备不断地对随机生成的整数进行是否为质数的判定，并对判定为质数的随机整数数量进行统计，电子设备的数学运算性能体现在工作时长(即预设时长)内能够判定为质数的随机整数总数量，工作时长内能够判定为质数的随机整数总数量越多，则说明电子设备的数学运算性能越好。在本发明实施例中，需要对预设时长内判定为质数的随机整数总数量进行统计，基于统计得到的总数量即可确定出运算性能测试结果。所确定出的运算性能测试结果可以是具体的评分分数，也可以是优、良、中、差等表示性能程度的结果，还可以直接将统计得到的总数量作为运算性能测试结果，这里不做具体限定。
在实际应用中，一般是将运算性能测试结果反馈给用户，为了方便用户更为直观地看出电子设备运算性能的好坏，运算性能测试结果通常设置为测试评分。相应的，s104具体可以为：根据总数量及预设时长，计算平均判定速度；基于平均判定速度，确定运算性能测试结果，其中，运算性能测试结果为测试评分，测试评分与平均判定速度成正比关系。
平均判定速度是指电子设备在单位时间内能够判定出为质数的随机整数数量，在开始进行测试时，可以记录下起始时间，在达到预设时长时，可以记录下结束时间，则平均判定速度＝总数量/(结束时间-起始时间)，或者也可以直接用总数量除以预设时长，得到平均判定速度。测试评分与平均判定速度之间呈正比关系，也就是说，平均判定速度越快，则电子设备的数学运算性能越好，相应可以分配更高的测试评分。在具体的应用中，测试评分的满分可以设置为10分或者100分，在基于平均判定速度分配测试评分时，可以在0分至满分的区间内进行分配。
基于图1所示实施例，本发明实施例所提供的另一种运算性能测试方法，如图2所示，可以包括如下步骤。
s201，获取处理器性能参数。
s202，根据处理器性能参数，设置随机种子值及随机范围。
s203，基于随机种子值，生成随机整数。
s204，若所生成的随机整数在所述随机范围内，则判定所生成的随机整数是否为质数。
s205，统计预设时长内判定为质数的随机整数总数量。
s206，基于总数量，确定运算性能测试结果。
一般计算机的随机数都是伪随机数，通常是先获取一个随机种子(一般是固定值)作为初始条件，然后用一定的算法不停迭代产生随机数。在具有相同的随机种子情况下生成的随机数序列是相同的。随机范围是指电子设备能够处理数值的合理范围。
随机种子值和随机范围一般与处理器的处理性能相关，在本发明实施例中，随机种子和随机范围是可调整的，具体的调整方式是先获取处理器性能参数，处理器性能参数是指能够体现处理器处理能力的属性参数，通常包括cpu(centralprocessingunit，中央处理单元)核数和频率，处理器性能参数越大(例如cpu核数越大、频率越大等)，说明处理器能够进行整数运算的能力就越强，相应的，处理器性能参数越大，随机种子值就可以设置的更大一些、随机范围也可设置的更宽一些，反之亦反。因此，根据处理器性能参数，来确定随机种子值和随机范围，能够实现对随机种子和随机范围的调整。具体根据处理器性能参数设置随机种子值和随机范围的方式，可以是预先设置好处理器性能参数与随机种子值、随机范围之间的映射关系，该映射关系表征了处理器性能参数与随机种子值、随机范围之间正相关，在获取到处理器性能参数后，基于该映射关系即可得到相应的随机种子值和随机范围。
在确定出随机种子值和随机范围后，可以基于随机种子值生成随机整数，具体基于随机种子值生成随机整数的方式可以采用平方取中法、线性同余法等方法，这些方法都属于本领域惯用的基于随机种子值生成随机整数的方法，这里不再赘述。如果生成的随机整数在随机范围内，说明所生成的随机整数是电子设备能够处理的合理整数，则可进行后续的判定。如果所生成的随机整数不在随机范围内，则说明所生成的随机整数不适合，应丢弃该随机整数并重新生成一个随机整数。
通过本发明实施例，能够实现对随机种子值和随机范围的调整，从而能够灵活适应不同性能的电子设备。
基于图1所示实施例，本发明实施例所提供的再一种运算性能测试方法，如图3所示，可以包括如下步骤。
s301，在接收到测试开始指令时，启动计时器，并将计数器清零。
s302，生成随机整数。
s303，判定所生成的随机整数是否为质数。
s304，在判定所生成的随机整数为质数后，将计数器的数值累加1。
s305，判断计时器的计时时长是否达到预设时长，若达到则执行s306，若未达到则返回执行s302。
其中，预设时长基于处理器性能参数预先设定。
