本发明涉及数据处理领域，更具体地说，涉及产品认证方法、系统、可读存储介质及电子设备。
背景技术：
：产品认证分为国家强制性产品认证和自愿性产品认证。强制性产品认证要求由国家制定颁布，各认证机构执行，侧重于产品最基本的安全要求。自愿性产品认证一般由各个认证机构自己规定。现有的产品认证过程，由认证机构的相关人员，人为分析对产品质量有影响的各因素，并给出产品的评价结果。这种人为认证过程耗时较长，且评价结果容易受到主观因素影响。技术实现要素：有鉴于此，本发明提出一种产品认证方法、系统、可读存储介质及电子设备，欲实现提高产品认证的效率且减少评价结果受到主观因素的影响的目的。为了实现上述目的，现提出的方案如下：一种产品认证方法，包括：接收并响应待认证产品确定指令，从质量影响因素数据库获取待认证产品各层级的质量影响因素和每个所述质量影响因素的权重，并显示最低层级的所有质量影响因素；接收用户输入的最低层级中每个质量影响因素的评语数值；将低层级的同类别质量影响因素的评语数值乘以其权重后相加，得到比所述低层级高一级的质量影响因素的评语数值；输出所述待认证产品的评价结果，最高层级的同类别质量影响因素的评语数值乘以其权重后相加，得到的为所述待认证产品的评价结果。可选的，同类别质量影响因素的权重计算过程包括：接收用户输入的针对所述同类别质量影响因素的判断矩阵；计算得到所述判断矩阵的最大特征值；计算得到与所述最大特征根对应的特征向量；对所述特征向量进行归一化处理，归一化处理后的特征向量中的各个元素为所述同类别质量影响因素的权重。可选的，在所述计算得到所述判断矩阵的最大特征值的步骤后，还包括：将所述最大特征值代入矩阵参数公式，得到矩阵参数，所述矩阵参数公式为：c＝(λmax-m)/[(m-1)*r]其中，m为所述判断矩阵的阶数，r为与所述判断矩阵的阶数相关的常数，λmax为所述最大特征值，c为所述矩阵参数；判断所述矩阵参数是否大于参数阈值，若否，则执行所述计算得到与所述最大特征根对应的特征向量的步骤，若是，提示用户修改所述判断矩阵。可选的，在所述接收用户输入的最低层级中每个质量影响因素的评语数值的步骤后，还包括：将最低层级中的同类别质量影响因素的评语数值进行归一化处理。一种产品认证系统，包括：资源控制模块，用于接收并响应待认证产品确定指令，从质量影响因素数据库获取待认证产品各层级的质量影响因素和每个所述质量影响因素的权重，并显示最低层级的所有质量影响因素；评语数值模块，用于接收用户输入的最低层级中每个质量影响因素的评语数值；数据处理模块，用于将低层级的同类别质量影响因素的评语数值乘以其权重后相加，得到比所述低层级高一级的质量影响因素的评语数值；输出数据模块，用于输出所述待认证产品的评价结果，最高层级的同类别质量影响因素的评语数值乘以其权重后相加，得到的为所述待认证产品的评价结果。可选的，上述产品认证系统，还包括：判断矩阵模块，用于接收用户输入的针对所述同类别质量影响因素的判断矩阵；最大特征值模块，用于计算得到所述判断矩阵的最大特征值；特征向量模块，用于计算得到与所述最大特征根对应的特征向量；第一归一化模块，用于对所述特征向量进行归一化处理，归一化处理后的特征向量中的各个元素为所述同类别质量影响因素的权重。可选的，上述产品认证系统，还包括：矩阵参数模块，用于将所述最大特征值代入矩阵参数公式，得到矩阵参数，所述矩阵参数公式为：c＝(λmax-m)/[(m-1)*r]其中，m为所述判断矩阵的阶数，r为与所述判断矩阵的阶数相关的常数，λmax为所述最大特征值，c为所述矩阵参数；判断模块，用于判断所述矩阵参数是否大于参数阈值，若否，则执行所述特征向量模块，若是，提示用户修改所述判断矩阵。可选的，上述产品认证系统，还包括：第二归一化模块，用于将最低层级中的同类别质量影响因素的评语数值进行归一化处理。