本技术涉及电子枪测试领域，尤其是涉及一种辐照加速器用栅控电子枪的测试系统。
背景技术：
1、电子枪是产生、加速及会聚高能量密度电子束流的装置，它发射出具有一定能量、一定束流以及速度和角度的电子束，又称电子注。电子枪的应用有非弹性电子散射和荧光屏发光等等；因此，电子枪在出厂交付使用商家之后，商家会对电子枪进行性能状态测试，对电子枪的初始状态进行标定；但是在使用电子枪的过程中，难免会出现故障，当电子枪出现故障时，会影响到电子枪的使用寿命，而电子枪的性能是与寿命息息相关的，此时就需要对电子枪进行重新测试以获得新的状态性能信息；但是常规的测试方法较为繁琐，对操作人员和测试环境均有较高的要求，因此亟须一种便捷的电子枪测试方式。
技术实现思路
1、本技术提供一种辐照加速器用栅控电子枪的测试系统，具有提高了电子枪的测试便捷性的特点。
2、本技术目的一是提供一种辐照加速器用栅控电子枪的测试系统。
3、本技术的上述申请目的一是通过以下技术方案得以实现的：
4、一种辐照加速器用栅控电子枪的测试系统，包括处理器，所述处理器内执行有辐照加速器用栅控电子枪的测试方法，所述方法包括：
5、获取电子枪历史使用信息；所述电子枪历史使用信息包括电子枪历史测试信息和电子枪历史故障信息；
6、基于所述电子枪历史故障信息和所述电子枪历史测试信息确定电子枪的历史故障寿命变化信息和历史寿命性能变化信息；
7、根据预获取的电子枪性能分析模型、所述历史故障寿命变化信息、所述历史寿命性能变化信息和所述电子枪历史使用信息确定电子枪预估性能变化信息；
8、根据所述电子枪预估性能变化信息和预获取的电子枪实际故障信息确定电子枪测试结果。
9、本技术在一较佳示例中可以进一步配置为，所述基于所述电子枪历史故障信息和所述电子枪历史测试信息确定电子枪的历史故障寿命变化信息和历史寿命性能变化信息包括：
10、根据所述电子枪历史故障信息和所述电子枪历史测试信息确定故障寿命影响信息和寿命性能影响信息；
11、根据所述电子枪历史故障信息确定环境影响信息；
12、根据所述环境影响信息、所述故障寿命影响信息和所述寿命性能影响信息确定所述历史故障寿命变化信息和所述历史寿命性能变化信息。
13、本技术在一较佳示例中可以进一步配置为，所述根据所述电子枪历史故障信息和所述电子枪历史测试信息确定故障寿命影响信息和寿命性能影响信息包括：
14、根据所述电子枪历史测试信息确定历史寿命测试信息和历史性能测试信息；
15、根据所述电子枪历史故障信息确定故障种类信息；
16、根据所述故障种类信息和所述历史寿命测试信息确定故障寿命影响信息；
17、根据所述历史寿命测试信息和所述历史性能测试信息确定寿命性能影响信息。
18、本技术在一较佳示例中可以进一步配置为，所述电子枪性能分析模型包括：
19、;
20、其中，a表示电子枪的初始性能值，p表示电子枪的预估测试性能值；i取值1-n，表示电子枪第一子生命周期内出现的故障种类；表示电子枪第一子生命周期内每种故障对应的故障影响度值，表示电子枪第一子生命周期内每一故障影响度值对应的损耗生命值，l1表示电子枪第一子生命周期内每一损耗生命值对应的性能缺失值；
21、j取值1-m，表示电子枪第二子生命周期内出现的故障种类；表示电子枪第二子生命周期内每种故障对应的故障影响度值，表示电子枪第二子生命周期内每一故障影响度值对应的损耗生命值，l2表示电子枪第二子生命周期内每一损耗生命值对应的性能缺失值；
22、p取值1-q，表示电子枪第三子生命周期内出现的故障种类；表示电子枪第三子生命周期内每种故障对应的故障影响度值，表示电子枪第三子生命周期内每一故障影响度值对应的损耗生命值，l3表示电子枪第三子生命周期内每一损耗生命值对应的性能缺失值；
23、f1(t)、f2(t)、f3(t)为预设分段函数，t取不小于0且不大于预设时长。
24、本技术目的二是提供一种辐照加速器用栅控电子枪的测试方法的应用系统。
25、本技术的上述申请目的二是通过以下技术方案得以实现的：
26、一种辐照加速器用栅控电子枪的测试方法的应用系统，包括：
27、获取模块，用于获取电子枪历史使用信息；所述电子枪历史使用信息包括电子枪历史测试信息和电子枪历史故障信息；
28、确定模块，用于基于所述电子枪历史故障信息和所述电子枪历史测试信息确定电子枪的历史故障寿命变化信息和历史寿命性能变化信息；
29、分析模块，用于根据预获取的电子枪性能分析模型、所述历史故障寿命变化信息、所述历史寿命性能变化信息和所述电子枪历史使用信息确定电子枪预估性能变化信息；