s306，从计数器中读取出预设时长内判定为质数的随机整数总数量。
s307，基于总数量，确定运算性能测试结果。
一般情况下，电子设备的运算性能测试是触发启动的，可以是由用户通过点击测试界面上的启动按钮触发的，也可以是电子设备周期性启动触发的。在触发启动时，会生成一个测试开始指令，当电子设备接收到测试开始指令时，启动计时器并将计数器清零，计时器用来记录运算性能测试进行的时长，计数器用来记录完成了判定为质数的随机整数数量，在完成一次判定后，将计数器记录的数值累加1。
如果一次判定后，计时器的计时时长还未达到预设时长，则应继续进行判定是否为质数的处理，需返回执行生成随机整数的步骤，生成一个新的随机整数重新对其进行是否为质数的判定。如果计时器的计时时长达到了预设时长，则应当停止生成随机整数，基于预设时长内判定为质数的随机整数总数量，确定出运算性能测试结果，具体确定运算性能测试结果的方式与图1所示实施例中的方式相同，这里不再赘述。其中，预设时长基于处理器性能参数预先设定，也就是说，基于处理器性能参数，也可以灵活调整预设时长的取值，以适应不同性能的电子设备。
基于图1所示实施例，本发明实施例所提供的又一种运算性能测试方法，如图4所示，可以包括如下步骤。
s401，生成随机整数。
s402，判定所生成的随机整数是否为质数。
s403，统计预设时长内判定为质数的随机整数总数量。
s404，基于总数量，确定运算性能测试结果。
s405，将运算性能测试结果输出至测试界面。
在经过如上述实施例的方法确定出运行性能测试结果后，可以将得到的运算性能测试结果输出至测试界面，该测试界面为人工交互界面，这样，用户可以从测试界面上直观地看到电子设备进行数学运算，尤其是进行质数判定的性能，进一步的，如果电子设备的运算性能测试结果很好，可以选择让该电子设备处理更为复杂的整数。
为了便于理解，下面结合具体施例，对本发明实施例所提供的运算性能测试方法进行介绍。以使用安兔兔测评软件评测pc为例，安兔兔测评软件将质数判定性能测试作为性能评测的一个测试项。
首先，用户手动打开安兔兔测评软件并点击测试按钮以启动评测。
其次，运行运算性能测试方法：
第一步，输入工作时长。
第二步，设置随机种子值srand(seed)。
第三步，启动计时器，记录起始时间，清零计数器c＝0。
第四步，依据随机种子值生成一个随机整数n。该整数n可以很大，也可以很小，具有完全的随机性。
第五步，判定生成的随机整数n是否为质数，如果是质数则执行第六步，否则执行第四步重新生成随机整数。
判定方法：遍历从2到
待将质数判定完成后，累加计数器c，记录完成质数判定的随机整数数量。
第六步，判断时间是否超过工作时长，如果未超过，继续执行第四步，如果超过则结束本步骤。
第七步，计算平均判定速度：平均判定速度＝总数量/(结束时间-起始时间)。
第八步，输出运算性能测试结果到测试界面。其中，运算性能测试结果为基于平均判定速度确定出的测试评分。
最后，查看评测的结果：
1)处理器性能总分值
2)处理器常用算法
3)处理器单核性能
4)处理器多核性能
其中，处理器单核性能测试项包含了本发明的运算性能测试方法。
基于上述方法实施例，本发明实施例提供了一种运算性能测试装置，如图5所示，该装置可以包括：
生成模块510，用于生成随机整数；
判定模块520，用于判定所生成的随机整数是否为质数；
统计模块530，用于统计预设时长内判定为质数的随机整数总数量；
确定模块540，用于基于总数量，确定运算性能测试结果。
可选的，生成模块510，具体可以用于获取处理器性能参数；根据处理器性能参数，设置随机种子值及随机范围；基于随机种子值，生成随机整数；若所生成的随机整数在随机范围内，则保留所生成的随机整数。
可选的，判定模块520，具体可以用于遍历从2到目标整数之间的所有自然数，如果没有任何一个自然数可整除所生成的随机整数，则确定该随机整数为质数，其中，目标整数为所生成的随机整数减1，或者，目标整数为所生成的随机整数的平方根。
可选的，该装置还可以包括：
启动模块，用于在接收到测试开始指令时，启动计时器，并将计数器清零；
统计模块530，具体可以用于在判定所生成的随机整数为质数后，将计数器的数值累加1；若计时器的计时时长未达到预设时长，则返回执行生成随机整数的步骤，其中，预设时长基于处理器性能参数预先设定；若计时器的计时时长达到预设时长，则从计数器中读取出预设时长内判定为质数的随机整数总数量。