一种可读存储介质，其上存储有程序，其特征在于，所述程序被处理器执行时，实现上述任意一种产品认证方法的各个步骤。一种电子设备，包括存储器和处理器，其中，所述存储器，用于存储程序；所述处理器，用于执行所述程序，实现上述任意一种产品认证方法的各个步骤。与现有技术相比，本发明的技术方案具有以下优点：上述技术方案提供的一种产品认证方法，预先建立质量影响因素数据库，按照产品分类，针对每类产品保存对该产品的质量存在影响的因素集合，并保存每个质量影响因素的权重，在认证过程中，用户从系统中选择待认证产品，并输入待认证产品对应的最底层级中每个质量影响因素的评语数值；系统根据最底层级中每个质量影响因素的评语数值和每个质量影响因素的权重，自动计算出待认证产品的评价结果。由系统自动计算，提高了产品认证效率，且使得评价结果更加客观。附图说明为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。图1为本发明实施例提供的一种产品认证方法的流程图；图2为本发明实施例提供的一种权重计算方法的流程图；图3为本发明实施例提供的一种产品认证系统的逻辑结构示意图；图4为本发明实施例提供的一种电子设备的结构示意图。具体实施方式下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。本实施例提供了一种产品认证方法，应用于电子设备中，电子设备包括但不限于计算机、智能手机和平板电脑等。参见图1，该产品认证方法可以包括步骤：s11：接收并响应待认证产品确定指令，从质量影响因素数据库获取待认证产品各层级的质量影响因素和每个所述质量影响因素的权重，并显示最低层级的所有质量影响因素。预先建立质量影响因素数据库，按照产品分类，针对每类产品保存对该产品的质量存在影响的因素集合，并保存每个质量影响因素的权重。产品的质量影响因素分为多层级，低层级的同类质量影响因素组成在一起对应高一层级的质量影响因素。例如，某个产品的质量影响因素包括两个层级，高层级的质量影响因素包括但不限于人员配置、设备设置、采购管理、技术能力、检验能力、生产能力和文件记录等。人员配置对应的低层级的同类质量影响因素包括认证管理人员能力、技术人员能力、生产人员能力、检验人员能力和采购人员能力等。技术能力包括技术管理水平、产品技术地位、技术来源、技术变更能力和技术验证能力等。s12：接收用户输入的最低层级中每个质量影响因素的评语数值。用户可以通过语音输入、按键输入或触控屏输入的方式，输入最低层级中每个质量影响因素的评语数值。在一个具体实施例中，用户根据质量影响因素的实际情况，从1、2、3、4、5、6、7、8、9和10中选择一个数值作为该质量影响因素的评语数值输入。例如，对于技术人员能力，可以根据技术人员的教育经历和专业工作经验等情况，选择一个相对应数字作为技术人员能力的评语数值。s13：将低层级的同类别质量影响因素的评语数值乘以其权重后相加，得到比低层级高一级的质量影响因素的评语数值。例如，分别将认证管理人员能力、技术人员能力、生产人员能力、检验人员能力和采购人员能力的评语数值，乘以其各自的权重后相加，得到人员配置的评语数值；分别将将人员配置、设备设置、采购管理、技术能力、检验能力、生产能力和文件记录的评语数值，乘以其各自的权重后相加，得到产品的评价结果。s14：输出待认证产品的评价结果，最高层级的同类别质量影响因素的评语数值乘以其权重后相加，得到的为待认证产品的评价结果。还可以输出待认证产品的所有质量影响因素的评语数值，以直观显示产品质量薄弱环节，指导进行对应改进。本实施例提供的产品认证方法，预先建立质量影响因素数据库，按照产品分类，针对每类产品保存对该产品的质量存在影响的因素集合，并保存每个质量影响因素的权重，在认证过程中，用户从系统中选择待认证产品，并输入待认证产品对应的最底层级中每个质量影响因素的评语数值；系统根据最底层级中每个质量影响因素的评语数值和每个质量影响因素的权重，自动计算出待认证产品的评价结果。