本发明涉及测试技术领域，具体而言，涉及一种防呆测试机台。
背景技术：
目前企业在对生产的产品进行测试的时候往往会用到一拖多的测试机台。例如，对指纹模组测试，可使用到上述的一拖多测试机台。在该测试机台中多个软件工位通过一主机与多个测试夹具连接。由于芯片方案的协议限制，测试夹具与软件工位的通讯方式为识别usb(universalserialbus，通用串行总线)port口。使用不同的usb线可以对应不同的通讯线路，当遇到一台主机对应多个软件工位和多个测试夹具时就容易导致串工位的问题。例如，在测试夹具重新连接后，软件工位有可能对应不是测试夹具1，这样导致工位串位，出现测试a产品出现测试b产品的结果的问题，导致漏失和测试混乱。
目前，业内一拖多机台均采用人工对比usbport口和测试夹具是否为一一对应的关系，操作效率低，由于人工操作易错，无法实现实时监控测试机台是否出现串工位的问题。
技术实现要素：
有鉴于此，本发明实施例的目的在于提供一种防呆测试机台，可有效避免串工位的概率。
本申请通过一实施例提供如下技术方案：
一种防呆测试机台，其特征在于，包括：多个软件工位、主机、多个测试夹具；多个所述软件工位通过所述主机与多个所述测试夹具连接；每个所述测试夹具上设置有一ic芯片；所述软件工位与所述测试夹具预配对；在待测试的软件工位和与其配对的所述测试夹具通讯时，所述待测试的软件工位用于：获取与其配对的所述测试夹具的ic芯片信息；判断所述ic芯片信息与所述待测试的软件工位中的预设识别信息是否匹配；若否，则生成串工位的提示信息。
可选的，所述ic芯片信息为ic芯片中存储的识别标识；所述软件工位用于：在所述配对之前，向所述软件工位对应的ic芯片中写入所述识别标识；其中，所述识别标识与所述预设识别信息相匹配。
可选的，所述ic芯片上的sda端口与所述测试夹具对应的sda端口连接，所述ic芯片上的scl端口与所述测试夹具对应的scl端口连接。
可选的，所述ic芯片上vddio端口与所述所述测试夹具对应的vddio端口连接。
可选的，所述ic芯片型号为：948al、fm24c64d、wlcsp-4和751bd中的任一种。
可选的，所述ic芯片设置在所述测试夹具上。
可选的，所述测试夹具通过usb端口与所述主机连接。
本发明实施例提供的一种防呆测试机台，包括：多个软件工位、主机、多个测试夹具；多个软件工位通过所述主机与多个测试夹具连接；每个测试夹具上设置有一ic芯片，软件工位与测试夹具预配对；在待测试的软件工位和与其配对的测试夹具通讯时，待测试的软件工位用于：获取与其配对的测试夹具的ic芯片信息；判断ic芯片信息与待测试的软件工位中的预设识别信息是否匹配；若否，则生成串工位的提示信息。本发明实施例可对ic芯片信息进行识别以确定测试夹具和待测试的软件工位是否匹配，避免了人工识别匹配，提高了操作效率低，降低了出错率和出现串工位的概率。
为使本发明的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附附图，作详细说明如下。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本发明的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
图1是本发明较佳实施例提供的一种防呆测试机台的整体结构示意图；
图2是本发明较佳实施例提供的一种防呆测试机台的的测试夹具的结构示意图；
图3是本发明较佳实施例提供的一种防呆测试机台的工作配对流程图；
图4是本发明较佳实施例提供的一种防呆测试机台的ic芯片的连接结构示意图。
图标：100-防呆测试机台；1-软件工位；2-主机；3-多机台工位；31-测试夹具；32-ic芯片；33-测试主板；34-电路通讯端子；40-测试产品。
具体实施方式
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。
请参照图1，图1示出了本实施例提供的一种防呆测试机台100的整体结构示意图。所述防呆测试机台100包括：多个软件工位1、主机2和多机台工位3；其中，多机台工位3包括多个测试夹具31。
本实施例中的多个为两个以上，测试夹具31和软件工位1各自的数量不作限制。
软件工位1，可为显示测试软件的显示设备，用于显示交互式界面；例如每个工位对应于一个显示设备，或一个显示设备上分割为多个显示区域分别作为多个软件工位1。在软件工位1上可显示进行测试的控制界面，还可显示测试结果界面等等。每个软件工位1通过主机2连接一测试夹具31。
主机2，同于进行测试的通讯。软件工位1对应的软件程序可安装于主机2中；当主机2仅作为测试通讯时，也可安装于其他设备上。
测试夹具31，用于安装需要进行测试的测试产品40，测试产品40如指纹模组，此时测试夹具31可为指纹测试夹具socket，如图2所示。测试夹具31，还用于对测试产品40按照预设的要求点亮。测试夹具31的数量与软件工位1的数量相同，并且一一对应。测试夹具31上可连接有夹具转板，夹具转板上布置有电路通讯端子34。具体的，电路通讯端子34为测试夹具31上的测试主板33的端子，如图3所示。该电路通讯端子34可为测试产品40提供连接接口。测试夹具31通过usb(universalserialbus，通用串行总线)端口与主机2连接，usb端口为测试主板33上的usb端口。
ic芯片32，用于与测试夹具31连接，可通过电路通讯端子34与测试夹具31连接。该ic芯片32可固定设置在测试夹具31上。
在本实施例中的防呆测试机台100中，多个软件工位1通过主机2分别与多个测试夹具31连接。在执行测试工作的配对之前，需要进行软件工位1与测试夹具31的预配对，预配对过程具体包括：向软件工位1对应的ic芯片32中写入ic芯片信息；软件工位1与对应的测试夹具31上的ic芯片32相对应。相应的，在软件工位1中应当存储与ic芯片信息向匹配的预设识别信息。具体的，ic芯片信息可包括ic芯片32中存储的识别标识，ic芯片32中存储识别标识的存储地址，ic芯片32与测试主板33连接的端口编号，等等。其中识别标识可为测试夹具31的夹具编号，或软件工位1的编号，等等。预设识别信息可为一预设的编号，如，测试夹具31或软件工位1的序列号，与识别标识相同的数据，等等。