可选的，确定模块540，具体可以用于根据总数量及预设时长，计算平均判定速度；基于平均判定速度，确定运算性能测试结果，其中，运算性能测试结果为测试评分，测试评分与平均判定速度成正比关系。
可选的，该装置还可以包括：
输出模块，用于将运算性能测试结果输出至测试界面。
应用本发明实施例，通过生成随机整数，判定所生成的随机整数是否为质数，统计预设时长内判定为质数的随机整数总数量，基于该总数量，确定运算性能测试结果。经过对随机生成的整数进行判定，统计出预设时长内判定为质数的随机整数总数量，能够测试出电子设备对整数数据类型的识别能力，即一段时长内能够判定出多少个质数，从而实现了对电子设备在数学运算方面的性能测试。
本发明实施例还提供了一种电子设备，如图6所示，包括处理器601和存储器602，其中，存储器602，用于存放计算机程序；处理器601，用于执行存储器602上所存放的计算机程序时，实现上述运算性能测试方法。
上述存储器可以包括ram(randomaccessmemory，随机存取存储器)，也可以包括nvm(non-volatilememory，非易失性存储器)，例如至少一个磁盘存储器。可选的，存储器还可以是至少一个位于远离上述处理器的存储装置。
上述处理器可以是通用处理器，包括cpu、np(networkprocessor，网络处理器)等；还可以是dsp(digitalsignalprocessing，数字信号处理器)、asic(applicationspecificintegratedcircuit，专用集成电路)、fpga(field-programmablegatearray，现场可编程门阵列)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件。
本实施例中，上述处理器通过读取存储器中存储的计算机程序，并通过运行计算机程序，能够实现：通过生成随机整数，判定所生成的随机整数是否为质数，统计预设时长内判定为质数的随机整数总数量，基于该总数量，确定运算性能测试结果。经过对随机生成的整数进行判定，统计出预设时长内判定为质数的随机整数总数量，能够测试出电子设备对整数数据类型的识别能力，即一段时长内能够判定出多少个质数，从而实现了对电子设备在数学运算方面的性能测试。
另外，本发明实施例提供了一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质内存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现上述运算性能测试方法。
本实施例中，计算机可读存储介质存储有在运行时执行本发明实施例所提供的运算性能测试方法的计算机程序，因此能够实现：通过生成随机整数，判定所生成的随机整数是否为质数，统计预设时长内判定为质数的随机整数总数量，基于该总数量，确定运算性能测试结果。经过对随机生成的整数进行判定，统计出预设时长内判定为质数的随机整数总数量，能够测试出电子设备对整数数据类型的识别能力，即一段时长内能够判定出多少个质数，从而实现了对电子设备在数学运算方面的性能测试。
在本发明提供的又一实施例中，还提供了一种包含指令的计算机程序产品，当其在计算机上运行时，使得计算机执行上述运算性能测试方法。
在上述实施例中，可以全部或部分地通过软件、硬件、固件或者其任意组合来实现。当使用软件实现时，可以全部或部分地以计算机程序产品的形式实现。所述计算机程序产品包括一个或多个计算机指令。在计算机上加载和执行所述计算机程序指令时，全部或部分地产生按照本发明实施例所述的流程或功能。所述计算机可以是通用计算机、专用计算机、计算机网络、或者其他可编程装置。所述计算机指令可以存储在计算机可读存储介质中，或者从一个计算机可读存储介质向另一个计算机可读存储介质传输，例如，所述计算机指令可以从一个网站站点、计算机、服务器或数据中心通过有线(例如同轴电缆、光纤、dsl(digitalsubscriberline，数字用户线))或无线(例如红外、无线、微波等)方式向另一个网站站点、计算机、服务器或数据中心进行传输。所述计算机可读存储介质可以是计算机能够存取的任何可用介质或者是包含一个或多个可用介质集成的服务器、数据中心等数据存储设备。所述可用介质可以是磁性介质(例如软盘、硬盘、磁带)、光介质(例如dvd(digitalversatiledisc，数字多功能光盘))、或者半导体介质(例如ssd(solidstatedisk，固态硬盘))等。