由系统自动计算，提高了产品认证效率，且使得评价结果更加客观。参见图2，为本实施例提供的同类别质量影响因素的权重计算方法的流程图，该方法包括步骤：s21：接收用户输入的针对同类别质量影响因素的判断矩阵。对同类别质量影响因素的相对重要性给出的判断，这些判断用数值表示出来，写成矩阵形式就是判断矩阵。在本实施例中，两个元素相比，根据重要程度的不同，采用1、3、5、7、9表示，数字越大则表示一个元素相比另个元素越重要。1表示两个元素同等重要。对于同一层级且同一类的质量影响因素，将所有质量影响因素，对于高一层级质量影响因素的影响的重要程度做两两对比，根据相对重要性的判断准则给出合适的数值，从而形成判断矩阵。e中的元素eij为质量影响因素i对质量影响因素j的相对重要性，eii＝1,eij＝1/eji，m为相互比较的同层级同类质量影响因素的个数。例如，认证管理人员能力、技术人员能力、生产人员能力、检验人员能力和采购人员能力的判断矩阵为：s22：计算得到判断矩阵的最大特征值。在计算得到判断矩阵的最大特征值的步骤后，还可以包括步骤将最大特征值代入矩阵参数公式，得到矩阵参数。矩阵参数公式为：c＝(λmax-m)/[(m-1)*r]，其中，m为判断矩阵的阶数，r为与判断矩阵的阶数相关的常数，λmax为最大特征值，c为矩阵参数。r的取值见下表：判断矩阵阶数3456789101112r取值0.580.901.121.241.321.411.451.491.521.54然后，判断矩阵参数是否大于参数阈值，若否，则执行计算得到与最大特征根对应的特征向量的步骤，若是，提示用户修改所述判断矩阵。在一个具体实施例中，参数阈值设为0.1。s23：计算得到与最大特征根对应的特征向量。s24：对特征向量进行归一化处理，归一化处理后的特征向量中的各个元素为同类别质量影响因素的权重。可选的，在接收用户输入的最低层级中每个质量影响因素的评语数值的步骤后，还包括：将最低层级中的同类别质量影响因素的评语数值进行归一化处理。对于前述的各方法实施例，为了简单描述，故将其都表述为一系列的动作组合，但是本领域技术人员应该知悉，本发明并不受所描述的动作顺序的限制，因为依据本发明，某些步骤可以采用其他顺序或者同时进行。下述为本发明装置实施例，可以用于执行本发明方法实施例。对于本发明装置实施例中未披露的细节，请参照本发明方法实施例。参见图3，为本实施例提供的一种产品认证系统，包括资源控制模块31、评语数值模块32、数据处理模块33和输出数据模块34，其中，资源控制模块31，用于接收并响应待认证产品确定指令，从质量影响因素数据库获取待认证产品各层级的质量影响因素和每个所述质量影响因素的权重，并显示最低层级的所有质量影响因素。评语数值模块32，用于接收用户输入的最低层级中每个质量影响因素的评语数值。数据处理模块33，用于将低层级的同类别质量影响因素的评语数值乘以其权重后相加，得到比所述低层级高一级的质量影响因素的评语数值。输出数据模块34，用于输出所述待认证产品的评价结果，最高层级的同类别质量影响因素的评语数值乘以其权重后相加，得到的为所述待认证产品的评价结果。本实施例提供的产品认证系统，预先建立质量影响因素数据库，按照产品分类，针对每类产品保存对该产品的质量存在影响的因素集合，并保存每个质量影响因素的权重，在认证过程中，用户从系统中选择待认证产品，并输入待认证产品对应的最底层级中每个质量影响因素的评语数值；数据处理模块33根据最底层级中每个质量影响因素的评语数值和每个质量影响因素的权重，自动计算出待认证产品的评价结果。由系统自动计算，提高了产品认证效率，且使得评价结果更加客观。