请参阅图3，在待测试的软件工位1和与其配对的测试夹具31通讯时，待测试的软件工位1用于进行如下步骤：
步骤s10：获取与其配对的所述测试夹具的ic芯片信息。
步骤s20：判断所述ic芯片信息与所述待测试的软件工位中的预设识别信息是否匹配。
步骤s30：若否，则生成串工位的提示信息。
需要说明书的是，步骤s10-s30中，通讯时的配对表示测试夹具31安装到多机台工位3上时的配对，但并不表示二者已经相匹配。待测试的软件工位1为多个软件工位1中的任一个。与待测试的软件工位1配对的测试夹具31为多个测试夹具31中的任一个。在多个测试夹具31中存在一个测试夹具31的ic芯片信息与待测试的软件工位1中的预设识别信息唯一对应。。
在串工位的提示信息时，待测试的软件工位1不启动测试工作，直至测试人员排查解除故障后，得到正确的夹具编号才能够继续作业。
本实施例中所使用的ic芯片32的型号可为948al、fm24c64d、wlcsp-4和751bd中的任一种，还可为与上述型号类型相同的内存芯片。具体的，ic芯片32上的sda端口与测试夹具31对应的sda端口连接，ic芯片32上的scl端口与测试夹具31对应的scl端口连接；ic芯片32上vddio端口与所述测试夹具31对应的vddio端口连接，如图4所示。
进一步的，本实施例中为了对ic芯片32进行读写，定义读写方法如下：
本实施中，ic芯片32为支持读写dev＝0xa0，addr＝0x00的内存芯片。
i2c读：使用getvalue变量“i2cbytesrw”读取i2c数据。其中，参数value前3字符分别表示：j＝1字符p＝2字符，lgth为读写的长度。
例如：inti2cl＝10；
stringi2cdata＝site“102”；
retcode＝gpmtlibrary.gfp(“i2cbytesrw”,refni2cl)；
上述代码表示：对接口进行统一位置为“102”，以实现统一的读写功能。
i2c写，例如：
stringi2cdata＝site“102site1”；
上述代码表示：通过接口“102”对ic芯片进行写入数据。
本实施例中提供的一种防呆测试机台100，包括：多个软件工位1、主机2、多个测试夹具31；多个软件工位1通过所述主机2与多个测试夹具31连接；每个测试夹具31上设置有一个ic芯片32，软件工位1与测试夹具31预配对；在待测试的软件工位1和与其配对的测试夹具31通讯时，待测试的软件工位1用于：获取与其配对的测试夹具31的ic芯片信息；然后，判断ic芯片信息与待测试的软件工位1中的预设识别信息是否匹配；若否，则生成串工位的提示信息。由于上述过程可对ic芯片32的ic芯片信息进行识别以确定测试夹具31和待测试的软件工位1是否匹配，避免了人工识别匹配，提高了操作效率低，降低了出错率和出现串工位的概率。
以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
另外，上述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本发明实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。
因此，以下对在附图中提供的本发明的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本发明的范围，而是仅仅表示本发明的选定实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。
在本发明的描述中，还需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“设置”、“安装”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
1.一种防呆测试机台，其特征在于，包括：多个软件工位、主机、多个测试夹具；多个所述软件工位通过所述主机与多个所述测试夹具连接；每个所述测试夹具上设置有一ic芯片；所述软件工位与所述测试夹具预配对；在待测试的软件工位和与其配对的所述测试夹具通讯时，所述待测试的软件工位用于：
获取与其配对的所述测试夹具的ic芯片信息；
判断所述ic芯片信息与所述待测试的软件工位中的预设识别信息是否匹配；
若否，则生成串工位的提示信息。
2.根据权利要求1所述的防呆测试机台，其特征在于，所述ic芯片信息为ic芯片中存储的识别标识；所述软件工位用于：
在所述配对之前，向所述软件工位对应的ic芯片中写入所述识别标识；其中，所述识别标识与所述预设识别信息相匹配。
3.根据权利要求1所述的防呆测试机台，其特征在于，所述ic芯片上的sda端口与所述测试夹具对应的sda端口连接，所述ic芯片上的scl端口与所述测试夹具对应的scl端口连接。
4.根据权利要求1所述的防呆测试机台，其特征在于，所述ic芯片上vddio端口与所述所述测试夹具对应的vddio端口连接。
5.根据权利要求1所述的防呆测试机台，其特征在于，所述ic芯片型号为：948al、fm24c64d、wlcsp-4和751bd中的任一种。
6.根据权利要求1所述的防呆测试机台，其特征在于，所述ic芯片设置在所述测试夹具上。
7.根据权利要求1所述的防呆测试机台，其特征在于，所述测试夹具上设置有测试主板。
8.根据权利要求7所述的防呆测试机台，其特征在于，所述测试主板上连接有电路通讯端子，所述ic芯片连接在所述电路通讯端子上。
9.根据权利要求7所述的防呆测试机台，其特征在于，所述测试主板上设置有usb端口，所述测试夹具通过所述usb端口与所述主机连接。
10.根据权利要求1-9任一所述的防呆测试机台，其特征在于，所述测试夹具用于连接指纹模组。
技术总结