对于运算性能测试装置、电子设备、计算机可读存储介质及计算机程序产品实施例而言，由于其所涉及的方法内容基本相似于前述的方法实施例，所以描述的比较简单，相关之处参见方法实施例的部分说明即可。
需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
本说明书中的各个实施例均采用相关的方式描述，各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处。尤其，对于运算性能测试装置、电子设备、计算机可读存储介质及计算机程序产品实施例而言，由于其基本相似于方法实施例，所以描述的比较简单，相关之处参见方法实施例的部分说明即可。
以上所述仅为本发明的较佳实施例，并非用于限定本发明的保护范围。凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换、改进等，均包含在本发明的保护范围内。
1.一种运算性能测试方法，其特征在于，所述方法包括：
生成随机整数；
判定所生成的随机整数是否为质数；
统计预设时长内判定为质数的随机整数总数量；
基于所述总数量，确定运算性能测试结果。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述生成随机整数的步骤，包括：
获取处理器性能参数；
根据所述处理器性能参数，设置随机种子值及随机范围；
基于所述随机种子值，生成随机整数；
若所生成的随机整数在所述随机范围内，则保留所生成的随机整数。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述判定所生成的随机整数是否为质数的步骤，包括：
遍历从2到目标整数之间的所有自然数，如果没有任何一个自然数可整除所生成的随机整数，则确定该随机整数为质数，其中，所述目标整数为所生成的随机整数减1，或者，所述目标整数为所生成的随机整数的平方根。
4.根据权利要求1或3所述的方法，其特征在于，在所述生成随机整数的步骤之前，所述方法还包括：
在接收到测试开始指令时，启动计时器，并将计数器清零；
所述统计预设时长内判定为质数的随机整数总数量的步骤，包括：
在判定所生成的随机整数为质数后，将所述计数器的数值累加1；
若所述计时器的计时时长未达到预设时长，则返回执行所述生成随机整数的步骤，其中，所述预设时长基于处理器性能参数预先设定；
若所述计时器的计时时长达到所述预设时长，则从所述计数器中读取出所述预设时长内判定为质数的随机整数总数量。
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述总数量，确定运算性能测试结果的步骤，包括：
根据所述总数量及所述预设时长，计算平均判定速度；
基于所述平均判定速度，确定运算性能测试结果，其中，所述运算性能测试结果为测试评分，所述测试评分与所述平均判定速度成正比关系。
6.根据权利要求1或5所述的方法，其特征在于，在所述基于所述总数量，确定运算性能测试结果的步骤之后，所述方法还包括：
将所述运算性能测试结果输出至测试界面。
7.一种运算性能测试装置，其特征在于，所述装置包括：
生成模块，用于生成随机整数；
判定模块，用于判定所生成的随机整数是否为质数；
统计模块，用于统计预设时长内判定为质数的随机整数总数量；
确定模块，用于基于所述总数量，确定运算性能测试结果。
8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述生成模块，具体用于获取处理器性能参数；根据所述处理器性能参数，设置随机种子值及随机范围；基于所述随机种子值，生成随机整数；若所生成的随机整数在所述随机范围内，则保留所生成的随机整数。
9.一种电子设备，其特征在于，包括处理器和存储器，其中，所述存储器，用于存放计算机程序；所述处理器，用于执行所述存储器上所存放的计算机程序时，实现权利要求1-6中任一项所述的方法。
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质内存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1-6中任一项所述的方法。
技术总结