可选的，上述产品认证系统，还包括：判断矩阵模块、最大特征值模块、特征向量模块和第一归一化模块，其中，判断矩阵模块，用于接收用户输入的针对所述同类别质量影响因素的判断矩阵。最大特征值模块，用于计算得到所述判断矩阵的最大特征值。特征向量模块，用于计算得到与所述最大特征根对应的特征向量。第一归一化模块，用于对所述特征向量进行归一化处理，归一化处理后的特征向量中的各个元素为所述同类别质量影响因素的权重。可选的，上述产品认证系统，还包括：矩阵参数模块和判断模块，其中，矩阵参数模块，用于将所述最大特征值代入矩阵参数公式，得到矩阵参数，所述矩阵参数公式为：c＝(λmax-m)/[(m-1)*r]其中，m为所述判断矩阵的阶数，r为与所述判断矩阵的阶数相关的常数，λmax为所述最大特征值，c为所述矩阵参数；判断模块，用于判断所述矩阵参数是否大于参数阈值，若否，则执行所述特征向量模块，若是，提示用户修改所述判断矩阵。可选的，上述产品认证系统，还包括：第二归一化模块，用于将最低层级中的同类别质量影响因素的评语数值进行归一化处理。本实施例提供的产品认证系统可应用于电子设备，如计算机、智能手机、平板电脑、云平台、服务器及服务器集群等。服务器可以是机架式服务器、刀片式服务器、塔式服务器以及机柜式服务器中的一种或几种。参见图4，为本申请电子设备的较佳实施例的示意图。电子设备的硬件结构可以包括：至少一个处理器41，至少一个通信接口42，至少一个存储器43和至少一个通信总线44。在实施例中，处理器41、通信接口42、存储器43、通信总线44的数量为至少一个，且处理器41、通信接口42、存储器43通过通信总线44完成相互间的通信。处理器41在一些实施例中可以是一个cpu(centralprocessingunit，中央处理器)，或者是asic(applicationspecificintegratedcircuit，特定集成电路)，或者是被配置成实施本发明实施例的一个或多个集成电路等。通信接口42可以包括标准的有线接口、无线接口(如wi-fi接口)。通常用于在电子设备与其他电器或系统之间建立通信连接。存储器43包括至少一种类型的可读存储介质。可读存储介质可以为如闪存、硬盘、多媒体卡、卡型存储器等nvm(non-volatilememory，非易失性存储器)。可读存储介质还可以是高速ram(randomaccessmemory，随机存取存储器)存储器。可读存储介质在一些实施例中可以是电子设备的内部存储单元，例如该电子设备的硬盘。在另一些实施例中，可读存储介质还可以是电子设备的外部存储设备，例如该电子设备上配备的插接式硬盘、smc(smartmediacard,智能存储卡)、sd(securedigital,安全数字)卡，闪存卡(flashcard)等。其中，存储器43存储有程序，处理器41可调用存储器43存储的程序，所述程序用于：接收并响应待认证产品确定指令，从质量影响因素数据库获取待认证产品各层级的质量影响因素和每个所述质量影响因素的权重，并显示最低层级的所有质量影响因素；接收用户输入的最低层级中每个质量影响因素的评语数值；将低层级的同类别质量影响因素的评语数值乘以其权重后相加，得到比所述低层级高一级的质量影响因素的评语数值；输出所述待认证产品的评价结果，最高层级的同类别质量影响因素的评语数值乘以其权重后相加，得到的为所述待认证产品的评价结果。所述程序的细化功能和扩展功能可参照上文描述。图4仅示出了具有组件41～44的电子设备，但是应理解的是，并不要求实施所有示出的组件，可以替代的实施更多或者更少的组件。可选地，该电子设备还可以包括用户接口，用户接口可以包括输入单元(比如键盘)、语音输入装置(比如包含麦克风的具有语音识别功能的设备)和/或语音输出装置(比如音响、耳机等)。可选地，用户接口还可以包括标准的有线接口和/或无线接口。