30、输出模块，用于根据所述电子枪预估性能变化信息和预获取的电子枪实际故障信息确定电子枪测试结果。
31、本技术在一较佳示例中可以进一步配置为，所述确定模块被进一步配置为：
32、根据所述电子枪历史故障信息和所述电子枪历史测试信息确定故障寿命影响信息和寿命性能影响信息；
33、根据所述电子枪历史故障信息确定环境影响信息；
34、根据所述环境影响信息、所述故障寿命影响信息和所述寿命性能影响信息确定所述历史故障寿命变化信息和所述历史寿命性能变化信息。
35、本技术在一较佳示例中可以进一步配置为，所述确定模块被进一步配置为：
36、根据所述电子枪历史测试信息确定历史寿命测试信息和历史性能测试信息；
37、根据所述电子枪历史故障信息确定故障种类信息；
38、根据所述故障种类信息和所述历史寿命测试信息确定故障寿命影响信息；
39、根据所述历史寿命测试信息和所述历史性能测试信息确定寿命性能影响信息。
40、本技术在一较佳示例中可以进一步配置为，所述分析模块被进一步配置为，所述电子枪性能分析模型包括：
41、;
42、其中，a表示电子枪的初始性能值，p表示电子枪的预估测试性能值；i取值1-n，表示电子枪第一子生命周期内出现的故障种类；表示电子枪第一子生命周期内每种故障对应的故障影响度值，表示电子枪第一子生命周期内每一故障影响度值对应的损耗生命值，l1表示电子枪第一子生命周期内每一损耗生命值对应的性能缺失值；
43、j取值1-m，表示电子枪第二子生命周期内出现的故障种类；表示电子枪第二子生命周期内每种故障对应的故障影响度值，表示电子枪第二子生命周期内每一故障影响度值对应的损耗生命值，l2表示电子枪第二子生命周期内每一损耗生命值对应的性能缺失值；
44、p取值1-q，表示电子枪第三子生命周期内出现的故障种类；表示电子枪第三子生命周期内每种故障对应的故障影响度值，表示电子枪第三子生命周期内每一故障影响度值对应的损耗生命值，l3表示电子枪第三子生命周期内每一损耗生命值对应的性能缺失值；
45、f1(t)、f2(t)、f3(t)为预设分段函数，t取不小于0且不大于预设时长。
46、本技术目的三是提供一种终端。
47、本技术的上述申请目的三是通过以下技术方案得以实现的：
48、一种终端，包括存储器和处理器，所述存储器上存储有能够被处理器加载并执行的上述辐照加速器用栅控电子枪的测试方法的计算机程序指令。
49、本技术目的四是提供一种计算机介质，能够存储相应的程序。
50、本技术的上述申请目的四是通过以下技术方案得以实现的：
51、一种计算机可读存储介质，存储有能够被处理器加载并执行上述任一种辐照加速器用栅控电子枪的测试方法的计算机程序。
1.一种辐照加速器用栅控电子枪的测试系统，其特征在于，包括处理器，所述处理器内执行有辐照加速器用栅控电子枪的测试方法，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的一种辐照加速器用栅控电子枪的测试系统，其特征在于，所述基于所述电子枪历史故障信息和所述电子枪历史测试信息确定电子枪的历史故障寿命变化信息和历史寿命性能变化信息包括：
3.根据权利要求2所述的一种辐照加速器用栅控电子枪的测试系统，其特征在于，所述根据所述电子枪历史故障信息和所述电子枪历史测试信息确定故障寿命影响信息和寿命性能影响信息包括：
4.根据权利要求1所述的一种辐照加速器用栅控电子枪的测试系统，其特征在于，所述电子枪性能分析模型包括：
5.一种辐照加速器用栅控电子枪的测试方法的应用系统，其特征在于，包括：
6.根据权利要求5所述的辐照加速器用栅控电子枪的测试方法的应用系统，其特征在于，所述确定模块被进一步配置为：
7.根据权利要求6所述的一种辐照加速器用栅控电子枪的测试方法的应用系统，其特征在于，所述确定模块被进一步配置为：
8.根据权利要求5所述的一种辐照加速器用栅控电子枪的测试方法的应用系统，其特征在于，所述分析模块被进一步配置为，所述电子枪性能分析模型包括：
9.一种终端，其特征在于，包括存储器和处理器，所述存储器上存储有被处理器加载并执行如权利要求1-4中任一种方法的计算机程序指令。
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，存储有被处理器加载并执行如权利要求1-4中任一种方法的计算机程序。