可选地，该电子设备还可以包括显示器，显示器也可以称为显示屏或显示单元。在一些实施例中可以是led显示器、液晶显示器、触控式液晶显示器以及oled(organiclight-emittingdiode，有机发光二极管)显示器等。显示器用于显示在电子设备中处理的信息、用于显示可视化的用户界面以及显示质量影响因素和待测产品的评价结果等。可选地，该电子设备还包括触摸传感器。触摸传感器所提供的供用户进行触摸操作的区域称为触控区域。此外，触摸传感器可以为电阻式触摸传感器、电容式触摸传感器等。而且，触摸传感器不仅包括接触式的触摸传感器，也可包括接近式的触摸传感器等。此外，触摸传感器可以为单个传感器，也可以为例如阵列布置的多个传感器。用户可以通过触摸触控区域输入身份识别信息或输入信息等。此外，该电子设备的显示器的面积可以与触摸传感器的面积相同，也可以不同。可选地，将显示器与触摸传感器层叠设置，以形成触摸显示屏。该装置基于触摸显示屏侦测用户触发的触控操作。该数据校验设备还可以包括rf(radiofrequency，射频)电路、传感器和音频电路等等，在此不再赘。本发明实施例还提供一种可读存储介质，该可读存储介质可存储有适于处理器执行的程序，所述程序用于：接收并响应待认证产品确定指令，从质量影响因素数据库获取待认证产品各层级的质量影响因素和每个所述质量影响因素的权重，并显示最低层级的所有质量影响因素；接收用户输入的最低层级中每个质量影响因素的评语数值；将低层级的同类别质量影响因素的评语数值乘以其权重后相加，得到比所述低层级高一级的质量影响因素的评语数值；输出所述待认证产品的评价结果，最高层级的同类别质量影响因素的评语数值乘以其权重后相加，得到的为所述待认证产品的评价结果。所述程序的细化功能和扩展功能可参照上文描述。对于装置实施例而言，由于其基本相应于方法实施例，所以相关之处参见方法实施例的部分说明即可。以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，其中所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案的目的。本领域普通技术人员在不付出创造性劳动的情况下，即可以理解并实施。在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。本说明书中各个实施例采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。对本发明所公开的实施例的上述说明，使本领域专业技术人员能够实现或使用本发明。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本发明将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。当前第1页1 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技术特征：1.一种产品认证方法，其特征在于，包括：
接收并响应待认证产品确定指令，从质量影响因素数据库获取待认证产品各层级的质量影响因素和每个所述质量影响因素的权重，并显示最低层级的所有质量影响因素；
接收用户输入的最低层级中每个质量影响因素的评语数值；
将低层级的同类别质量影响因素的评语数值乘以其权重后相加，得到比所述低层级高一级的质量影响因素的评语数值；
输出所述待认证产品的评价结果，最高层级的同类别质量影响因素的评语数值乘以其权重后相加，得到的为所述待认证产品的评价结果。
2.根据权利要求1所述的产品认证方法，其特征在于，同类别质量影响因素的权重计算过程包括：
接收用户输入的针对所述同类别质量影响因素的判断矩阵；
计算得到所述判断矩阵的最大特征值；
计算得到与所述最大特征根对应的特征向量；
对所述特征向量进行归一化处理，归一化处理后的特征向量中的各个元素为所述同类别质量影响因素的权重。
3.根据权利要求2所述的产品认证方法，其特征在于，在所述计算得到所述判断矩阵的最大特征值的步骤后，还包括：
将所述最大特征值代入矩阵参数公式，得到矩阵参数，所述矩阵参数公式为：c＝(λmax-m)/[(m-1)*r]
其中，m为所述判断矩阵的阶数，r为与所述判断矩阵的阶数相关的常数，λmax为所述最大特征值，c为所述矩阵参数；
判断所述矩阵参数是否大于参数阈值，若否，则执行所述计算得到与所述最大特征根对应的特征向量的步骤，若是，提示用户修改所述判断矩阵。
4.根据权利要求1～3任意一项所述的产品认证方法，其特征在于，在所述接收用户输入的最低层级中每个质量影响因素的评语数值的步骤后，还包括：
将最低层级中的同类别质量影响因素的评语数值进行归一化处理。
5.一种产品认证系统，其特征在于，包括：
资源控制模块，用于接收并响应待认证产品确定指令，从质量影响因素数据库获取待认证产品各层级的质量影响因素和每个所述质量影响因素的权重，并显示最低层级的所有质量影响因素；
评语数值模块，用于接收用户输入的最低层级中每个质量影响因素的评语数值；
数据处理模块，用于将低层级的同类别质量影响因素的评语数值乘以其权重后相加，得到比所述低层级高一级的质量影响因素的评语数值；
输出数据模块，用于输出所述待认证产品的评价结果，最高层级的同类别质量影响因素的评语数值乘以其权重后相加，得到的为所述待认证产品的评价结果。
6.根据权利要求5所述的产品认证系统，其特征在于，还包括：
判断矩阵模块，用于接收用户输入的针对所述同类别质量影响因素的判断矩阵；
最大特征值模块，用于计算得到所述判断矩阵的最大特征值；
特征向量模块，用于计算得到与所述最大特征根对应的特征向量；
第一归一化模块，用于对所述特征向量进行归一化处理，归一化处理后的特征向量中的各个元素为所述同类别质量影响因素的权重。
7.根据权利要求6所述的产品认证系统，其特征在于，还包括：
矩阵参数模块，用于将所述最大特征值代入矩阵参数公式，得到矩阵参数，所述矩阵参数公式为：c＝(λmax-m)/[(m-1)*r]
其中，m为所述判断矩阵的阶数，r为与所述判断矩阵的阶数相关的常数，λmax为所述最大特征值，c为所述矩阵参数；
判断模块，用于判断所述矩阵参数是否大于参数阈值，若否，则执行所述特征向量模块，若是，提示用户修改所述判断矩阵。
8.根据权利要求5～7任意一项所述的产品认证系统，其特征在于，还包括：
第二归一化模块，用于将最低层级中的同类别质量影响因素的评语数值进行归一化处理。
9.一种可读存储介质，其上存储有程序，其特征在于，所述程序被处理器执行时，实现如权利要求1～4中任一项所述的产品认证方法的各个步骤。
10.一种电子设备，包括存储器和处理器，所述存储器，用于存储程序，其特征在于，
所述处理器，用于执行所述程序，实现如权利要求1～4中任一项所述的产品认证方法的各个步骤。
技术总结本申请公开一种产品认证方法、系统、可读存储介质及电子设备，属于数据处理领域，方法包括预先建立质量影响因素数据库，按照产品分类，针对每类产品保存对该产品的质量存在影响的因素集合，并保存每个质量影响因素的权重，在认证过程中，用户从系统中选择待认证产品，并输入待认证产品对应的最底层级中每个质量影响因素的评语数值；系统根据最底层级中每个质量影响因素的评语数值和每个质量影响因素的权重，自动计算出待认证产品的评价结果。由系统自动计算，提高了产品认证效率，且使得评价结果更加客观。
技术研发人员：贾一凡;王春杰;孔珍珍;吴群;张小勇;张艳
受保护的技术使用者：西安高压电器研究院有限责任公司;中国西电电气股份有限公司
技术研发日：2019.08.21
技术公布日：2021.03.12
